一种表面异物缺陷快速过滤方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种表面异物缺陷快速过滤方法及系统，涉及自动化缺陷检测技术领域；该方法包括以下步骤：S1：获取点亮后的背光源组件的第一图像，对所述第一图像进行异物检测；S2：对所述背光源组件的表面异物进行清洁；S3：获取清洁后的背光源组件的第二图像，对所述第二图像进行缺陷检测；S4：将第一图像和第二图像的检测结果进行比对，保留同时存在于第一图像和第二图像上且位置相同的膜内异物缺陷信息，滤除表面异物缺陷信息；本发明专利技术通过对第一图像和第二图像的异物检测结果进行比对，能够准确区分表面异物和膜内异物，并快速准确的对表面异物进行过滤，从而节省了人工复判的时间，提高了AOI检测效率。

A Fast Filtering Method and System for Surface Foreign Matter Defects

【技术实现步骤摘要】
一种表面异物缺陷快速过滤方法及系统
本专利技术属于自动化缺陷检测
，更具体地，涉及一种表面异物缺陷快速过滤方法及系统，主要用于基于AOI的背光源组件缺陷检测。
技术介绍
使用自动光学检测(AutomatedOpticalInspection，AOI)对背光源组件(BackLightUnit，BLU)进行缺陷检测时，表面灰尘的去除和检出是一个非常重要的环节，直接影响到缺陷检测的准确性和效率；背光的异物类缺陷分为表面异物和膜内异物，受制于产线无绝对的无尘环境的影响，通常情况下，背光在流片过程中会不断落入灰尘，故表面异物在AOI检测环节无需检测出来，仅对表面异物进行清洁，然后取像检测，在背光打包的前一个环节进行最后的表面异物清洁即可。图1所示是目前进行背光检测的流程：作业员首先将背光放置在治具中，清洁滚轮进行表面异物清洁；然后点亮背光进行取像检测，根据检测结果进行复判：若有缺陷则进行缺陷标记后传递给维修组；若无缺陷则将背光放置回产线继续进行下一个环节；当前背光检测过程中存在一个普遍的问题就是清洁滚轮的清洁效果不佳，有些特殊背光膜材上表面异物清洁率不到50％，在进行取像检测时，AOI会将表面异物和膜内异物都检出，而AOI无法通过一张图像区分出表面异物和膜内异物，故表面异物通常情况下也会被AOI检出，从而增加人员复判的时间，降低AOI检测效率以及产线的生成效率，从而影响产能。随着BLU的发展趋势，未来对产能要求会越来越高，背光厂商为了保证产线的正常运行，对AOI检测时间有严格的要求，且要尽可能减少不必要的检测时间，因此必须需要寻求一种背光检测过程中的表面异物快速过滤的方法以提高生产效率，从而适应蓬勃发展的行业要求。
技术实现思路
针对现有技术的至少一个缺陷或改进需求，本专利技术提供了一种表面异物缺陷快速过滤方法及系统，根据表面异物在清洁滚轮作用后可移动的特性，分别在滚轮作用前后采集两幅图像，找出两幅图像上表面异物的坐标并进行比对，将两幅图像上相同位置的缺陷进行保留并输出，过滤不同位置的缺陷，以达到表面异物快速过滤的效果，其目的在于解决现有的背光检测过程易将表面异物检出，增加人员复判的时间，降低AOI检测效率以及产线的生产效率的问题。为实现上述目的，按照本专利技术的一个方面，提供了一种表面异物缺陷快速过滤方法，包括以下步骤：S1：获取点亮后的背光源组件的第一图像，对所述第一图像进行异物检测；S2：对所述背光源组件的表面异物进行清洁；S3：获取清洁后的背光源组件的第二图像，对所述第二图像进行缺陷检测；S4：将第一图像和第二图像的检测结果进行比对，保留同时存在于第一图像和第二图像上且位置相同的膜内异物缺陷信息，滤除表面异物缺陷信息。