表面涂层测量方法、装置、计算机设备和存储介质制造方法及图纸

技术编号:21773767 阅读:24 留言:0更新日期:2019-08-03 22:09
本申请涉及图像处理技术领域,特别涉及一种表面涂层测量方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:接收待测量的表面涂层的切面图像;将切面图像转换为预设图像格式的待分析图像,标定待分析图像的像素间距离;从待分析图像中提取表面涂层的外边界的第一位置数据和接触边界的第二位置数据;根据第二位置数据判定接触边界的边界形状,根据边界形状生成外边界与接触边界之间连接的边界连线;根据第一位置数据和第二位置数据确定各边界连线的像素数量,根据所述像素数量和标定的所述像素间距离得到所述表面涂层的厚度信息。采用本方法能够提高表面涂层参数测量准确性。

Surface coating measurement methods, devices, computer equipment and storage media

【技术实现步骤摘要】
表面涂层测量方法、装置、计算机设备和存储介质
本申请涉及计算机
,特别是涉及一种表面涂层测量方法、装置、计算机设备和存储介质。
技术介绍
关节假体等骨科植入物,对于与人体骨骼接触界面的结合强度以及其自身的稳定性均有极高要求。一些植入物表面涂有具有生物相容性的多孔涂层,以利于骨长入。该表面涂层的性能一般通过涂层的平均厚度等重要参数进行表征,因此,对于上述参数测量的准确性也有着较高要求。目前,对于表面涂层的测量过程一般是通过高倍显微镜拍摄涂层的切面放大图片,然后采用电子尺等测量工具在切面图片上人工量取涂层厚度等数据。手工测量的方法受人为主观影响较大,导致得到的测量数据很不稳定,多批次之间的测量数据难于进行统计分析,统计结果与实际数据存在很大偏差。此外,手工测量的工作量巨大,需要耗费大量人力。
技术实现思路
基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种提高表面涂层参数测量准确性的表面涂层测量方法、装置、计算机设备和存储介质。一种表面涂层测量方法,所述方法包括:接收待测量的表面涂层的切面图像;将所述切面图像转换为预设图像格式的待分析图像,标定所述待分析图像的像素间距离;从所述待分析图像中提取所述表面涂层的外边界的第一位置数据和接触边界的第二位置数据;根据所述第二位置数据判定所述接触边界的边界形状,根据所述边界形状生成所述外边界与所述接触边界的边界等分连线;根据所述第一位置数据和所述第二位置数据确定各所述边界连线的像素数量,根据所述像素数量和标定的所述像素间距离得到所述表面涂层的厚度信息。在其中一个实施例中,所述将所述切面图像转换为预设图像格式的待分析图像,包括:获取预设存储格式和预设缩放比例;根据所述预设存储格式将所述切面图像的图像存储格式进行格式转换,将所述切面图像按照所述预设缩放比例进行缩放处理;将经过格式转换和缩放处理的所述切面图像进行二值化转换得到待分析图像。在其中一个实施例中,所述标定所述待分析图像的像素间距离,包括:获取所述切面图像的图像标尺数据,根据所述图像标尺数据得到缩放处理前的所述切面图像的像素间距离;根据所述预设缩放比例和缩放处理前的像素间距离,得到所述待分析图像的像素间距离。在其中一个实施例中,所述从所述待分析图像中提取所述表面涂层的外边界的第一位置数据和接触边界的第二位置数据,包括:根据所述待分析图像的二值化转换结果,判定所述待分析图像中的图像背景侧;从所述图像背景侧方向开始逐行检测所述待分析图像的各像素列中每行的像素值并得到像素值突变点;将离所述图像背景侧最近的像素值突变点的像素坐标位置提取为第一位置数据,将离所述图像背景侧最远的像素值突变点的像素坐标位置提取为第二位置数据。在其中一个实施例中,所述从所述待分析图像中提取所述表面涂层的外边界的第一位置数据和接触边界的第二位置数据之后,包括:根据所述第一位置数据绘制外边界线,根据所述第二位置数据绘制接触边界线;在所述待分析图像上建立直角坐标系,所述直角坐标系的横轴方向根据所述待分析图像的水平方向设定。在其中一个实施例中,所述根据所述第二位置数据判定所述接触边界的边界形状,包括:从所述第二位置数据中提取采样点位置数据,根据所述采样点位置数据计算相邻采样点间的连线斜率,根据所述连线斜率得到所述接触边界的斜率变化率;当所述斜率变化率未超过预设变化率阈值时,判定所述接触边界的边界形状为直线;当所述斜率变化率超过所述预设变化率阈值时,判定所述接触边界的边界形状为曲线。