一种p型硫化铜透明导电薄膜及制备方法技术

技术编号:21550338 阅读:28 留言:0更新日期:2019-07-06 22:57
本发明专利技术涉及一种p型硫化铜透明导电薄膜及制备方法。所述硫化铜透明导电薄膜在方阻低至10欧姆/□时,可见光范围的透过率最高为86%,电阻率最优可达到1.02×10

A p-type transparent conductive copper sulfide film and its preparation method

【技术实现步骤摘要】
一种p型硫化铜透明导电薄膜及制备方法
本专利技术属于透明导电薄膜的
,具体涉及一种p型硫化铜透明导电薄膜及制备方法。
技术介绍
透明导电薄膜就是兼顾了透明与导电两种性质,既在可见光范围内高度透明又具有良好导电性的薄膜。由于其透明导电的特性使其在薄膜太阳能电池、平板显示器、发光二极管、低辐射玻璃等方面有着重大的应用价值。透明导电薄膜根据导电载流子的类型可以分为n型和p型,尽管透明导电薄膜种类众多,应用也较为广泛,但是大多数都是仅仅将他们用作单一的光学涂层,并没有进一步将其制备为有源器件,这是由于绝大多数透明导电薄膜都是n型材料,缺少光电性能可以与之匹配的p型透明导电薄膜材料。长期以来,n型透明导电薄膜材料无论是性能还是应用都远远的超过了p型材料,到目前为止,可以投入商业生产的透明导电薄膜均为n型透明导电薄膜,这也极大的限制了透明导电薄膜的应用范围,因此p型透明导电薄膜材料也成为了透明导电薄膜领域的研究的热点。目前已经发现的p型透明导电材料主要包括以下三种:p型铜铁矿结构氧化物,p型硫属化合物以及p型ZnO基化合物。尽管有些p型透明导电薄膜的可见光范围内透过率已经接近甚至与n型透明导电薄膜相同,但是,其导电性到现在为止还与n型材料有着不可逾越的差距。制备透明导电薄膜的方法较多,但都是先制备出透明导电薄膜材料,之后再通过其他的方法如磁控溅射法、真空真镀法、化学气相沉积法等方法将透明导电薄膜材料与基底板结合,步骤较为繁琐,且难以实现大规模生产,鉴于此,发展一种大规模直接制备透明导电薄膜的方法是非常必要的。
技术实现思路
为了提高p型透明导电薄膜的性能,简化透明导电薄膜的制备工艺,实现大规模生产,本专利技术提供一种p型硫化铜透明导电薄膜及制备方法。一种p型硫化铜透明导电薄膜,厚度为40-60nm,其中所含的硫化铜为p型半导体材料;在可见光范围内透过率为82-86%、方块电阻为10-18欧姆、电阻率为(1.02-1.23)×10-4Ω·cm、带隙范围为1.5-2.0eV。制备p型硫化铜透明导电薄膜的操作步骤如下:(1)制备铜前体溶液将0.5-10mmol氧化铜(CuO)或氧化亚铜(Cu2O)放入7-40mL溶剂中,加热至温度40-70℃,边搅拌边加入0.1-6mL二硫化碳和1-10mL胺类化合物,搅拌至氧化铜(CuO)或氧化亚铜(Cu2O)完全溶解,得到铜前体反应溶液;将铜前体反应溶液离心分离,得到澄清的铜前体溶液;溶剂为无水乙醇或氯仿或甲苯或丙酮中的一种;胺类化合物为正丁胺或乙醇胺或乙二胺中的一种;(2)制备p型硫化铜透明导电薄膜将铜前体溶液在基底板上湿法加工成膜,在温度160-220℃条件下退火0.2-1分钟,得到厚度为40-60nm的p型硫化铜透明导电薄膜。进一步限定的技术方案如下:步骤(1)中,离心条件:转速8000-12000转/分钟、时间1-5分钟。步骤(2)中,所述基底板的材料为玻璃或塑料或陶瓷或硅片。步骤(2)中,所述湿法加工为喷涂法或旋涂法或提拉镀膜法或刮涂法。本专利技术的有益技术效果体现在以下方面:1.本专利技术制备的p型硫化铜透明导电薄膜光电性能出色,超过大部分其他的p型透明导电薄膜,具有较高的载流子浓度、较高的可见光透过率、较低的方阻,这三个技术指标接近目前广泛使用的ITO的水平,而本专利技术制备的硫化铜透明导电薄膜为p型,结合目前技术已经成熟的n型透明导电薄膜材料,使得其在透明p-n结,透明场效应晶体管,太阳能电池等领域具有重大的应用价值。实验结果表明:采用本专利技术制备的p型硫化铜透明导电薄膜,其方阻最低为10Ω/□,透过率最高为86%。2.本专利技术的制备工艺简单,且便于后期处理,相比于其他透明导电薄膜制备的方法,本专利技术提供了一种直接制备p型硫化铜透明导电薄膜的方法,无需前期制备透明导电薄膜材料,直接在基底板上将铜前体溶液通过反应形成p型硫化铜透明导电薄膜,将制备透明导电薄膜材料的过程、透明导电薄膜材料与基底板结合的过程合并,使传统透明导电薄膜制备工艺中较为繁琐的步骤有效简化。3.