一种基于误差补偿的快速响应时间测试仪及方法技术

本发明专利技术涉及核电站DCS测试技术领域，具体公开了一种基于误差补偿的快速响应时间测试仪及方法。该测试仪包括sbRIO模块和定制调理模块，其中，所述的sbRIO模块包括sbRIO处理器、AI模块、AO模块、DO模块以及DI模块；所述第定制调理模块包括精密电阻网络、V/I调理模块、Relay调理模块以及光耦调理模块，其中，精密电阻网络与AI模块相连接，AO模块与V/I调理模块相连接；光耦调理模块与DI模块相连接，以及DO模块与Relay调理模块相连接；sbRIO处理器与AI模块、AO模块、DO模块以及DI模块相连接，并接收、处理相应的信息。本发明专利技术所述的一种基于误差补偿的快速响应时间测试仪及方法，通过引入误差补偿回路，降低了响应时间测量的误差，提高了测试精度。

A Fast Response Time Tester Based on Error Compensation and Its Method

【技术实现步骤摘要】
一种基于误差补偿的快速响应时间测试仪及方法
本专利技术属于核电站DCS测试
，具体涉及一种基于误差补偿的快速响应时间测试仪及方法。
技术介绍
核电DCS系统响应时间为衡量DCS系统处理故障的时间性能的重要参数，在DCS系统调试中有很重要的作用，传统测量的测试方法为通过信号发生器或者按钮等硬件给DCS机柜注入故障信号，然后检测DCS系统目标通道的输出信号，记录该时间段；使用的测试仪器为示波器，将注入DCS的信号及DCS的反馈信号串联接入示波器，人工读取时间差。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种基于误差补偿的快速响应时间测试仪及方法，其可以降低响应时间测试的误差。本专利技术的技术方案如下：一种基于误差补偿的快速响应时间测试仪，该测试仪包括sbRIO模块和定制调理模块，其中，所述的sbRIO模块包括sbRIO处理器、AI模块、AO模块、DO模块以及DI模块；所述第定制调理模块包括精密电阻网络、V/I调理模块、Relay调理模块以及光耦调理模块，其中，精密电阻网络与AI模块相连接，AO模块与V/I调理模块相连接；光耦调理模块与DI模块相连接，以及DO模块与Relay调理模块相连接；sbRIO处理器与AI模块、AO模块、DO模块以及DI模块相连接，并接收、处理相应的信息。所述的sbRIO处理器可接收经过精密电阻网络调理进入AI模块的外部模拟量信号，并对AI模块发送的信号进行处理；sbRIO处理器产生的模拟量信号经过AO模块输出到与AO模块相连接的V/I调理模块，并通过V/I调理模块输出至测试仪外部。所述的sbRIO处理器可接收并处理经过光耦调理模块输入至DI模块的信号，并将sbRIO处理器产生的数字量信号经过DO模块输出至Relay调理模块，经过Relay调理模块调理后输出到测试仪外。所述的sbRIO模块还包括电源模块，所述的电源模块与定制调理模块中的检测电源相连接，为整个测试仪提供24V直流电源。所述的sbRIO处理器可完成信号的收发、网络通信、信息显示以及响应时间的测量计算功能。一种基于误差补偿的快速响应时间测试方法，该方法具体包括如下步骤：步骤1、安装高速采集IO板卡，并将高速IO板卡经过调理单元，通过硬接线与被测试DCS机柜相连接；将高速采集IO板卡经过调理单元，并通过硬接线与被测试DSC机柜相连接，sbRIO处理器控制高速采集IO板卡收发数据；步骤2、利用高速采集IO板卡同时输出两路信号，第一路信号环接至自身等IO输入卡，第二路信号接入DSC；采集DSC第反馈信号，通过两路输入信号第时间差即获得DCS的响应时间。本专利技术的显著效果在于：本专利技术所述的一种基于误差补偿的快速响应时间测试仪及方法，通过引入误差补偿回路，降低了响应时间测量的误差，提高了测试精度。附图说明图1为本专利技术所述的一种基于误差补偿的快速响应时间测试仪结构示意图；图中：1、sbRIO模块；2、定制调理模块；101、sbRIO处理器；102、AI模块；103、AO模块；104、DO模块；105、DI模块；106、电源模块；201、精密电阻网络；202、V/I调理模块；203、Relay调理模块；204、光耦调理模块；205、检测电源。具体实施方式下面结合附图及具体实施例对本专利技术作进一步详细说明。如图1所示，一种基于误差补偿的快速响应时间测试仪，包括sbRIO模块1和定制调理模块2，其中，sbRIO模块包括sbRIO处理器101、AI模块102、AO模块103、DO模块104、DI模块105以及电源模块106，电源模块106与定制调理模块2中的检测电源205相连接，为整个测试仪提供24V直流电源；定制调理模块2还包括精密电阻网络201、V/I调理模块202、Relay调理模块203以及光耦调理模块204，其中，精密电阻网络201与AI模块102相连接，外部模拟量信号经过精密电阻网络201调理进入AI模块，并利用sbRIO处理器101接收并对AI模块102的信号进行处理，sbRIO处理器101产生的模拟量信号经过AO模块103输出到与AO模块103相连接的V/I调理模块202，并通过V/I调理模块202输出至测试仪外部；外部的数字量信号经过定制调理模块2中的光耦调理模块204输出至与光耦调理模块204相连接的DI模块105，并利用sbRIO处理器101接收并处理DI模块105的信号，并将sbRIO处理器产生的数字量信号经过DO模块104输出至Relay调理模块203，经过Relay调理模块203调理后输出到测试仪外；sbRIO处理器可完成信号的收发、网络通信、信息显示和响应时间的测量计算等功能。一种基于误差补偿的快速响应时间测试方法，该方法包括如下步骤：步骤1、安装高速采集IO板卡，并将高速IO板卡经过调理单元，通过硬接线与被测试DCS机柜相连接；将高速采集IO板卡经过调理单元，并通过硬接线与被测试DSC机柜相连接，sbRIO处理器控制高速采集IO板卡收发数据；步骤2、利用高速采集IO板卡同时输出两路信号，第一路信号环接至自身等IO输入卡，第二路信号接入DSC；采集DSC第反馈信号，通过两路输入信号第时间差即获得DCS的响应时间。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于误差补偿的快速响应时间测试仪，其特征在于：该测试仪包括sbRIO模块(1)和定制调理模块(2)，其中，所述的sbRIO模块(1)包括sbRIO处理器(101)、AI模块(102)、AO模块(103)、DO模块(104)以及DI模块(105)；所述第定制调理模块(2)包括精密电阻网络(201)、V/I调理模块(202)、Relay调理模块(203)以及光耦调理模块(204)，其中，精密电阻网络(201)与AI模块(102)相连接，AO模块(103)与V/I调理模块(202)相连接；光耦调理模块(204)与DI模块(105)相连接，以及DO模块(104)与Relay调理模块(203)相连接；sbRIO处理器(101)与AI模块(102)、AO模块(103)、DO模块(104)以及DI模块(105)相连接，并接收、处理相应的信息。

