一种氧化铝中杂质元素的测定方法技术

本发明专利技术属于金属检测分析技术领域，具体涉及一种氧化铝中杂质元素的测定方法，本方法主要采用无水碳酸钾和硼酸熔解样品，不同于已有的有色行业标准YS/T630.‑2007《氧化铝杂质含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法》,本发明专利技术采用碳酸钾‑硼酸熔样的熔样方法，进行样品的熔解，然后用电感耦合等离子发射光谱法来测定氧化铝中的铁、钠、钙、硅、锂等含量，方法简单，可用于氧化铝中杂质元素的测定。

A Method for Determining Impurity Elements in Alumina

【技术实现步骤摘要】
一种氧化铝中杂质元素的测定方法
本专利技术属于金属检测分析
，具体涉及一种氧化铝中杂质元素的测定方法。
技术介绍
铝电解用氧化铝中杂质元素的测定，除传统的化学分析方法外，近年来又制定了荧光光谱分析的方法和电感耦合等离子发射光谱法，其中电感耦合等离子发射光谱法，主要借用微波消解的方法来进行样品处理，因微波消解仪规格不同，则需重新寻找样品溶解的条件，且微波消解法因存在较大安全，同时在工业生产中，当样品量较大时,受限于消解仪消解罐及消解时间,效率较低。近年来国产氧化铝中的锂含量在电解生产中出现富集，企业越来越重视锂含量控制。
技术实现思路
针对上述现有技术中存在的问题及不足，本专利技术提供一种氧化铝中杂质元素的测定方法。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种氧化铝中杂质元素的测定方法，该方法是分别配制铝基体标准溶液、铁标准溶液、硅标准溶液、钠标准溶液、钙标准溶液和锂标准溶液，将该铝基体标准溶液、铁标准溶液、硅标准溶液、钠标准溶液、钙标准溶液和锂标准溶液制成系列标准溶液，绘制该系列标准溶液的工作曲线，溶解氧化铝试样，得到溶入该试样的溶液，测定该试样溶液，然后，通过不同元素的原子在本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种氧化铝中杂质元素的测定方法，其特征在于，分别配制铝基体标准溶液、铁标准溶液、硅标准溶液、钠标准溶液、钙标准溶液和锂标准溶液，将该铝基体标准溶液、铁标准溶液、硅标准溶液、钠标准溶液、钙标准溶液和锂标准溶液制成系列标准溶液，绘制该系列标准溶液的工作曲线，溶解氧化铝试样，得到溶入该试样的溶液，测定该试样溶液，然后，通过不同元素的原子在激发或电离时，发射出的特征谱线的强弱，来测定对应元素的含量。

【技术特征摘要】
1.一种氧化铝中杂质元素的测定方法，其特征在于，分别配制铝基体标准溶液、铁标准溶液、硅标准溶液、钠标准溶液、钙标准溶液和锂标准溶液，将该铝基体标准溶液、铁标准溶液、硅标准溶液、钠标准溶液、钙标准溶液和锂标准溶液制成系列标准溶液，绘制该系列标准溶液的工作曲线，溶解氧化铝试样，得到溶入该试样的溶液，测定该试样溶液，然后，通过不同元素的原子在激发或电离时，发射出的特征谱线的强弱，来测定对应元素的含量。2.如权利要求1所述的一种氧化铝中杂质元素的测定方法，其特征在于，所述测定方法按照下述步骤进行：步骤1：称取5.2873g高纯铝，加入体积比1:1硝酸溶液400ml溶解，最后定容到500ml容量瓶，得20mg/ml的铝基体溶液；称取0.864克硫酸铁铵，溶于水，加10毫升25%硫酸溶液,移入1000毫升容量瓶中，稀释至刻度，得0.1mg/ml的铁标准溶液；称取0.1000克硅，置于铂金坩埚中，加3.5000克无水碳酸钾，混合均匀，于1000度加热至完全熔融，冷却，溶于水，移入1000毫升容量瓶中，稀释至刻度，得0.1mg/ml的硅标准溶液；称取0.2540克灼烧至恒重的氯化钠，溶于水，移入1000毫升容量瓶中，稀释至刻度，得0.1mg/ml的钠标准溶液；称取0.367克二水合氯化钙，溶于水，移入1000毫升容量瓶中，稀释至刻度，得0.1mg/ml的钙标准溶液；称取0.5323g碳酸锂，加水150ml，缓慢加入体积比1:3硝酸溶液至碳酸锂溶解完全，煮沸除去二氧化碳，冷却后移人1000mI容量瓶，用水稀释至刻度，摇匀，得0.1mg/ml的锂标准溶液；步骤2：称取硼酸0.8000g、碳酸钾1.5000g...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨建伟，张竸文，
申请(专利权)人：甘肃东兴铝业有限公司，
类型：发明
国别省市：甘肃,62