一种测试装置、测试针及测试针的安装结构制造方法及图纸

本申请提供一种测试装置、测试针及测试针的安装结构，所述测试装置包括多个测试针和测试夹具，且所述测试夹具上开设多个用于装配所述多个测试针的装配孔，其中，还包括：固定板，且所述固定板上开设多个可供所述测试针的一端穿过且与所述装配孔对应的安装孔，所述固定板用于将多个所述测试针固定在所述测试夹具上，本申请提供的测试装置，提高了测试针在测试夹具上的安装密度，降低了电路板上RFSW器件高密分布时的测试成本，提高了测试针的安装和拆卸效率，从而解决了现有RF测试针在测试夹具上的安装密度小而造成测试成本增加的问题。

The Installation Structure of a Testing Device, Testing Needle and Testing Needle

【技术实现步骤摘要】
一种测试装置、测试针及测试针的安装结构
本申请涉及测试设备领域，并且尤其涉及一种测试装置、测试针及测试针的安装结构。
技术介绍
射频(RadioFrequency，简称：RF)测试针是一种用于将测试仪表与主板上的器件进行电连接的器件，具体的，通过RF测试针将主板上的射频通断开关(RadioFrequencySwitch，简称：RFSW)器件和测试仪表连接起来，从而进行RF信号的功率校准和测试，其中，RF测试针对RFSW器件测试时，往往需要将RF测试针固定在测试夹具上。目前，RF测试针在测试夹具上的固定方式为：采用法兰将RF测试针固定在测试夹具上，具体的，每个RF测试针通过一组法兰固定在测试夹具上。然而，由于法兰的尺寸较大，使得测试夹具上可安装的RF测试针的数量受限，即RF测试针的安装密度减少，这样当电路板上的RFSW器件较多时，往往需要分工位测试(即需要至少两个工位才能测试完成)，从而造成测试成本增加。
技术实现思路
本申请提供一种测试装置、测试针及测试针的安装结构，实现了测试针在测试夹具上安装密度增大的目的，减少了测试工位，降低了测试成本，从而解决了现有RF测试针在测试夹具上的安装密度小而造成测试成本增加的问题。本申请提供一种测试装置，包括多个测试针和测试夹具，且所述测试夹具上开设多个用于装配所述多个测试针的装配孔，其中，还包括：固定板，且所述固定板上开设多个可供所述测试针的一端穿过且与所述装配孔对应的安装孔，所述固定板用于将多个所述测试针固定在所述测试夹具上。本申请提供的测试装置，通过包括多个测试针和测试夹具，且所述测试夹具上开设多个用于装配所述多个测试针的装配孔，以及还包括固定板，且所述固定板上开设多个可供所述测试针的一端穿过且与所述装配孔对应的安装孔，所述固定板用于将多个所述测试针固定在所述测试夹具上，这样多个测试针通过固定板可以同时固定在测试夹具上，相邻测试针之间由于没有法兰，所以相邻测试针之间的间隔可以大大降低，这样使得测试夹具单位面积内可安装的测试针的数量增多，测试针在测试夹具上的安装密度增大，从而避免了采用法兰固定测试针时相邻测试针之间的间隔较大而造成测试针在测试夹具上安装密度较小的问题，当测试针在测试夹具上的安装密度增大时，这样当电路板上的RFSW器件较多时，本申请提供的测试装置可以一次便对电路板上的RFSW器件完成测试，这样避免了分工位测试的问题，从而使得测试成本大大降低，而且多个测试针采用固定板可以同时固定，大大提高了测试针在测试夹具上的安装和拆卸效率，因此，本申请提供的测试装置，提高了测试针在测试夹具上的安装密度，降低了电路板上RFSW器件高密分布时的测试成本，提高了测试针的安装和拆卸效率，从而解决了现有RF测试针在测试夹具上的安装密度小而造成测试成本增加的问题。在第一方面的一种可能的实施方式中，所述测试针上具有限位部，所述测试针上具有限位部，所述限位部用于与所述固定板配合实现对所述测试针的限位，或者所述限位部用于与所述装配孔配合实现对所述测试针的限位，或者所述限位部用于与所述固定板和所述装配孔配合实现对所述测试针的限位。在第一方面的一种可能的实施方式中，所述限位部包括上限位端面和下限位端面，所述上限位端面用于与所述固定板配合实现限位，所述下限位端面用于与所述装配孔或与所述测试夹具配合实现限位。