在其中一个实施例中,所述根据所述边界形状生成所述外边界与所述接触边界的边界等分连线,包括:当判定出所述边界形状为直线时,将所述接触边界线根据预设等分数值沿横轴方向进行等分得到第一等分点;以所述第一等分点为起点,绘制垂直于所述接触边界线直线拟合方向并朝向所述外边界线且与所述外边界线相交的线段,将绘制的所述线段作为边界连线。在其中一个实施例中,所述根据所述边界形状生成所述外边界与所述接触边界的边界等分连线,包括:当判定出所述边界形状为曲线时,对所述接触边界线进行平滑处理得到平滑曲线;将所述接平滑曲线根据预设等分数值沿横轴方向进行等分得到第二等分点;以所述第二等分点为起点,绘制垂直于所述平滑曲线的切线方向,且向所述外边界线方向延伸的与所述外边界线相交的线段,将绘制的所述线段作为边界连线。在其中一个实施例中,方法还包括:当判定出所述边界形状为直线时,获取预设孔隙测量参数;根据所述接触边界线、所述厚度信息和所述预设孔隙测量参数得到孔隙测量区域;在所述孔隙测量区域内搜索涂层孔隙得到所述涂层孔隙的尺寸信息;根据所述尺寸信息计算所述表面涂层的孔隙体积百分比和孔隙平均截距。在其中一个实施例中,方法还包括:获取所述表面涂层的第一涂层代码,并根据所述第一涂层代码对所述切面图像进行图像编码;从数据库中查找所述第一涂层代码对应的第一图像数据档案;将所述厚度信息与编码后的所述切面图像关联存储至所述第一图像数据档案中。在其中一个实施例中,方法还包括:接收终端发送的涂层数据查询指令,所述涂层数据查询指令中携带第二涂层代码;从所述数据库中查找所述第二涂层代码对应的第二图像数据档案;获取所述第二图像数据档案中切面图像的厚度信息;对获取到的所述厚度信息进行分析并生成涂层测量报告,将所述涂层测量报告返回给所述终端。一种表面涂层测量装置,所述装置包括:图像接收模块,用于接收待测量的表面涂层的切面图像;图像标准化模块,用于将所述切面图像转换为预设图像格式的待分析图像,标定所述待分析图像的像素间距离;位置数据提取模块,用于从所述待分析图像中提取所述表面涂层的外边界的第一位置数据和接触边界的第二位置数据;等分连线生成模块,用于根据所述第二位置数据判定所述接触边界的边界形状,根据所述边界形状生成所述外边界与所述接触边界的边界等分连线;厚度信息生成模块,用于根据所述第一位置数据和所述第二位置数据确定各所述边界连线的像素数量,根据所述像素数量和标定的所述像素间距离得到所述表面涂层的厚度信息。在其中一个实施例中,装置还包括:编码模块,用于获取所述表面涂层的第一涂层代码,并根据所述第一涂层代码对所述切面图像进行图像编码;第一档案查找模块,用于从数据库中查找所述第一涂层代码对应的第一图像数据档案;第一存储模块,用于将所述厚度信息与编码后的所述切面图像关联存储至所述第一图像数据档案中。一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法的步骤。一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。上述表面涂层测量方法、装置、计算机设备和存储介质,对接收的待测量表面涂层的切面图像进行标准化处理,转换为可分析的图像格式,并对图像的像素间距离进行标定,自动识别出表面涂层的外边界和接触边界的位置,生成两个边界间的边界连线,根据边界连线和标定的像素间距离得出厚度信息,从而实现对表面涂层厚度的标准化和自动化测量。提高测量的准确性和测量效率。附图说明图1为一个实施例中表面涂层测量方法的应用场景图;图2为一个实施例中表面涂层测量方法的流程示意图;图3为一个实施例中的切面样例图像;图4为一个实施例中的边界连线示意图;图5为一个实施例中连线生成步骤的流程示意图本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种表面涂层测量方法,所述方法包括:接收待测量的表面涂层的切面图像;将所述切面图像转换为预设图像格式的待分析图像,标定所述待分析图像的像素间距离;从所述待分析图像中提取所述表面涂层的外边界的第一位置数据和接触边界的第二位置数据;根据所述第二位置数据判定所述接触边界的边界形状,根据所述边界形状生成所述外边界与所述接触边界之间连接的边界连线;根据所述第一位置数据和所述第二位置数据确定各所述边界连线的像素数量,根据所述像素数量和标定的所述像素间距离得到所述表面涂层的厚度信息。