【技术特征摘要】
1.一种基于误差补偿的快速响应时间测试仪，其特征在于：该测试仪包括sbRIO模块(1)和定制调理模块(2)，其中，所述的sbRIO模块(1)包括sbRIO处理器(101)、AI模块(102)、AO模块(103)、DO模块(104)以及DI模块(105)；所述第定制调理模块(2)包括精密电阻网络(201)、V/I调理模块(202)、Relay调理模块(203)以及光耦调理模块(204)，其中，精密电阻网络(201)与AI模块(102)相连接，AO模块(103)与V/I调理模块(202)相连接；光耦调理模块(204)与DI模块(105)相连接，以及DO模块(104)与Relay调理模块(203)相连接；sbRIO处理器(101)与AI模块(102)、AO模块(103)、DO模块(104)以及DI模块(105)相连接，并接收、处理相应的信息。2.根据权利要求1所述的一种基于误差补偿的快速响应时间测试仪，其特征在于：所述的sbRIO处理器(101)可接收经过精密电阻网络(201)调理进入AI模块(102)的外部模拟量信号，并对AI模块(102)发送的信号进行处理；sbRIO处理器(101)产生的模拟量信号经过AO模块(103)输出到与AO模块(103)相连接的V/I调理模块(202)，并通过V/I调理模块(202)输出至测试仪外部。3.根据权利要求1所述的一种...

【专利技术属性】
技术研发人员：张绪怡，尹继超，刘培邦，聂红伟，鲁星言，张登，齐静雯，
申请(专利权)人：核动力运行研究所，中核武汉核电运行技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42