传统制备透明导电薄膜材料的方法如真空溅射法、真空蒸镀透法等,制备的透明导电薄膜由于其质脆易碎,柔韧性和弯曲性能较差,不适合应用在柔性基底上。本专利技术中一种p型硫化铜透明导电薄膜的制备方法,基底板可选用塑料基底如聚酰亚胺,使其在柔性光电器件如柔性LED、柔性触控屏幕等领域有着广阔的应用前景。4.与其它方法比较,本专利技术中使用的提拉镀膜法,优点在于可以进行双面涂膜及不规则表面的涂膜,适合大面积操作。薄膜的厚度可以低至纳米级别,并且溶液的利用率非常高,节约资源。具体实施方式下面通过实施例对本专利技术作进一步地描述。实施例1一种p型硫化铜透明导电薄膜的制备操作步骤如下:(1)制备铜前体反应溶液,将1mmol氧化铜(CuO)和7mL无水乙醇加入锥形瓶中,将装有上述物质的锥形瓶置于60℃的加热台上,搅拌下分别加入0.6mL二硫化碳和1mL正丁胺,搅拌至固体完全溶解,形成铜前体反应溶液;在离心机中,在转速8000转/分钟条件下离心3分钟,得到澄清的铜前体溶液。(2)将铜前体溶液在玻璃基底板上旋涂成膜,然后在180℃下退火1分钟,得到厚度约为50nm的p型硫化铜透明导电薄膜,p型硫化铜透明导电薄膜中所含的硫化铜为p型半导体材料;p型硫化铜透明导电薄膜在可见光范围内透过率为86%、方块电阻约为10欧姆、电阻率为1.02×10-4Ω·cm、带隙为1.6eV。实施例2一种p型硫化铜透明导电薄膜的制备操作步骤如下:(1)制备铜反应前体溶液,将0.5mmol氧化亚铜(Cu2O)和7mL氯仿加入锥形瓶中,将装有上述物质的锥形瓶置于60℃的加热台上,搅拌下分别加入0.6mL二硫化碳和1mL正丁胺,搅拌至固体完全溶解,形成铜前体反应溶液;在离心机中,在转速12000转/分钟条件下离心5分钟,得到澄清的铜前体溶液。(2)将铜前体溶液在塑料基底板上旋涂成膜,然后在200℃下退火1分钟,得到厚度约为45nm的p型硫化铜透明导电薄膜,p型硫化铜透明导电薄膜中所含的硫化铜为p型半导体材料。p型硫化铜透明导电薄膜在可见光范围内透过率为85%、方块电阻约为11欧姆、电阻率为1.23×10-4Ω·cm、带隙为约1.6eV。实施例3一种p型硫化铜透明导电薄膜的制备操作步骤如下:(1)制备铜前体反应溶液,将0.5mmol氧化亚铜(Cu2O)和7mL丙酮加入锥形瓶中,将装有上述物质的锥形瓶置于60℃的加热台上,搅拌下分别加入0.6mL二硫化碳和1mL乙二胺,搅拌至固体完全溶解,形成铜前体反应溶液;在离心机中,在转速10000转/分钟条件下离心3分钟,得到澄清的铜前体溶液。(2)将铜前体溶液在透明陶瓷基底板上使用喷涂法成膜,然后在200℃下退火1分钟,得到厚度约为50nm的p型硫化铜透明导电薄膜。p型硫化铜透明导电薄膜在可见光范围内透过率为82%、方块电阻约为13欧姆、电阻率为1.21×10-4Ω·cm、带隙为约1.7eV。实施例4一种p型硫化铜透明导电薄膜的制备操作步骤如下:(1)制备铜前体反应溶液,将4mmol氧化亚铜(Cu2O)和30mL氯仿加入锥形瓶中,将装有上述物质的锥形瓶置于60℃的加热台上,搅拌下分别加入4.8mL二硫化碳和8mL正丁胺,搅拌至固体完全溶解,形成铜前体本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种p型硫化铜透明导电薄膜,其特征在于:所述p型硫化铜透明导电薄膜的厚度为40‑60 nm,其中所含的硫化铜为p型半导体材料;在可见光范围内透过率为82‑86%、方块电阻为10‑18欧姆、电阻率为(1.02‑1.23)×10

【技术特征摘要】
1.一种p型硫化铜透明导电薄膜,其特征在于:所述p型硫化铜透明导电薄膜的厚度为40-60nm,其中所含的硫化铜为p型半导体材料;在可见光范围内透过率为82-86%、方块电阻为10-18欧姆、电阻率为(1.02-1.23)×10-4Ω·cm、带隙范围为1.5-2.0eV。2.如权利要求1所述的一种p型硫化铜透明导电薄膜的制备方法,其特征在于操作步骤如下:(1)制备铜前体溶液将0.5-10mmol氧化铜(CuO)或氧化亚铜(Cu2O)放入7-40mL溶剂中,加热至温度40-70℃,边搅拌边加入0.1-6mL二硫化碳和1-10mL胺类化合物,搅拌至氧化铜(CuO)或氧化亚铜(Cu2O)完全溶解,得到铜前体反应溶液;将铜前体反应溶液离心分离,得到澄清的铜前体溶液;所...

【专利技术属性】
技术研发人员:李伸杰查天庸陈艳艳王强
申请(专利权)人:合肥工业大学
类型:发明
国别省市:安徽,34

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