【技术特征摘要】
1.一种表面涂层测量方法,所述方法包括:接收待测量的表面涂层的切面图像;将所述切面图像转换为预设图像格式的待分析图像,标定所述待分析图像的像素间距离;从所述待分析图像中提取所述表面涂层的外边界的第一位置数据和接触边界的第二位置数据;根据所述第二位置数据判定所述接触边界的边界形状,根据所述边界形状生成所述外边界与所述接触边界之间连接的边界连线;根据所述第一位置数据和所述第二位置数据确定各所述边界连线的像素数量,根据所述像素数量和标定的所述像素间距离得到所述表面涂层的厚度信息。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述切面图像转换为预设图像格式的待分析图像,包括:获取预设存储格式和预设缩放比例;根据所述预设存储格式将所述切面图像的图像存储格式进行格式转换,将所述切面图像按照所述预设缩放比例进行缩放处理;将经过格式转换和缩放处理的所述切面图像进行二值化转换得到待分析图像。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述标定所述待分析图像的像素间距离,包括:获取所述切面图像的图像标尺数据,根据所述图像标尺数据得到缩放处理前的所述切面图像的像素间距离;根据所述预设缩放比例和缩放处理前的像素间距离,得到所述待分析图像的像素间距离。4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述从所述待分析图像中提取所述表面涂层的外边界的第一位置数据和接触边界的第二位置数据,包括:根据所述待分析图像的二值化转换结果,判定所述待分析图像中的图像背景侧;从所述图像背景侧开始逐行检测所述待分析图像的各像素列中每行的像素值,并根据检测到的像素值确定像素值突变点;将离所述图像背景侧最近的像素值突变点的像素坐标位置提取为第一位置数据,将离所述图像背景侧最远的像素值突变点的像素坐标位置提取为第二位置数据。5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述从所述待分析图像中提取所述表面涂层的外边界的第一位置数据和接触边界的第二位置数据之后,包括:根据所述第一位置数据绘制外边界线,根据所述第二位置数据绘制接触边界线;在所述待分析图像上建立直角坐标系,所述直角坐标系的横轴方向根据所述待分析图像的水平方向设定。6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据所述第二位置数据判定所述接触边界的边界形状,包括:对所述接触边界线进行平滑化处理,再对平滑化处理后的接触边界线进行间隔采样,根据所述采样点位置数据计算相邻采样点间的连线斜率,根据所述连线斜率得到所述接触边界的斜率变化率;当所述斜率变化率未超过预设变化率阈值时,判定所述接触边界的边界形状为直线;当所述斜率变化率超过所述预设变化率阈值时,判定所述接触边界的边界形状为曲线。7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述根据所述边界形状生成所述外边界与所述接触边界之间连接的边界连线,包括:当判定出所述边界形状为直线时,将所述接触边界线根据预设等分数值沿横轴方向进行等分得到第一等分点;以所述第一等分点为起点,绘制垂直于所述接触边界线直线拟合方向,并朝向所述外边界线且与所述外边界线相交的线段,将绘制的所...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈福兵俞天白许敏韩艾军
申请(专利权)人:苏州微创关节医疗科技有限公司
类型:发明
国别省市:江苏,32

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