在第一方面的一种可能的实施方式中，所述测试针包括针身以及分别位于所述针身两端的针头和可穿过所述安装孔的接头，且所述针头与所述针身的一端之间形成所述下限位端面，所述接头与所述针身的另一端之间形成所述上限位端面。在第一方面的一种可能的实施方式中，所述装配孔包括第一装配孔和可供所述针头向外穿出的第二装配孔，且所述第一装配孔和所述第二装配孔的连接处形成对所述下限位端面限位的台阶，所述固定板用于对所述上限位端面限位，以使所述多个测试针通过所述固定板固定在所述测试夹具上。在第一方面的一种可能的实施方式中，所述第一装配孔的长度大于所述第二装配孔的长度，以使所述台阶靠近所述装配孔的底端形成。在第一方面的一种可能的实施方式中，所述第一装配孔的长度小于所述第二装配孔的长度，以使所述台阶靠近所述装配孔的顶端形成。在第一方面的一种可能的实施方式中，所述装配孔为可供所述针身或者所述针头穿过的直孔。在第一方面的一种可能的实施方式中，所述装配孔为可供所述针头穿过的直孔，且所述下限位端面与所述装配孔的外边缘相抵以实现对所述测试针限位，所述固定板与所述上限位端面配合以将所述多个测试针固定在所述测试夹具上。在第一方面的一种可能的实施方式中，所述装配孔为可供所述针身穿过的直孔，且所述固定板包括上固定板和下固定板，所述上固定板和所述下固定板分别与所述下限位端面和所述上限位端面限位以将所述测试针的两端固定在所述测试夹具上。在第一方面的一种可能的实施方式中，所述上固定板上开设的所述安装孔的孔径大于等于所述接头的外径，以使所述接头穿过所述上固定上的所述安装孔；所述下固定板上开设的所述安装孔的孔径大于等于所述针头的外径。在第一方面的一种可能的实施方式中，还包括：浮动件，所述浮动件位于所述固定板和所述上限位端面之间，以使所述测试针在所述测试夹具上固定后可向上浮动预设距离。在第一方面的一种可能的实施方式中，所述浮动件为弹簧、海绵或柔性件。在第一方面的一种可能的实施方式中，所述固定板通过与所述测试夹具卡合连接或紧固件紧固连接以将所述多个测试针固定在所述测试夹具上。在第一方面的一种可能的实施方式中，所述紧固件为螺钉。本申请还提供一种测试针的安装结构，包括测试夹具，测试夹具上开设多个用于装配多个测试针的装配孔，其中还包括：固定板，且所述固定板上开设可供所述测试针的一端穿过且与所述装配孔对应的多个安装孔，所述固定板用于将多个所述测试针固定在所述测试夹具上。本申请提供的测试针的安装结构，通过包括还包括固定板，且所述固定板上开设多个可供所述测试针的一端穿过且与所述装配孔对应的安装孔，所述固定板用于将多个所述测试针固定在所述测试夹具上，这样多个测试针通过固定板便可以同时固定在测试夹具上，相邻测试针之间由于没有法兰，所以相邻测试针之间的间隔可以大大降低，这样使得测试夹具单位面积内可安装的测试针的数量增多，测试针在测试夹具上的安装密度增大，从而避免了采用法兰固定测试针时相邻测试针之间的间隔较大而造成测试针在测试夹具上安装密度较小的问题，当测试针在测试夹具上的安装密度增大时，这样当电路板上的RFSW器件较多时，本申请提供的测试装置可以一次便对电路板上的RFSW器件完成测试，这样避免了分工位测试的问题，从而使得测试成本大大降低，而且多个测试针采用固定板固定时，大大提高了测试针在测试夹具上的安装和拆卸效率，因此，本申请提供的测试针的安装结构，提高了测试针在测试夹具上的安装密度，降低了电路板上RFSW器件高密分布时的测试成本，提高了测试针的安装和拆卸效率，从而解决了现有RF测试针在测试夹具上的安装密度小而造成测试成本增加的问题。在第二方面的一种可能的实施方式中，所述装配孔内设有用于对所述测试针上设置的限位部进行限位的台阶。在第二方面的一种可能的实施方式中，所述装配孔包括第一装配孔和可供所述测试针的一端向外穿出的所述第二装配孔，且所述第一装配孔和所述第二装本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试装置，包括多个测试针和测试夹具，且所述测试夹具上开设多个用于装配所述多个测试针的装配孔，其特征在于，还包括：固定板，且所述固定板上开设多个可供所述测试针的一端穿过且与所述装配孔对应的安装孔，所述固定板用于将多个所述测试针固定在所述测试夹具上。