优选的，上述表面异物缺陷快速过滤方法，其第一图像的异物检测结果存储在第一缺陷列表中，所述第一缺陷列表包括第一图像中的异物缺陷的坐标信息；该异物缺陷包括表面异物和膜内异物；所述第二图像的缺陷检测结果存储在第二缺陷列表中，所述第二缺陷列表包括第二图像中的全部缺陷的坐标信息；该全部缺陷包括异物缺陷和非异物缺陷。优选的，上述表面异物缺陷快速过滤方法，其步骤S3之后还包括：根据所述第一缺陷列表和第二缺陷列表对背光源组件的缺陷情况进行判断；具体的：当所述第一缺陷列表为空时，无需进行比对，直接输出第二缺陷列表的缺陷检测结果；当所述第二缺陷列表为空时，无需进行比对，判定该背光源组件无缺陷。优选的，上述表面异物缺陷快速过滤方法，其步骤S4中，所述第一图像和第二图像的比对结果存储在第三缺陷列表中，所述第三缺陷列表包括同时存在于第一图像和第二图像上且位置相同的膜内异物缺陷的坐标信息，以及第二图像上的非异物缺陷的坐标信息。优选的，上述表面异物缺陷快速过滤方法，步骤S4之后还包括：S5：根据所述第三缺陷列表对背光源组件的缺陷情况进行判断；当所述第三缺陷列表为空时，判定该背光源组件无缺陷；否则，判定该背光源组件存在缺陷。按照本专利技术的另一个方面，还提供了一种表面异物缺陷快速过滤系统，包括CCD相机和清洁滚轮；所述CCD相机用于采集背光源组件的表面图像；所述清洁滚轮用于对背光源组件的表面异物进行清洁；还包括处理器、存储器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器中运行的计算机程序，所述计算机程序被执行时控制所述清洁滚轮和CCD相机实现上述任一项方法的步骤。优选的，上述表面异物缺陷快速过滤系统，其处理器包括图像检测单元、滚轮控制单元和比较单元；所述图像检测单元用于获取CCD相机采集的点亮后的背光源组件的第一图像并对所述第一图像进行异物检测；并用于对CCD相机采集的清洁后的背光源组件的第二图像进行缺陷检测；所述滚轮控制单元用于在CCD相机采集所述第一图像之后发出控制指令，所述控制指令用于触发清洁滚轮转动以对背光源组件的表面异物进行清洁；所述比较单元用于将第一图像和第二图像的检测结果进行比对，保留同时存在于第一图像和第二图像上且位置相同的膜内异物缺陷信息，滤除表面异物缺陷信息。优选的，上述表面异物缺陷快速过滤系统，其第一图像的异物检测结果存储在第一缺陷列表中，所述第一缺陷列表包括第一图像中的异物缺陷的坐标信息；该异物缺陷包括表面异物和膜内异物；所述第二图像的缺陷检测结果存储在第二缺陷列表中，所述第二缺陷列表包括第二图像中的全部缺陷的坐标信息；该全部缺陷包括异物缺陷和非异物缺陷。优选的，上述表面异物缺陷快速过滤系统，其处理器还包括第一判断单元；所述第一判断单元用于根据所述第一缺陷列表和第二缺陷列表对背光源组件的缺陷情况进行判断；具体的：当所述第一缺陷列表为空时，无需进行比对，直接输出第二缺陷列表中的缺陷检测结果；当所述第二缺陷列表为空时，无需进行比对，判定该背光源组件无缺陷。优选的，上述表面异物缺陷快速过滤系统，其处理器还包括第二判断单元；所述第二判断单元用于根据第三缺陷列表中存储的比对结果对背光源组件的缺陷情况进行判断：当所述第三缺陷列表为空时，判定该背光源组件无缺陷；否则，判定该背光源组件存在缺陷。总体而言，通过本专利技术所构思的以上技术方案与现有技术相比，能够取得下列有益效果：(1)本专利技术提供的表面异物缺陷快速过滤方法及系统，在清洁滚轮动作前取背光的第一图像进行异物检出，滚轮动作后取第二图像进行缺陷检出，通过第一图像和第二图像的异物检测结果比对，能够准确区分表面异物和膜内异物，并快速准确的对表面异物进行过滤，从而节省了人工复判的时间，提高了AOI检测效率以及产线的生产效率；(2)本专利技术提供的表面异物缺陷快速过滤方法及系统，对第二图像进行缺陷检测时，检测结果可能包括异物缺陷和非异物缺陷；而比对时只取第二图像中的异物缺陷与第一图像的异物检测结果进行比对过滤，对于第二图像中的非异物缺陷不进行比对；从而精简过滤流程，减少过滤次数，缩短检测时间；(3)本专利技术提供的表面异物缺陷快速过滤方法及系统，适用于绝大部分AOI背光检测，具有检测速度快、稳定性高的优点。