一种PCB电路板高低温老化测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种PCB电路板高低温老化测试装置，包括高低温老化测试装置主体、固定板、手把和连接块，所述高低温老化测试装置主体内部设置有固定板，所述固定板之间设置有框架，所述框架上安装有第一挡杆，所述连接块的一侧固定有螺纹杆，所述螺纹杆的一侧内部设置有连接槽，所述连接槽的内部设置有第一挡杆的一端，所述第一挡杆上开设有卡槽，所述卡槽内部设置有第二挡杆。该PCB电路板高低温老化测试装置，设置有滑槽，因为滑槽的开口形状设置，使在对框架进行安装的时候，不需要将框架精准的对准滑槽开口，就可以将框架通过滑槽卡进固定板之间，使框架安装更加的方便，快速，提高固定板对框架安装效率。

A High and Low Temperature Aging Testing Device for PCB Circuit Board

【技术实现步骤摘要】
一种PCB电路板高低温老化测试装置
本技术涉及电路板检测设备
，具体为一种PCB电路板高低温老化测试装置。
技术介绍
集成电路是指将多种元器件安装到电路板上，通过在电路板上焊接各种元气件，形成闭合的电路，然后通过电路板上设置的电路控制连接的电器。电路板在生产出来之后，需要抽取一部分进行检测，通过制定的检测装置，对电路板进行高低温检测，进而取得相关的检测数据，便于大规模生产。目前市场上的PCB电路板高低温老化测试装置虽然种类和数量非常多，但是大多数的PCB电路板高低温老化测试装置有这样的缺点，不方便框架卡进高低温老化测试装置主体的内部，且框架放置到高低温老化测试装置主体内部后，框架容易发生滑动，并且框架上设置的挡杆不方便进行更换，因此要对现在的PCB电路板高低温老化测试装置进行改进。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种PCB电路板高低温老化测试装置，以解决上述
技术介绍
提出的目前市场上的不方便框架卡进高低温老化测试装置主体的内部，且框架放置到高低温老化测试装置主体内部后，框架容易发生滑动，并且框架上设置的挡杆不方便进行更换的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种PCB电路板高低温老化测试装置，包括高低温老化测试装置主体、固定板、手把和连接块，所述高低温老化测试装置主体内部设置有固定板，所述固定板之间设置有框架，所述框架上安装有第一挡杆，其中，所述高低温老化测试装置主体上安装有数控面板，所述高低温老化测试装置主体的侧面设置有铰链，远离铰链的所述高低温老化测试装置主体的侧面设置有隔离盖，所述隔离盖上安装有观察玻璃，所述高低温老化测试装置主体内部外侧安装有密封圈；所述固定板上开设有滑槽，所述滑槽的一侧开设有凹槽，所述固定板的两端开设有螺纹孔，所述滑槽之间设置有框架；所述框架的两端设置有内螺纹孔，所述框架的一侧设置有凸块，所述凸块安装在凹槽的内部，所述手把设置在框架的一端，所述连接块的一侧固定有螺纹杆，所述螺纹杆贯穿手把的两端和框架相连，所述螺纹杆的一侧内部设置有连接槽，所述连接槽的内部设置有第一挡杆的一端，所述第一挡杆上开设有卡槽，所述卡槽内部设置有第二挡杆。优选的，所述固定板上等距离设置有滑槽，所述滑槽的开口为左宽右窄，所述滑槽一侧的中心位置设置有凹槽。优选的，所述框架的一侧均匀开设有内螺纹孔，所述框架和凸块之间为一体机构，所述凸块关于框架的中轴线对称。优选的，所述第一挡杆通过卡槽和第二挡杆之间构成卡合结构，所述第二挡杆的长度和框架的宽度相吻合。