【技术特征摘要】
1.一种测试装置，包括多个测试针和测试夹具，且所述测试夹具上开设多个用于装配所述多个测试针的装配孔，其特征在于，还包括：固定板，且所述固定板上开设多个可供所述测试针的一端穿过且与所述装配孔对应的安装孔，所述固定板用于将多个所述测试针固定在所述测试夹具上。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试针上具有限位部，所述限位部用于与所述固定板配合实现对所述测试针的限位，或者所述限位部用于与所述装配孔配合实现对所述测试针的限位，或者所述限位部用于与所述固定板和所述装配孔配合实现对所述测试针的限位。3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述限位部包括上限位端面和下限位端面，所述上限位端面用于与所述固定板配合实现限位，所述下限位端面用于与所述装配孔或与所述测试夹具配合实现限位。4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述测试针包括针身以及分别位于所述针身两端的针头和可穿过所述安装孔的接头，且所述针头与所述针身的一端之间形成所述下限位端面，所述接头与所述针身的另一端之间形成所述上限位端面。5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述装配孔包括第一装配孔和可供所述针头向外穿出的第二装配孔，且所述第一装配孔和所述第二装配孔的连接处形成对所述下限位端面限位的台阶，所述固定板用于对所述上限位端面限位，以使所述多个测试针通过所述固定板固定在所述测试夹具上。6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述第一装配孔的长度大于所述第二装配孔的长度，以使所述台阶靠近所述装配孔的底端形成，或者，所述第一装配孔的长度小于所述第二装配孔的长度，以使所述台阶靠近所述装配孔的顶端形成。7.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述装配孔为可供所述针身或者所述针头穿过的直孔。8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述装配孔为可供所述针头穿过的直孔，且所述下限位端面与所述装配孔的外边缘相抵以实现对所述测试针限位，所述固定板与所述上限位端面配合以将所述多个测试针固定在所述测试夹具上。9.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述装配孔为可供所述针身穿过的直孔，且所述固定板包括上固定板和下固定板，所述上固定板和所述下固定板分别与所述下限位端面和所述上限位端面限位以将所述测试针的两端固定在所述测试夹具上。10.根据权利要求3-9任一所述的测试装置，其特征在于，还包括：浮动件，所述浮动件位于所述固定板和所述上限位端面之间，以使所述测试针在所述测试夹具上固定后可向上浮动预设距离。11.根据权利要求10所述的测试装置，其特征在于，所述浮动件为弹簧、海绵或柔性件。12.一种测试针的安装结构，包括测试夹具，测试夹具上开设多个用于装配多个测试针...

【专利技术属性】
技术研发人员：王为，胡义伟，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44