一种IC版图数据的整理和验证方法技术

技术编号:22295412 阅读:62 留言:0更新日期:2019-10-15 04:34
本发明专利技术公开了一种IC版图数据的整理和验证方法,包括以下步骤:A.编写实现IC版图数据提取和存档的SHELL代码,将多个整理步骤集合为一个代码操作步骤;B.执行步骤A编写的SHELL代码,完成数据整理以及对整理好的数据自动进行验证,并产生包含IC版图系列数据的数据集合以及验证报告;C.查看步骤B得到的数据集合以及验证报告,确认数据整理完成情况。本发明专利技术的方法能简化IC版图数据的整理和验证流程;确保存档的GDS的正确性和完整性;确保存档的相关电路网表和GDS的匹配性;确保数据验证报告的完整性;确保存档数据格式的规范性,便于查找。

A Method of Arrangement and Verification of IC Layout Data

【技术实现步骤摘要】
一种IC版图数据的整理和验证方法
本专利技术涉及集成电路后端设计
,特别涉及一种IC版图数据的整理和验证方法。
技术介绍
现有的GDS,电路网表和calibre验证报告的整理和验证一般都是分步操作,再通过人工整理和存档。这种方法可能存在以下问题:1,操作步骤繁琐;2,只是对设计library中的数据进行了calibre验证,而导出存档的GDS,并没有通过calibre验证;3,由于人为失误,造成存档数据之间不匹配,数据错漏等问题;4.数据存档格式不规范,每个人存档的方式不一样,不易查找。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服上述
技术介绍
中不足,提供一种IC版图数据的整理和验证方法,能简化IC版图数据的整理和验证流程;确保存档的GDS的正确性和完整性;确保存档的相关电路网表和GDS的匹配性;确保数据验证报告的完整性;确保存档数据格式的规范性,便于查找。为了达到上述的技术效果,本专利技术采取以下技术方案:一种IC版图数据的整理和验证方法,包括以下步骤:A.编写实现IC版图数据提取和存档的SHELL代码,将多个整理步骤集合为一个代码操作步骤;B.执行步骤A编写的SHELL代码,完成数据整理以及对整理好的数据自动进行验证,并产生包含IC版图系列数据的数据集合以及验证报告;C.查看步骤B得到的数据集合以及验证报告,确认数据整理完成情况。进一步地,所述步骤A中的多个整理步骤包括以下步骤:S1.建立包含设计库名,顶层CELL名和提取时间的数据目录;S2.提取GDS,并整理GDS文件到数据目录;S3.提取电路网表,并整理电路网表文件到数据目录;S4.运行calibre对步骤S2所提取的GDS进行DRC检查;S5.整理步骤S4产生的DRC报告到数据目录;S6.运行calibre对步骤S2所提取的GDS和步骤S3提取的电路网表进行LVS检查;S7.整理步骤S6产生的LVS报告到数据目录;S8.运行calibre天线检查;S9.整理步骤S8产生的天线检查报告到数据目录。进一步地,所述步骤B中的IC版图系列数据包含以下数据:设计库名,顶层CELL名和提取时间的数据目录;存放GDS的子目录;存放好的GDS数据;存放电路网表的子目录;存放好的电路网表文件;存放DRCrulefile和报告的子目录;存放好的DRCrulefile和DRC报告;存放LVSrulefile和报告的子目录;存放好的LVSrulefile和LVS报告;存放天线的rulefile和报告的子目录;存放好的天线rulefile和报告。进一步地,所述步骤C包括以下步骤:C1.检查数据集合内的数据,判定各数据是否存在问题;C2.若判定数据存在问题,则说明IC版图库的数据还需要修改,相关数据不能存档;C3.若判定数据不存在问题,则说明IC版图库数据正确,所提取的GDS和电路网表匹配,GDS满足设计规则和天线规则,达到存档要求。本专利技术与现有技术相比,具有以下的有益效果:本专利技术的IC版图数据的整理和验证方法,简化IC版图数据的整理和验证流程,确保了存档的GDS的正确性和完整性;确保了存档的相关电路网表和GDS的匹配性;确保数据验证报告的完整性;确保了存档数据格式的规范性,且便于查找。附图说明图1是本专利技术的IC版图数据的整理和验证方法中对IC版图数据提取和存档的流程示意图。图2是本专利技术IC版图数据的整理和验证方法中SHELL命令所执行的操作内容示意图。具体实施方式下面结合本专利技术的实施例对本专利技术作进一步的阐述和说明。实施例:实施例一:一种IC版图数据的整理和验证方法,包括以下步骤:步骤一:编写实现IC版图数据提取和存档的SHELL代码,将多个整理步骤集合为一个代码操作步骤。具体的,本实施例中,如图1及图2所示,在编写的SHELL代码中可具体实现以下操作:S1.建立包含设计库名,顶层CELL名和提取时间的数据目录;S2.提取GDS,并整理GDS文件到数据目录;S3.提取电路网表,并整理电路网表文件到数据目录;S4.运行calibre对步骤S2所提取的GDS进行DRC检查;S5.整理步骤S4产生的DRC报告到数据目录;S6.运行calibre对步骤S2所提取的GDS和步骤S3提取的电路网表进行LVS检查;S7.整理步骤S6产生的LVS报告到数据目录;S8.运行calibre天线检查;S9.整理步骤S8产生的天线检查报告到数据目录。作为优选,本实施例中,编写的可执行上述操作的SHELL脚本的核心代码如下:#!/bin/csh-f#userpathdefine##################setic61dir=$CDS_HOME/tools/dfII/binsetlibdir=$1settopcell=$2setscriptdir=`pwd`setmdate=`date+%Y%m%d`cd..mkdir-p./calibre/drc/$topcell"_run"mkdir-p./calibre/lvs/$topcell"_run"setdrcdir=`pwd`/calibre/drcsetlvsdir=`pwd`/calibre/lvs#userreportfolderdefine#########mkdir-p./LAYOUT_info/"$libdir""($topcell)""$mdate"setreportdir=`pwd`/LAYOUT_info/"$libdir""($topcell)""$mdate"cd./layoutecho"###########getCDL##################"source$scriptdir/LayoutGetCdl.shecho"###########getGDS##################"source$scriptdir/LayoutGetGds.shecho"###########getLEF#################"source$scriptdir/LayoutGetLef.shecho"****************copyreporttoreportdir************"mkdir-p$reportdir/CDL/mv$topcell.cdl$reportdir/CDL/cp$lvsdir/empty_subckt.sp$reportdir/CDL/mkdir-p$reportdir/GDS/mv$topcell.gds$reportdir/GDS/mv$topcell.pipo.log$reportdir/GDS/mkdir-p$reportdir/LEF/mv$topcell.lef$reportdir/LEF/###########removeabstract.log############rm-rf*abstract*#########################################cp$libdir/$topcell/functional/verilog.v$reportdir/$topcell.vecho"******************runDRC,ANT,ESD*******************"cd$drcdir/$topcell"_本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种IC版图数据的整理和验证方法,其特征在于,包括以下步骤:A.编写实现IC版图数据提取和存档的SHELL代码,将多个整理步骤集合为一个代码操作步骤;B.执行步骤A编写的SHELL代码,完成数据整理以及对整理好的数据自动进行验证,并产生包含IC版图系列数据的数据集合以及验证报告;C.查看步骤B得到的数据集合以及验证报告,确认数据整理完成情况。

