【技术实现步骤摘要】
一种摄影测量方法、装置及存储介质
本专利技术涉及摄影测量
，尤其涉及一种摄影测量方法、装置及存储介质。
技术介绍
摄影测量是通过相机连续拍摄待测物体的多幅图像，经过图像处理和计算后获得待测物体表面待测点三维坐标的过程。目前在进行摄影测量时，除了需要在待测点粘贴一定数量标志点外，还需要在待测物体表面设置一定数量的编码片标志点，用于实现多幅图像中的同名点匹配，匹配完成后对图像进行处理确定待测点的三维坐标。但是，当测量的待测物体较大时，在待测物体表面设置编码片标志点的工作量很大，费时费力，并且通过编码片标志点解算待测点三维坐标时过程复杂，计算工作量大。
技术实现思路
针对上述现有技术的不足，本专利技术提供一种摄影测量方法、装置及存储介质。本专利技术解决上述技术问题的技术方案如下：第一方面，本专利技术提供了一种摄影测量方法，所述方法包括如下步骤：获取相机连续拍摄的待测物体的多帧图像，所述待测物体表面预设有多个标志点。提取所述图像中与所述标志点对应的像点，确定所述像点在所述图像中的像点坐标，基于过渡匹配的方法，确定任一所述标志点在所有帧所述图像中的所述像点。选取任意一帧所...
【技术保护点】
1.一种摄影测量方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：获取相机连续拍摄的待测物体的多帧图像，所述待测物体表面预设有多个标志点；提取所述图像中与所述标志点对应的像点，确定所述像点在所述图像中的像点坐标，基于过渡匹配的方法，确定任一所述标志点在所有帧所述图像中的所述像点；选取任意一帧所述图像为基准图像，根据所述标志点分别在所述基准图像和其它所述图像中的所述像点坐标确定所述基准图像的投影矩阵；根据所述投影矩阵和所述标志点在所述基准图像中的所述像点坐标确定所述标志点的三维坐标。
【技术特征摘要】
1.一种摄影测量方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：获取相机连续拍摄的待测物体的多帧图像，所述待测物体表面预设有多个标志点；提取所述图像中与所述标志点对应的像点，确定所述像点在所述图像中的像点坐标，基于过渡匹配的方法，确定任一所述标志点在所有帧所述图像中的所述像点；选取任意一帧所述图像为基准图像，根据所述标志点分别在所述基准图像和其它所述图像中的所述像点坐标确定所述基准图像的投影矩阵；根据所述投影矩阵和所述标志点在所述基准图像中的所述像点坐标确定所述标志点的三维坐标。2.根据权利要求1所述的摄影测量方法，其特征在于，所述提取所述图像中与所述标志点对应的像点具体包括如下步骤：通过边界提取的方法提取所有帧所述图像中的所述像点，确定所述像点的初始坐标；对所述初始坐标进行畸变纠正，获得所述像点的所述像点坐标。3.根据权利要求2所述的摄影测量方法，其特征在于，所述确定任一所述标志点在所有所述图像中的所述像点具体包括如下步骤：对于任意一个所述标志点，确定所述标志点在第一帧图像中的第一像点，根据所述第一像点确定所述标志点在与所述第一帧图像相邻的第二帧图像中的第二像点，依次在所有帧所述图像中进行匹配，确定所述标志点在所有帧所述图像中的所述像点。4.根据权利要求1所述的摄影测量方法，其特征在于，在所述根据所述标志点分别在所述基准图像和其它所述图像中的像点坐标确定所述基准图像的投影矩阵的步骤之前，所述方法还包括如下步骤：对多帧所述图像进行两两组合，获得多对像对；比对所述像对的基线的长度与预设阈值，选取所述基线的长度大于所述预设阈值的所述像对为基准像对，其中，所述基线为两帧所述图像的摄影中心的连线。5.根据权利要求4所述的摄影测量方法，其特征在于，所述根据所述标志点分别在所述基准图像和其它所述图像中的像点坐标确定所述基准图像的投影矩阵具体包括如下步骤：选取所述基准像对中的一帧所述图像为所述基准图像，根据所述标志点分别在所述基准像对的两帧所述图像中的所...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑顺义，王晓南，成剑华，朱中尉，
申请(专利权)人：武汉中观自动化科技有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42
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