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本发明公开了一种UFS存储设备中UFS芯片健康度的度量方法及系统，属于存储技术领域，包括：(1)向待测UFS存储设备中写入预定数据量的数据；(2)根据待测UFS存储设备在写入数据前、后的属性参数获得用于表征其中UFS芯片的可用容量的第一特征...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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