【技术实现步骤摘要】
基于FPGA芯片的通用I/O测试装置
本技术涉及I/O测试技术，具体涉及一种基于FPGA芯片的通用I/O测试装置。
技术介绍
设备间或模块间可选择的通信接口正在向总线化和高速化发展，通用的I/O接口由于其实现简单、方便快捷，可以满足特定信息传输的需求，仍具有较强的生命力。I/O测试需要外部输入某种特定电压、特定脉宽和频率的信号波形，在研制阶段通常采用信号发生器来实现，但是批产后，由于信号发生器价格昂贵，路数少，且设置繁琐，设置错误又会引起产品质量问题，使用信号发生器进行I/O测试的弊端就突显出来。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种基于FPGA芯片的通用I/O测试装置，以提高I/O测试效率，消除传统信号发生器测试成本高、测试路数有限、设置繁琐和设置错误后引起产品质量问题的缺陷。实现本技术目的的技术解决方案为：一种基于FPGA芯片的通用I/O测试装置，包括FPGA芯片、拨码开关、电平转换电路和DB15公头；所述拨码开关、电平转换电路与FPGA芯片连接，DB15公头与电平转换电路连接；拨码开关用于选择FPGA芯片I/O信号的频率和脉宽，并产生电平控制信号，电平转换电路实现电平转换，DB15公头为对外通信接口。与现有技术相比，本技术的有益效果为：(1)可适用更广泛的I/O信号测试；(2)可低成本的建立I/O测试环境；(3)可同时进行多通道的I/O测试，提高I/O测试效率。下面结合附图对本技术作进一步详细的描述。附图说明图1为本技术的基于FPGA芯片的通用I/O测试装置的原理框图。图2为电平转换的电路图。具体实施方式如图1所示，一种基于FPGA芯片的通用I/O测试装置...
【技术保护点】
1.一种基于FPGA芯片的通用I/O测试装置，其特征在于，包括FPGA芯片、拨码开关、电平转换电路和DB15公头；所述拨码开关、电平转换电路与FPGA芯片连接，DB15公头与电平转换电路连接；拨码开关用于选择FPGA芯片I/O信号的频率和脉宽，并产生电平控制信号，电平转换电路实现电平转换，DB15公头为对外通信接口。
【技术特征摘要】
1.一种基于FPGA芯片的通用I/O测试装置，其特征在于，包括FPGA芯片、拨码开关、电平转换电路和DB15公头；所述拨码开关、电平转换电路与FPGA芯片连接，DB15公头与电平转换电路连接；拨码开关用于选择FPGA芯片I/O信号的频率和脉宽，并产生电平控制信号，电平转换电路实现电平转换，DB15公头为对外通信接口。2.根据权利要求1所述的基于FPGA芯片的通用I/O测试装置，其特征在于，电平转换电路实现3.3V、5V、12V和24V电平选择。3.根据权利要求2所述的基于FPGA芯片的通用I/O测试装置，其特征在于，电平转换电路包括光耦、次级电路和继电器，I/O信号通过光耦传输至次级电路，电平控...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴彬，王永超，张兴堂，夏朋浩，张吉远，孙成宽，王文俊，
申请(专利权)人：中国船舶重工集团公司第七一六研究所，
类型：新型
国别省市：江苏,32
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