一种漏磁检测缺陷三维量化方法技术

本发明专利技术公开了一种漏磁场检测缺陷三维量化方法，用以解决现有技术中漏磁检测技术实现方法复杂，精度较低的技术问题。包括以下步骤：S1：对待测材料进行人工磁化，采集其漏磁场信号{B}；S2：采用磁荷分布重构算法，对待测材料内部的磁荷分布进行反演，得到待测材料无缺陷区域的磁荷密度；S3：以待测材料无缺陷区域的磁荷密度作为常数，并截取待测材料缺陷区域的漏磁场信号，反演迭代重构缺陷区域的缺陷深度，获得待测材料缺陷区域的三维图像；与现有技术相比，本发明专利技术简化了步骤，提高了精度，节约了能源。

A Three-Dimensional Quantization Method for Defects in Magnetic Leakage Detection

【技术实现步骤摘要】
一种漏磁检测缺陷三维量化方法
本专利技术属于材料缺陷检测
，尤其涉及一种漏磁检测缺陷三维量化方法。
技术介绍
漏磁检测(MagneticFluxLeakage，MFL)具有在线识别缺陷能力强、对检测表面无严格清洁度要求、穿透深度大、设备构造简单、操作简便、检测速度快、可在复杂环境下工作等优点，是目前无损检测的主要方法之一，被广泛应用于能源油气管道、储油罐底、交通铁轨、大型重型装备关键构件中缺陷的无损检测，对保障设备安全、降低事故发生率，减小生命、财产损失，保护生态环境等有重要意义。现有的漏磁检测技术主要适用于对铁磁构件中缺陷的有无和位置进行查找，能够对缺陷深度进行量化的方法，实验采集漏磁信号时，需要先对无缺陷试件饱和磁化，然后进行采集，实现的方法较为复杂，且精度较低。
技术实现思路
为解决现有技术中漏磁检测技术实现方法复杂，精度较低的技术问题，本专利技术提供一种漏磁检测缺陷三维量化方法。为解决上述技术问题，本专利技术提供一种漏磁检测缺陷三维量化方法，包括以下步骤：S1：对待测材料进行人工磁化，采集其漏磁场信号{B}；S2：采用磁荷分布重构算法，对待测材料内部的磁荷分布进行反演，得到本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种漏磁检测缺陷三维量化方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：对待测材料进行人工磁化，采集其漏磁场信号{B}；S2：采用磁荷分布重构算法，对待测材料内部的磁荷分布进行反演，得到待测材料无缺陷区域的磁荷密度；S3：以待测材料无缺陷区域的磁荷密度作为常数，并截取待测材料缺陷区域的漏磁场信号，反演迭代重构缺陷区域的缺陷深度，获得待测材料缺陷区域的三维图像；其中，步骤S3具体过程为：S31：根据磁荷分布理论，已知待测材料无缺陷区域的磁荷密度的前提下，待测材料缺陷区域某点处的漏磁场信号为

【技术特征摘要】
1.一种漏磁检测缺陷三维量化方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：对待测材料进行人工磁化，采集其漏磁场信号{B}；S2：采用磁荷分布重构算法，对待测材料内部的磁荷分布进行反演，得到待测材料无缺陷区域的磁荷密度；S3：以待测材料无缺陷区域的磁荷密度作为常数，并截取待测材料缺陷区域的漏磁场信号，反演迭代重构缺陷区域的缺陷深度，获得待测材料缺陷区域的三维图像；其中，步骤S3具体过程为：S31：根据磁荷分布理论，已知待测材料无缺陷区域的磁荷密度的前提下，待测材料缺陷区域某点处的漏磁场信号为其中，μ0为磁导率，v为源点处的有限单元体积，ρ为待测材料无缺陷区域的磁荷密度，h为场点和源点z坐标的差值，xj、xi、yj、yi分别为场点rj和源点的x、y坐标，di为场点rj处的缺陷深度值；S32：以h作为缺陷深度场{d}的迭代初始值，则S33：根据步骤S32，构建漏磁场信号{B}与缺陷深度场{d}的关联关系及深度场系数矩阵kd(i...

【专利技术属性】
技术研发人员：李红梅，黄冉冉，闫佳，
申请(专利权)人：北方民族大学，
类型：发明
国别省市：宁夏,64