一种用于标准孔径的测头制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于标准孔径的测头，旨在提供一种能够自由收缩触点的测头，其技术方案要点是在测量时，气推传感器充气，使传感器触点顶住顶针，顶针顶住第四通孔，使弹性套端部向外扩张，从而使安装座和触点向测头本体外伸出，触点抵触被侧体内表面，测量孔径的大小；测出孔径后，气推传感器放气，传感器触点收缩，顶针由于弹性套的弹性力，收缩到初始位置，从而使安装座和触点复位，完成测量。此结构能够测量较小的深孔内径，结构简单，成本较低；标准孔径测头的触点能够自由收缩，避免了高硬度触点对被测量工件表面的划伤；减少了在非数据采集状态下，触点长时间接触被测量工件表面，减少了触点的磨损，延长测头使用寿命。

A probe for standard aperture

【技术实现步骤摘要】
一种用于标准孔径的测头
本技术属于检测领域，尤其涉及一种用于标准孔径的测头。
技术介绍
对于孔的直径的测量，有直接测量、间接测量和综合测量等测量方法。孔径测量是长度计量技术的主要内容之一。目前，公开号为CN201215468Y的中国专利公开了一种塞规头孔径测量机构，包括导向套底端两侧开设有安装孔，在安装孔内滑动插接有测销，在导向套内固定安装有弹性套，弹性套内开设有滑孔，在滑孔内滑动插接有顶杆，顶杆的底端为锥形体，顶杆的顶端伸出导向套，在位于导向套外部的顶杆上设有限位凸起，限位凸起架在滑孔外侧的导向套端面上，在导向套上端固定设有顶盖，顶盖的顶端部设有通孔，限位凸起上端的顶杆外套有复位弹簧，复位弹簧的顶端部抵在通孔外侧的顶盖内壁，弹性套底端对应于测销的两侧设有间隔的片簧，测销的内端部抵在各自一侧的片簧上，且锥形体部分嵌入两片簧之间的间隙内。对于一些小孔径的测量，尤其是深孔测量，由于尺寸的限制，传统的传感器无法布置。也无法采用弹性测头的方案，因为如果弹性测头过于细长，测头自身的扰度量对测量会造成测量误差。这种情况下，我们会选用标准孔径测头配合普通笔式传感器的方案。为了避免测头在进入工件时，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于标准孔径的测头，其特征在于：包括测头组件(1)和传感器组件(2)，所述传感器组件(2)与测头组件(1)之间通过测头连接套(3)连接；所述测头组件(1)包括测头本体(11)、触点(12)、顶针(13)和弹性套(14)，所述测头本体(11)为一圆柱体，内部开有第一通孔(111)和第二通孔(112)，所述第一通孔(111)的直径大于第二通孔(112)的直径，所述弹性套(14)一端安装于第二通孔(112)内，另一端与第一通孔(111)间隙连接，所述弹性套(14)轴线处开有第三通孔(141)和第四通孔(142)，所述第三通孔(141)的直径大于第四通孔(142)的直径，所述顶针(13)滑动于...

【技术特征摘要】
1.一种用于标准孔径的测头，其特征在于：包括测头组件(1)和传感器组件(2)，所述传感器组件(2)与测头组件(1)之间通过测头连接套(3)连接；所述测头组件(1)包括测头本体(11)、触点(12)、顶针(13)和弹性套(14)，所述测头本体(11)为一圆柱体，内部开有第一通孔(111)和第二通孔(112)，所述第一通孔(111)的直径大于第二通孔(112)的直径，所述弹性套(14)一端安装于第二通孔(112)内，另一端与第一通孔(111)间隙连接，所述弹性套(14)轴线处开有第三通孔(141)和第四通孔(142)，所述第三通孔(141)的直径大于第四通孔(142)的直径，所述顶针(13)滑动于第三通孔(141)内部，顶针(13)的针尖处抵住第四通孔(142)，所述弹性套(14)端部开有安装孔(144)，所述安装孔(144)贯穿第四通孔(142)，所述安装孔(144)两端安装有安装座(15)，所述触点(12)安装于安装座(15)内，所述测头本体(11)上开有测量孔(113)，所述触点(12)位于安装孔(144)内，伸出测头本体(11)；所述传感器组件(2)包括气推传感器(21)、...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑双飞，
申请(专利权)人：无锡万奈特测量设备有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32