【技术特征摘要】
1.一种IC版图数据的整理和验证方法,其特征在于,包括以下步骤:A.编写实现IC版图数据提取和存档的SHELL代码,将多个整理步骤集合为一个代码操作步骤;B.执行步骤A编写的SHELL代码,完成数据整理以及对整理好的数据自动进行验证,并产生包含IC版图系列数据的数据集合以及验证报告;C.查看步骤B得到的数据集合以及验证报告,确认数据整理完成情况。2.根据权利要求1所述的一种IC版图数据的整理和验证方法,其特征在于,所述步骤A中的多个整理步骤包括以下步骤:S1.建立包含设计库名,顶层CELL名和提取时间的数据目录;S2.提取GDS,并整理GDS文件到数据目录;S3.提取电路网表,并整理电路网表文件到数据目录;S4.运行calibre对步骤S2所提取的GDS进行DRC检查;S5.整理步骤S4产生的DRC报告到数据目录;S6.运行calibre对步骤S2所提取的GDS和步骤S3提取的电路网表进行LVS检查;S7.整理步骤S6产生的LVS报告到数据目录;S8.运行calibre天线检查;...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈宏冰姜志强余有勇陶磊李小辉
申请(专利权)人:四川长虹电器股份有限公司
类型:发明
国别省市:四川,51

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