附图说明图1是现有技术中进行背光检测的流程图；图2是本专利技术实施例提供的表面异物缺陷快速过滤方法的流程图；图3是本专利技术实施例提供的异物检测结果的比对过程示意图；图4是本专利技术实施例提供的SOPC芯片的逻辑框图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种表面异物缺陷快速过滤方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：获取点亮后的背光源组件的第一图像，对所述第一图像进行异物检测；S2：对所述背光源组件的表面异物进行清洁；S3：获取清洁后的背光源组件的第二图像，对所述第二图像进行缺陷检测；S4：将第一图像和第二图像的检测结果进行比对，保留同时存在于第一图像和第二图像上且位置相同的膜内异物缺陷信息，滤除表面异物缺陷信息。

【技术特征摘要】
1.一种表面异物缺陷快速过滤方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：获取点亮后的背光源组件的第一图像，对所述第一图像进行异物检测；S2：对所述背光源组件的表面异物进行清洁；S3：获取清洁后的背光源组件的第二图像，对所述第二图像进行缺陷检测；S4：将第一图像和第二图像的检测结果进行比对，保留同时存在于第一图像和第二图像上且位置相同的膜内异物缺陷信息，滤除表面异物缺陷信息。2.如权利要求1所述的表面异物缺陷快速过滤方法，其特征在于，所述第一图像的异物检测结果存储在第一缺陷列表中，所述第一缺陷列表包括第一图像中的异物缺陷的坐标信息；该异物缺陷包括表面异物和膜内异物缺陷；所述第二图像的缺陷检测结果存储在第二缺陷列表中，所述第二缺陷列表包括第二图像中的全部缺陷的坐标信息；该全部缺陷包括异物缺陷和非异物缺陷。3.如权利要求2所述的表面异物缺陷快速过滤方法，其特征在于，步骤S3之后还包括：根据所述第一缺陷列表和第二缺陷列表对背光源组件的缺陷情况进行判断；具体的：当所述第一缺陷列表为空时，无需进行比对，直接输出第二缺陷列表的缺陷检测结果；当所述第二缺陷列表为空时，无需进行比对，判定该背光源组件无缺陷。4.如权利要求1或3所述的表面异物缺陷快速过滤方法，其特征在于，步骤S4中，所述第一图像和第二图像的比对结果存储在第三缺陷列表中，所述第三缺陷列表包括同时存在于第一图像和第二图像上且位置相同的膜内异物缺陷的坐标信息，以及第二图像上的非异物缺陷的坐标信息。5.如权利要求4所述的表面异物缺陷快速过滤方法，其特征在于，还包括：S5：根据所述第三缺陷列表对背光源组件的缺陷情况进行判断；当所述第三缺陷列表为空时，判定该背光源组件无缺陷；否则，判定该背光源组件存在缺陷。6.一种表面异物缺陷快速过滤系统，包括CCD相机和清洁滚轮；所述CCD相机用于采集背光源组件的表面图像；所述清洁滚轮用于对背光源组件的表面异物进行清洁；其特征在于，还包括处...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈武，宫强，张胜森，郑增强，
申请(专利权)人：武汉精立电子技术有限公司，武汉精测电子集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42