支撑平台、基因测序仪制造技术

本实用新型专利技术提供的一种支撑平台，包括芯片平台、光学平台及承载两者的支撑系统，所述支撑系统设有底板和垂直安装在所述底板上的背板、左侧板和右侧板，所述芯片平台安装在所述底板上方的支撑台上，所述光学平台安装在所述背板、所述左侧板、所述右侧板围成的顶面上，所述光学平台和所述芯片平台相互平行。本实用新型专利技术的支撑平台中光学平台和芯片平台均平行安装在支撑系统的底板上，并通过多槽加强侧板和底板的设定代替柱体结构，支撑强度高，两平台相对稳定性高；并且通过减震垫、重心平面的优化设计有效缓解震动及形变对系统的影响，从而获得高质量成像照片。本实用新型专利技术还提供一种基因测序仪。

Supporting Platform and Gene Sequencing Instrument

【技术实现步骤摘要】
支撑平台、基因测序仪
本技术涉及基因测序设备
，特别是指一种用于基因测序的支撑平台及应用该平台的基因测序仪。
技术介绍
本部分旨在为权利要求书中陈述的本技术的实施方式提供背景或上下文。此处的描述不因为包括在本部分中就承认是现有技术。现有基因测序仪的光学系统(图像处理系统)通常安装于一个光学平台上，而待检测的样品芯片放置于另一个芯片平台上，光学平台需与芯片平台相对平行，光学系统中的显微物镜垂直于芯片平台并对准芯片对样品芯片的荧光信息进行检测，拍摄荧光照片。由于高通量测序仪光学系统的分辨率较高，从而景深非常窄，为微米量级。在荧光照片拍摄过程中，如若显微物镜与芯片的工作距离发生了变化而超过了景深，就会降低整个视场的成像清晰度；如若显微物镜与芯片的垂直度发生了变化而边沿视场超过了景深，就会降低边沿视场的成像清晰度。而现有光学平台依靠支撑杆支撑且与芯片平台仅有一块连接板连接，使用过程外界或本身的震动及自重引起的形变，均会导致光学系统获取的荧光照片变得不清晰，致使基因测序仪测序数据质量下降，必要时需不断调试设备，重复测试，费时费力。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提供一种改进的支撑平台，其具有较好的支撑刚度，使得光学平台、显微物镜与芯片平台始终保持良好一致的平行度，获取的荧光照片质量高。本技术提供的技术方案为：一种支撑平台，包括芯片平台、光学平台及承载两者的支撑系统，所述支撑系统设有底板和垂直安装在所述底板上的背板、左侧板和右侧板，所述芯片平台安装在所述底板上方的支撑台上，所述光学平台安装在所述背板、所述左侧板、所述右侧板围成的顶面上，所述光学平台和所述芯片平台相互平行。进一步地，所述底板、所述左侧板、所述右侧板的外侧设置数个凹槽。进一步地，所述凹槽的纵剖面为长方形。进一步地，所述左侧板或所述右侧板或所述底板开设所述凹槽之后的余下壁厚相等。进一步地，相邻所述凹槽的邻边距离为同一数值。进一步地，所述左侧板、所述右侧板的腰部以上的厚度从上而下逐渐减小，所述左侧板、所述右侧板的底端相对水平延伸出法兰，所述法兰安装在所述底板上。进一步地，所述左侧板、所述右侧板的腰部外侧安装有连接件，所述连接件通过减震垫与其下方的平衡件固定连接，其中所述平衡件固定于所述支撑平台外装置上，所述减震垫用于减弱所述装置内所述支撑平台的震动。进一步地，所述减震垫设有4个，所述减震垫与所述连接件的接触平面处于所述支撑系统的重心平面，且所述重心平面、所述光学平台、所述芯片平台相互平行。本技术还提供一种基因测序仪，包括支撑装置和图像处理系统，所述支撑装置内侧承载有支撑平台，所述支撑装置与平衡件固定连接，且所述图像处理系统装载于所述光学平台上，其中，所述支撑平台，包括芯片平台、光学平台及承载两者的支撑系统，所述支撑系统设有底板和垂直安装在所述底板上的背板、左侧板和右侧板，所述芯片平台安装在所述底板上方的支撑台上，所述光学平台安装在所述背板、所述左侧板、所述右侧板围成的顶面上，所述光学平台和所述芯片平台相互平行。进一步地，所述底板、所述左侧板、所述右侧板的外侧设置数个凹槽。进一步地，所述凹槽的纵剖面为长方形。进一步地，所述左侧板或所述右侧板或所述底板开设所述凹槽之后的余下壁厚相等。进一步地，相邻所述凹槽的邻边距离为同一数值。进一步地，所述左侧板、所述右侧板的腰部以上的厚度从上而下逐渐减小，所述左侧板、所述右侧板的底端相对水平延伸出法兰，所述法兰安装在所述底板上。进一步地，所述左侧板、所述右侧板的腰部外侧安装有连接件，所述连接件通过减震垫与其下方的平衡件固定连接，其中所述平衡件固定于所述支撑平台外装置上，所述减震垫用于减弱所述装置内所述支撑平台的震动。进一步地，所述减震垫设有4个，所述减震垫与所述连接件的接触平面处于所述支撑系统的重心平面，且所述重心平面、所述光学平台、所述芯片平台相互平行。进一步地，所述图像处理系统包括光路模块和物镜，所述物镜的光轴与所述芯片平台相互平行，所述光路模块用于拍照并获取、处理图像信息。与现有技术相比，本技术提供的一种支撑平台，包括芯片平台、光学平台及承载两者的支撑系统，所述支撑系统设有底板和垂直安装在所述底板上的背板、左侧板和右侧板，所述芯片平台安装在所述底板上方的支撑台上，所述光学平台安装在所述背板、所述左侧板、所述右侧板围成的顶面上，所述光学平台和所述芯片平台相互平行。