一种UFS存储设备中UFS芯片健康度的度量方法及系统技术方案

技术编号:22103419 阅读:38 留言:0更新日期:2019-09-14 03:50
本发明专利技术公开了一种UFS存储设备中UFS芯片健康度的度量方法及系统,属于存储技术领域,包括:(1)向待测UFS存储设备中写入预定数据量的数据;(2)根据待测UFS存储设备在写入数据前、后的属性参数获得用于表征其中UFS芯片的可用容量的第一特征参数,以及用于表征UFS芯片的磨损程度的第二特征参数;(3)以第一特征参数和第二特征参数为输入信息,利用预先定义的度量模型对UFS芯片的健康度进行度量;其中,度量模型用于根据表征UFS芯片的可用容量和磨损程度的参数度量该UFS芯片的健康度,其度量结果与UFS芯片的可用容量正相关且与UFS芯片的磨损程度反相关。本发明专利技术能够实时、准确地度量UFS存储设备中UFS芯片的健康度,为UFS存储设备的数据安全性提供可靠的支持。

A Method and System for Measuring the Health of UFS Chips in UFS Storage Devices

【技术实现步骤摘要】
一种UFS存储设备中UFS芯片健康度的度量方法及系统
本专利技术属于存储
,更具体地,涉及一种UFS存储设备中UFS芯片健康度的度量方法及系统。
技术介绍
UFS(UniversalFlashStorage,通用闪存存储)是新一代嵌入式闪存技术,它既代表一种存储标准,也表示一类使用该存储标准的存储设备。相比传统磁盘,UFS存储设备具有高性能、低能耗、抗震动和尺寸小等优点,在手机、平板等嵌入式设备中有着明显优势和广泛应用。UFS存储设备利用UFS芯片存储数据,UFS芯片的主要存储介质是NandFlash,NandFlash存在有限的P/E次数(可编程/擦除次数)。UFS芯片会随着使用被不断的磨损,磨损到一定程度后,UFS芯片将发生故障或失效,此时将导致整个UFS存储设备不可用,甚至会导致数据丢失等严重后果。因此,实时监测UFS芯片的健康状况有着极其重要的意义。使用健康度可以对UFS芯片的健康状况进行量化表示,在UFS芯片的使用过程中,其健康度会不断下降,其性能表现也会因此受到影响。实时、准确地度量UFS芯片的健康度,对于UFS芯片的寿命预测、强弱分级以及提高数据存储安全性等有着重本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种UFS存储设备中UFS芯片健康度的度量方法,其特征在于,包括:(1)向待测UFS存储设备中写入预定数据量的数据;(2)根据所述待测UFS存储设备在写入数据前、后的属性参数获得用于表征其中UFS芯片的可用容量的第一特征参数,以及用于表征所述UFS芯片的磨损程度的第二特征参数;(3)以所述第一特征参数和第二特征参数为输入信息,利用预先定义的度量模型对所述UFS芯片的健康度进行度量,以得到所述待测UFS存储设备中UFS芯片当前的健康度值;其中,所述度量模型用于根据表征UFS芯片的可用容量和磨损程度的参数度量该UFS芯片的健康度,其度量结果与UFS芯片的可用容量正相关,且与UFS芯片的磨损程度...

【技术特征摘要】
1.一种UFS存储设备中UFS芯片健康度的度量方法,其特征在于,包括:(1)向待测UFS存储设备中写入预定数据量的数据;(2)根据所述待测UFS存储设备在写入数据前、后的属性参数获得用于表征其中UFS芯片的可用容量的第一特征参数,以及用于表征所述UFS芯片的磨损程度的第二特征参数;(3)以所述第一特征参数和第二特征参数为输入信息,利用预先定义的度量模型对所述UFS芯片的健康度进行度量,以得到所述待测UFS存储设备中UFS芯片当前的健康度值;其中,所述度量模型用于根据表征UFS芯片的可用容量和磨损程度的参数度量该UFS芯片的健康度,其度量结果与UFS芯片的可用容量正相关,且与UFS芯片的磨损程度反相关。2.如权利要求1所述的UFS存储设备中UFS芯片健康度的度量方法,其特征在于,所述步骤(1)中,写入的数据覆盖到所述待测UFS存储设备的所有块。3.如权利要求1或2所述的UFS存储设备中UFS芯片健康度的度量方法,其特征在于,所述第一特征参数为写入数据后所述待测UFS存储设备的可用块数;所述第二特征参数为写入数据后所述待测UFS存储设备的原始误码率,与写入数据前所述待测UFS存储设备的原始误码率之差。4.如权利要求1或2所述的UFS存储设备中UFS芯片健康度的度量方法,其特征在于,所述度量模型为:其中,F1和F2分别表示所述第一特征参数和所述第二特征参数,Health表示对应的UFS芯片健康度值。5.如权利要求1或2所述的UFS存储设备中UFS芯片健康度的度量方法,其特征在于,还包括:若度量得到的UFS芯片的健康度值Health<HTh,则判定所述待...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴非李进翁阳王顺卓谢长生
申请(专利权)人:华中科技大学
类型:发明
国别省市:湖北,42

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