【技术实现步骤摘要】
一种表面进行抗氧化保护的铜颗粒、低温烧结铜膏及使用其的烧结工艺
本专利技术涉及一种特别是用于半导体封装材料领域的、表面进行抗氧化保护的铜颗粒、低温烧结铜膏及使用其的烧结工艺。
技术介绍
新一代的用于电车、航空、和其他工业的功率模组需要高功率和高服役温度。在过去10年证明了宽禁带半导体可以耐300℃以上的高运行温度。然而,传统封装材料,比如锡基的焊料和导电胶,限制在200℃以下工作。研究人员一直在寻找各种办法获得高温和高功率情况下的高可靠性。在过去的探索中,人们发现银或者铜的烧结是有前景的方法。出于成本的考虑,烧结铜是代替银烧结的一个近几年一直在尝试的技术。但是烧结铜的相对高的烧结温度还在困扰着半导体封装业界。与银相比,铜虽然具有较高表面能,但其较易氧化,从而表面生成难溶且较低表面能的氧化物。目前,铜表面的氧化是阻碍烧结温度降低的主要原因之一(非专利文献1-3),而且,随着铜颗粒尺寸的进一步降低,铜表面能增加,金属原子互融机会增大,但氧化倾向更为加剧,所以,通过减少铜表面氧化从而降低铜颗粒烧结温度是很有必要的。现有技术文献非专利文献1:JangE-J,HyunS,L ...
【技术保护点】
1.一种表面经抗氧化保护的铜颗粒,其中,在该铜颗粒表面形成有机可焊接保护剂OSP的膜,该OSP的膜按OSP膜的整体质量计含有约3.0‑8.0质量%的二苯基对苯二胺(DPPD)。
【技术特征摘要】
1.一种表面经抗氧化保护的铜颗粒,其中,在该铜颗粒表面形成有机可焊接保护剂OSP的膜,该OSP的膜按OSP膜的整体质量计含有约3.0-8.0质量%的二苯基对苯二胺(DPPD)。2.权利要求1所述的铜颗粒,其中,有机可焊接保护剂为苯并三氮唑、咪唑、苯并咪唑中的至少一种。3.权利要求1或2所述的铜颗粒,其中,有机可焊接保护剂不含硫元素和卤素元素。4.权利要求1至3中任一项所述的铜颗粒,其中,该有机可焊接保护剂的成膜厚度为1-100nm。5.一种低温烧结铜膏,其由通过权利要求1至4的任一项所述的铜颗粒、高链接树脂、助焊剂以...
【专利技术属性】
技术研发人员:张卫红,刘旭,敖日格力,叶怀宇,张国旗,
申请(专利权)人:深圳第三代半导体研究院,
类型:发明
国别省市:广东,44
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