本技术的支撑平台中光学平台和芯片平台均平行安装在支撑系统的底板上，并通过多槽加强侧板和底板的设定代替柱体结构，支撑强度高，两平台相对稳定性高；并且通过减震垫、重心平面的优化设计有效缓解震动及形变对系统的影响，从而获得高质量成像照片。附图说明下面结合附图和具体实施方式对本技术作进一步详细的说明。图1为本技术一实施方式中支撑平台的立体图。图2为图1所示支撑平台的正视图。图3为从一视角观察的图1所示支撑平台的局部分解图。图4为从另一视角观察的图1所示支撑平台的局部分解图。附图标记说明:支撑平台100光学平台10芯片平台20底板30背板40左侧板50右侧板60支撑台70上支撑台71下支撑台72凹槽80法兰51、61连接件52、62减震垫90平衡件91重心平面A-A物镜92光学模块93如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本技术实施例。具体实施方式为了能够更清楚地理解本技术实施例的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本技术进行详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施方式中的特征可以相互组合。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术实施例，所描述的实施方式仅是本技术一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本技术中的实施方式，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本技术实施例保护的范围。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术实施例的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本技术实施例。请参阅图1，本技术的支撑平台100，用于基因测序仪上，包括芯片平台20、光学平台10及承载两者的支撑系统。所述芯片平台20，用于固定测序芯片。如图1所示，该芯片平台20上设有2组挡条，每一组挡条可用于安装一个长方形的测序芯片；图1还示出每一组挡条分别设于测序芯片的四周，每一根挡条的长度无需达到测序芯片的边缘轮廓的长度，如仅为其1/2长度，设于其中部外侧，细长条形状，与测序芯片接触部分为圆弧面。可以理解，该挡条优选具有导热性能的材料制成，例如金属铜。在其他实施方式中，挡条的大小、数量、甚至形状均不限制为本实施方式，仅需满足卡住固定对应的测序芯片即可。所述光学平台10，用于支撑光学系统的平台，安装有光学系统的光学模块93和显微物镜92。其中显微物镜92通过该光学平台10上开设的通孔，垂直于所述芯片平台20设置。所述光学模块93用于拍照、获取和处理荧光图像信息。为保证芯片平台20和光学平台10的平行度，获取高质量照片，本技术对所述支撑系统的系统变形、外界震动影响和支撑强度进行优化。下面结合图2、图3、图4对支撑系统进本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种支撑平台，包括芯片平台、光学平台及承载两者的支撑系统，其特征在于：所述支撑系统设有底板和垂直安装在所述底板上的背板、左侧板和右侧板，所述芯片平台安装在所述底板上方的支撑台上，所述光学平台安装在所述背板、所述左侧板、所述右侧板围成的顶面上，所述光学平台和所述芯片平台相互平行。

【技术特征摘要】
1.一种支撑平台，包括芯片平台、光学平台及承载两者的支撑系统，其特征在于：所述支撑系统设有底板和垂直安装在所述底板上的背板、左侧板和右侧板，所述芯片平台安装在所述底板上方的支撑台上，所述光学平台安装在所述背板、所述左侧板、所述右侧板围成的顶面上，所述光学平台和所述芯片平台相互平行。2.根据权利要求1所述的支撑平台，其特征在于：所述底板、所述左侧板、所述右侧板的外侧设置数个凹槽。3.根据权利要求2所述的支撑平台，其特征在于：所述凹槽的纵剖面为长方形。4.根据权利要求3所述的支撑平台，其特征在于：所述左侧板或所述右侧板或所述底板开设所述凹槽之后的余下壁厚相等。5.根据权利要求3所述的支撑平台，其特征在于：相邻所述凹槽的邻边距离为同一数值。6.根据权利要求1所述的支撑平台，其特征在于：所述左侧板、所述右侧板的腰部以上的厚度从上而下逐渐减小，所述左侧板、所述右侧板的底端相对水平延伸出法兰...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨斌，姜鹤鸣，
申请(专利权)人：深圳华大智造科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44