优选的，所述连接块和螺纹杆之间为一体结构，所述连接块通过螺纹杆与内螺纹孔和框架之间构成可拆卸结构，优选的，所述连接槽的内部尺寸和第一挡杆的一端半径相吻合，所述第一挡杆通过连接槽和连接块之间构成卡合结构。与现有技术相比，本技术的有益效果是：该PCB电路板高低温老化测试装置：1.设置有滑槽，因为滑槽的开口形状设置，使在对框架进行安装的时候，不需要将框架精准的对准滑槽开口，就可以将框架通过滑槽卡进固定板之间，使框架安装更加的方便，快速，提高固定板对框架安装效率；2.设置有凹槽和凸块，将框架安装到滑槽之间，框架一侧设置的凸块会卡进凹槽的内部，使框架在滑槽上不会轻易的进行滑动，提高了框架的稳定性；3.设置有卡槽、连接块、螺纹杆和连接槽，通过直接将第二挡杆从卡槽中取出，完成对第二挡杆的更换，通过旋转连接块，使连接块一端设置的螺纹杆和内螺纹孔分离，进而使第一挡杆的一端从连接槽内部移出，从而完成对第一挡杆的拆卸，更换新的第一挡杆。附图说明图1为本技术主视结构示意图；图2为本技术固定板结构示意图；图3为本技术框架、第一挡杆和第二挡杆连接结构示意图；图4为本技术连接块结构示意图。图中：1、高低温老化测试装置主体，2、数控面板，3、铰链，4、隔离盖，5、观察玻璃，6、密封圈，7、固定板，8、滑槽，9、凹槽，10、螺纹孔，11、框架，12、内螺纹孔，13、凸块，14、手把，15、第一挡杆，16、卡槽，17、第二挡杆，18、连接块，19、螺纹杆，20、连接槽。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1-4，本技术提供一种技术方案：一种PCB电路板高低温老化测试装置，包括高低温老化测试装置主体1、数控面板2、铰链3、隔离盖4、观察玻璃5、密封圈6、固定板7、滑槽8、凹槽9、螺纹孔10、框架11、内螺纹孔12、凸块13、手把14、第一挡杆15、卡槽16、第二挡杆17、连接块18、螺纹杆19和连接槽20，所述高低温老化测试装置主体1内部设置有固定板7，所述固定板7之间设置有框架11，所述框架11上安装有第一挡杆15，其中，所述高低温老化测试装置主体1上安装有数控面板2，所述高低温老化测试装置主体1的侧面设置有铰链3，远离铰链3的所述高低温老化测试装置主体1的侧面设置有隔离盖4，所述隔离盖4上安装有观察玻璃5，所述高低温老化测试装置主体1内部外侧安装有密封圈6；所述固定板7上开设有滑槽8，固定板7上等距离设置有滑槽8，所述滑槽8的开口为左宽右窄，所述滑槽8一侧的中心位置设置有凹槽9，因为滑槽8的开口形状设置，使在对框架11进行安装的时候，更加的方便，快速，提高固定板7对框架11安装效率，所述滑槽8的一侧开设有凹槽9，所述固定板7的两端开设有螺纹孔10，所述滑槽8之间设置有框架11；所述框架11的两端设置有内螺纹孔12，框架11的一侧均匀开设有内螺纹孔12，所述框架11和凸块13之间为一体机构，所述凸块13关于框架11的中轴线对称，通过内螺纹孔12使框架11和连接块18之间可以进行拆卸安装，且通过凸块13，使框架11安装到滑槽8之间后，凸块13卡进凹槽9的内部，使框架11在滑槽8上不会轻易的进行滑动，提高了框架11的稳定性，所述框架11的一侧设置有凸块13，所述凸块13安装在凹槽9的内部，所述手把14设置在框架11的一端，所述连接块18的一侧固定有螺纹杆19，连接块18和螺纹杆19之间为一体结构，所述连接块18通过螺纹杆19与内螺纹孔12和框架11之间构成可拆卸结构，通过对连接块18进行旋转，使连接块18一端设置的螺纹杆19在内螺纹孔12内部进行旋转，进而使内螺纹孔12和螺纹杆19分离，方便将连接块18从框架11上拆卸下来，所述螺纹杆19贯穿手把14的两端和框架11相连，所述螺纹杆19的一侧内部设置有连接槽20，所述连接槽20