一种高转速条件下高精度自匹配外形尺寸测量方法技术

技术编号:21545330 阅读:65 留言:0更新日期:2019-07-06 20:03
本发明专利技术涉及无损检测技术领域,具体公开了一种高转速条件下高精度自匹配外形尺寸测量方法。该方法具体包括如下步骤:1、对被检管材采集数据进行标定;2、对采集的被检管材标定信号进行周期分析;2.1、进行信号预处理,滤除异常信号;2.2、计算获取采集数据周期的标志位;2.3、对两个探头采集数据的每个周期数据重采样;3、对两探头采集数据的周期数据进行同相位数据统计分析;4、对被检管材进行信号采集;5、计算获得被检管材的外形尺寸;本发明专利技术所述的一种高转速条件下高精度自匹配外形尺寸测量方法,其可以通过同相位角对比,最大程度地消除机械安装误差和采集系统误差的影响。

A High Precision Self-matching Profile Size Measurement Method at High Speed

【技术实现步骤摘要】
一种高转速条件下高精度自匹配外形尺寸测量方法
本专利技术属于无损检测
,具体涉及一种高转速条件下高精度自匹配外形尺寸测量方法。
技术介绍
核级小管径管材是指外径在6~20mm范围内的特种精密管材,被广泛应用在核电堆芯及换热器等核心部件中。核级小管径在核电机组的建设与运营期间使用量极大,以AP1000的蒸发器为例,每台蒸发器换热管的数量多达10000多根,合计长度约为225000M。为此,核电需要在管材安装前对其进行快速的自动化测量,以保证管材的测量效率和测量精度。采用传统的双探头水浸超声自动化检测系统进行检测时,由于检测系统的机械存在偏心和数字化超声采集系统存在系统误差,导致难以达到μm级的超声测量精度。理论上,相位角相差180°的两个直探头可用于直径测量。直径计算可用以下公式表示为D=L-(t1+t2)·V/2,其中,D为被测管在某周向方位角(相位角)的直径;L为两个直探头直径的距离;t1和t2为两个直探头的界面波回波时间;V为水中声速;上述公式成立的充要条件有:1)两个探头的旋转中心与被检管材轴心重合;2)两个探头探头的声束轴线完全重合;3)水中声速稳定;4)两探头之间间距本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高转速条件下高精度自匹配外形尺寸测量方法,其特征在于:该方法具体包括如下步骤:步骤1、对被检管材采集数据进行标定;步骤2、对采集的被检管材标定信号进行周期分析;步骤2.1、进行信号预处理,滤除异常信号;步骤2.2、计算获取采集数据周期的标志位;步骤2.3、对两个探头采集数据的每个周期数据重采样;步骤3、对两探头采集数据的周期数据进行同相位数据统计分析;步骤4、对被检管材进行信号采集;步骤5、计算获得被检管材的外形尺寸;按照以下公式计算某一周期某一相位角上的管材外形尺寸Dt:Dt=D+ΔD其中,D为标定管标称直径;ΔD直径测量结果与标称值的差值。

【技术特征摘要】
1.一种高转速条件下高精度自匹配外形尺寸测量方法,其特征在于:该方法具体包括如下步骤:步骤1、对被检管材采集数据进行标定;步骤2、对采集的被检管材标定信号进行周期分析;步骤2.1、进行信号预处理,滤除异常信号;步骤2.2、计算获取采集数据周期的标志位;步骤2.3、对两个探头采集数据的每个周期数据重采样;步骤3、对两探头采集数据的周期数据进行同相位数据统计分析;步骤4、对被检管材进行信号采集;步骤5、计算获得被检管材的外形尺寸;按照以下公式计算某一周期某一相位角上的管材外形尺寸Dt:Dt=D+ΔD其中,D为标定管标称直径;ΔD直径测量结果与标称值的差值。2.根据权利要求1所述的一种高转速条件下高精度自匹配外形尺寸测量方法,其特征在于:所述的步骤2.2中计算获取采集数据周期的标志位的具体步骤为:系统稳定的情况下,采集的回波时间数据t成周期状态,独立分析每个周期的数据,利用精确的周期标志位来标识周期数据的起始和结束位置;步骤2.2.1、若检测系统中的探头旋转过程中用固定的标靶提供周期标志位,则直接获取;步骤2.2.2、若检测系统中没有硬件提供的周期标志位,则需要给出精确的周期标志位。3.根据权利要求2所述的一种高转速条件下高精度自匹配外形尺寸测量方法,其特征在于:所述的步骤2.2.2中在检测系统中没有硬件提供周期标志位的情况下,获得精确周期标志位的具体步骤为:步骤2.2.2.1、取周期数据t的峰值H%的位置为特征阈值;步骤2.2.2.2、计算获得该特征阈值上所对应的横坐标cti,其中,i=1,2,3…,n;步骤2.2.2.3、取cti序列的时间相邻时间差记为dcti=cti+1-cti;步骤2.2.2.4、以相邻时间差dcti相邻值进行对比,取较大/较小值位特征匹配组;当dcti<dcti+1,即是(cti+1-cti)<(cti+2-cti+1),若选小值位特征匹配组,则应该选(cti+1&cti)为一组;步骤2.2.2.5、以特征匹配组的特征位置pti=((1-pc)*cti+1+pc*cti),其中0≤pc≤1;该特征位置即可作为采集周期标志位。4.根据权利要求1所述的一种高转速条件下高精度自匹配外形尺寸测量方法,其特征在于:所述的步骤2.3中对两个探头采集数据的每个周期数据重采样的具体步骤为:对两个探头采集的数据t1和t2的每个周期数据重采样;相邻的周期标志位之间为一个周期数据;设周期内数据为:纵坐标y=ti~ti+k,对应的横坐标x=ni~ni+k,该周期数据在周期标志位ptj与ptj+1之间,则是ni-1<ptj<ni,ni+k&...

【专利技术属性】
技术研发人员:张益成聂勇蔡家藩谢航冯美名陈姝
申请(专利权)人:核动力运行研究所中核武汉核电运行技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:湖北,42

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