【技术实现步骤摘要】
一种用于孔径测量的偏心结构
本技术属于测量装置领域,尤其涉及一种用于孔径测量的偏心构。
技术介绍
对于一些孔径的测量,特别是多层测量截面的测量,受孔径尺寸限制,无法布置普通笔式传感器。而选用微型传感器,不仅传感器的成本大幅升高,微型传感器的防护等级,抗碰撞、冲击力的能力较低,而且对于测头的制造难度加大。在申请号为:CN201020259151.6,申请日为:20100630,名称为:一种孔径测量装置的专利中,公开了一种孔径测量装置,包括孔径测量机构、驱动机构、被测工件固定夹具及控制模块,所述孔径测量机构包括一活动测量针、两个固定测量针、测量驱动器、位移传感器,所述测量驱动器用于驱动该活动测量针,使所述活动测量针和两个固定测量针都与待测圆孔内壁接触,所述位移传感器用于检测该活动测量针在孔径测量过程中产生的位移量;所述控制模块与所述位移传感器相连并根据所述位移量计算所述待测圆孔的内径。
技术实现思路
本技术的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种用于孔径测量的偏心结构。本技术的的目的可以通过以下技术方案来实现:一种用于孔径测量的偏心结构,包括测头1,测头1包括测头本体105,测头本体105内设置多个测试结构,测试结构垂直于测头本体105的轴向结构设置,多个测试结构平行设置,测试结构包括4个触点103,4个传感器101,每个传感器101顶端安装一个触点103,4个传感器互相垂直设置,远离触点103的顶端形成方形的孔洞,所述测头本体设置多个孔,传感器101安装触点103的一端沿着测头本体的孔伸缩运动,所述传感器101内部设有弹簧件。优选的,所述传感器101外 ...
【技术保护点】
1.一种用于孔径测量的偏心结构,包括测头(1),其特征在于:测头(1)包括测头本体(105),测头本体(105)内设置多个测试结构,测试结构垂直于测头本体(105)的轴向结构设置,多个测试结构平行设置,测试结构包括4个触点(103),4个传感器(101),每个传感器(101)顶端安装一个触点(103),4个传感器互相垂直设置,远离触点(103)的顶端形成方形的孔洞,所述测头本体设置多个孔,传感器(101)安装触点(103)的一端沿着测头本体的孔伸缩运动,所述传感器(101)内部设有弹簧件。
【技术特征摘要】
1.一种用于孔径测量的偏心结构,包括测头(1),其特征在于:测头(1)包括测头本体(105),测头本体(105)内设置多个测试结构,测试结构垂直于测头本体(105)的轴向结构设置,多个测试结构平行设置,测试结构包括4个触点(103),4个传感器(101),每个传感器(101)顶端安装一个触点(103),4个传感器互相垂直设置,远离触点(103)的顶端形成方形的孔洞,所述测头本体设置多个孔,传感器(101)安装触点(103)的一端沿着测头本体的孔伸缩运动,所述传感器(101)内部设有弹簧件。2.如权利要求1所述的偏心结构,其特征在于:所述传感器(101...
【专利技术属性】
技术研发人员:郑双飞,孙超,
申请(专利权)人:无锡万奈特测量设备有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏,32
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