的内部设置有第一挡杆15的一端，连接槽20的内部尺寸和第一挡杆15的一端半径相吻合，所述第一挡杆15通过连接槽20和连接块18之间构成卡合结构，通过将框架11的一侧全部安装连接块18，将连接块18调节到位后，将第一挡杆15的一端卡进连接槽20的内部，然后通过旋转安装另一侧的连接块18，使第一挡杆15的另一端也卡进连接槽20的内部，完成对第一挡杆15的安装，所述第一挡杆15上开设有卡槽16，第一挡杆15通过卡槽16和第二挡杆17之间构成卡合结构，所述第二挡杆本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种PCB电路板高低温老化测试装置，包括高低温老化测试装置主体（1）、固定板（7）、手把（14）和连接块（18），其特征在于：所述高低温老化测试装置主体（1）内部设置有固定板（7），所述固定板（7）之间设置有框架（11），所述框架（11）上安装有第一挡杆（15），其中，所述高低温老化测试装置主体（1）上安装有数控面板（2），所述高低温老化测试装置主体（1）的侧面设置有铰链（3），远离铰链（3）的所述高低温老化测试装置主体（1）的侧面设置有隔离盖（4），所述隔离盖（4）上安装有观察玻璃（5），所述高低温老化测试装置主体（1）内部外侧安装有密封圈（6）；所述固定板（7）上开设有滑槽（8），所述滑槽（8）的一侧开设有凹槽（9），所述固定板（7）的两端开设有螺纹孔（10），所述滑槽（8）之间设置有框架（11）；所述框架（11）的两端设置有内螺纹孔（12），所述框架（11）的一侧设置有凸块（13），所述凸块（13）安装在凹槽（9）的内部，所述手把（14）设置在框架（11）的一端，所述连接块（18）的一侧固定有螺纹杆（19），所述螺纹杆（19）贯穿手把（14）的两端和框架（11）相连，所述螺纹杆（19）的一侧内部设置有连接槽（20），所述连接槽（20）的内部设置有第一挡杆（15）的一端，所述第一挡杆（15）上开设有卡槽（16），所述卡槽（16）内部设置有第二挡杆（17）。...

【技术特征摘要】
1.一种PCB电路板高低温老化测试装置，包括高低温老化测试装置主体（1）、固定板（7）、手把（14）和连接块（18），其特征在于：所述高低温老化测试装置主体（1）内部设置有固定板（7），所述固定板（7）之间设置有框架（11），所述框架（11）上安装有第一挡杆（15），其中，所述高低温老化测试装置主体（1）上安装有数控面板（2），所述高低温老化测试装置主体（1）的侧面设置有铰链（3），远离铰链（3）的所述高低温老化测试装置主体（1）的侧面设置有隔离盖（4），所述隔离盖（4）上安装有观察玻璃（5），所述高低温老化测试装置主体（1）内部外侧安装有密封圈（6）；所述固定板（7）上开设有滑槽（8），所述滑槽（8）的一侧开设有凹槽（9），所述固定板（7）的两端开设有螺纹孔（10），所述滑槽（8）之间设置有框架（11）；所述框架（11）的两端设置有内螺纹孔（12），所述框架（11）的一侧设置有凸块（13），所述凸块（13）安装在凹槽（9）的内部，所述手把（14）设置在框架（11）的一端，所述连接块（18）的一侧固定有螺纹杆（19），所述螺纹杆（19）贯穿手把（14）的两端和框架（11）相连，所述螺纹杆（19）的一侧内部设置有连接槽（20），所述连接槽（20）的内部设置有第一挡杆（15）的一端，所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭明波，董浩，
申请(专利权)人：苏州工业园区宜爱微测试科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32