一种电子元器件外观检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种电子元器件外观检测装置，包括用于获取待检测的电子元器件的外观图像的图像获取模块、用于对所述外观图像进行处理，获取所述外观图像中包含的电子元器件的轮廓信息的图像处理模块、用于将所述轮廓信息与标准的轮廓信息进行对比，判断所述待检测的电子元器件的外观质量是否合格的外观质量判定模块。本发明专利技术通过获取待检测的电子元器件的外观图像来进行外观质量检测，解决了现有技术中依靠人力来检测的方式导致的速度慢和容易误检漏检的问题，极大地提高了生产效率。

【技术实现步骤摘要】
一种电子元器件外观检测装置
本专利技术涉及一种检测装置，具体涉及一种电子元器件外观检测装置。
技术介绍
电子市场迅速发展，市场上的电子元器件种类多，数量大，一些对外观都要求的电子元器件，目前还处于通过人工目测来进行外观检测的阶段。但是因为需要检测的项目过多，再加上个人观点偏差的影响，在负责监测的工人长时间工作后，这就往往会导致监测速度过慢，误判几率增加。
技术实现思路
针对上述问题，本专利技术提供了一种电子元器件外观检测装置。本专利技术的目的采用以下技术方案来实现：一种电子元器件外观检测装置，该装置包括图像获取模块、图像处理模块和外观质量判定模块；所述图像获取模块用于获取待检测的电子元器件的外观图像，并将其发送至图像处理模块；所述图像处理模块用于对所述外观图像进行处理，获取所述外观图像中包含的电子元器件的轮廓信息，并将所述轮廓信息发送至外观质量判定模块；所述外观质量判定模块用于将所述轮廓信息与标准的轮廓信息进行对比，判断所述待检测的电子元器件的外观质量是否合格。优选地，所述电子元器件外观检测装置还包括存储模块和信息更新模块，所述信息更新模块与云服务器相连接，所述云服务器上存储着电子元器件的标准轮廓信息以及质量合格标准，所述信息更新模块按照预定的更新间隔，将所述标准轮廓信息以及质量合格标准下载到所述存储模块，并将旧的标准轮廓信息以及质量合格标准进行删除，所述存储模块与所述外观质量判定模块电性连接。优选地，所述图像获取模块包括一照明单元，所述照明单元用于在光照不足时为所述图像获取模块提供光照。优选地，所述图像处理模块包括图像增强单元、灰度值调整单元、二值化处理单元和轮廓提取单元；所述图像增强单元，用于对所述外观图像进行图像增强处理；所述灰度值调整单元，用于对经过图像增强处理的外观图像进行灰度值调整；所述二值化处理单元用于对经过灰度值调整的外观图像进行二值化处理；所述轮廓提取单元用于对经过二值化处理的外观图像进行轮廓提取。优选地，所述图像增强单元包括第一处理子单元、第二处理子单元、第三处理子单元和第四处理子单元；所述第一处理子单元用于对所述外观图像进行小波分解，获取其高频系数和低频系数；所述第二处理子单元用于采用自定义的函数对所述高频系数进行处理，获得经过处理的高频系数；所述第三处理子单元用于采用自定义的算法对低频系数进行处理，获得经过处理的低频系数和第二高频系数；所述第四处理子单元用于根据经过处理的高频系数和第二高频系数，通过重构获得图像增强后的外观图像。优选地，所述对所述外观图像进行小波分解，获取其高频系数和低频系数，包括：采用下述式子对所述外观图像进行灰度化处理：GS(a,b)＝δ1R(a,b)+δ2G(a,b)+δ3B(a,b)式中，GS(a,b)表示外观图像中第a行第b列的像素点的灰度值，δ1、δ2、δ3分别表示红、绿、蓝三种基色分量预设的权重值，R(a,b)、G(a,b)、B(a,b)分别表示外观图像中第a行第b列的像素点，其中a∈[1,O],b∈[1,P]，O、P分别表示所述外观图像纵向和横向的像素点的总数；所述外观图像的像素点总数为O×P；采用下面的函数获取所述外观图像的高频系数：采用下面的函数获取所述外观图像的低频系数：式中，为二维小波变换的尺度函数，COHFvar(sca,o,p)表示所述外观图像的高频系数，α1+α2＝1，α1和α2为预设的权重参数；adjp为预设的调整参数；var∈[S,C,D]，S,C,D分别表示在二维小波变换中HL，LH，HH这三个区域的子带图，sca为函数所采用的尺度参数，g(v,w)为预设的离散函数，v,w为离散函数中的变量，o,p为分别相对v,w的偏差量，所述外观图像的像素点总数为O×P，表示小波细节函数。优选地，所述采用自定义的函数对所述高频系数进行处理，获得经过处理的高频系数，包括：采用下述式子对所述高频系数进行处理：式中，afCOHF为经过处理的高频系数，COHFvar(sca,o,p)为小波分解获得的高频系数，表tha和thb为设定的阈值参数，sgn为符号函数。优选地，所述采用自定义的算法对低频系数进行处理，获得经过处理的低频系数和第二高频参数，包括：采用下面的函数对所述低频系数进行处理：式中，β1和β2为预设的低频系数处理权重，afCOLF为经过处理的低频系数，X(o,p,v,w)为设定的核函数，其中，BAP为预设的灰度级参数，FWP为窗口滤波参数，表示以正在处理的像素点为重心，边长为FWP个像素点的正方形窗口；E为规整化参数，k∈[1.K]，k为对低频系数进行滤波时采用的区域窗口的总数，nwpk为区域窗口k中像素点的总数，ηk为区域窗口k中所有像素点灰度值的的标准差，pjgk为区域窗口k中所有像素点的灰度值的平均数，dk＝pjgk-ckηk；对经过处理的低频系数afCOLF再次进行小波分解，获得第二高频系数afCOLF2。优选地，所述根据经过处理的高频系数和第二高频系数，通过重构获得图像增强后的外观图像，包括：将高频系数afCOHF和第二高频系数afCOLF2进行逆变换，获得重构后的外观图像CGP。优选地，所述对经过图像增强处理的外观图像进行灰度值调整，包括：采用下述式子调整所述外观图像中的每个像素点的灰度值：ADPG(a,b)＝f(a,b)×J(a,b)式中，GS(a,b)为外观图像中第a行第b列的像素点的灰度值，LQ为调整参数，使得G的值小于等于255，Φ(a,b)为外观图像中第a行第b列的像素点垂直方向的梯度和水平方向的梯度之和，tg1、tg2、tg3均为设定的灰度值调整参数。优选地，所述对经过光照均匀校正处理的外观图像进行二值化处理，包括：采用下述式子对所述外观图像进行二值化处理：式中，Bin(a,b)表示所述外观图像中，经过二值化处理后的第a行第b列的像素点的灰度值；其中，t为预设的范围参数，t取值为偶数，u为预设的二值化调整参数。优选地，所述图像获取模块从预设的不同角度获取待检测的电子元器件的外观图像，从而全面地检测所述电子元器件的外观情况。本专利技术的有益效果为：本专利技术通过设立图像获取模块、图像处理模块和外观质量判定模块，通过获取待检测的电子元器件的外观图像来进行外观质量检测，解决了现有技术中依靠人力来检测的方式导致的速度慢和容易误检漏检的问题，极大地提高了生产效率。附图说明利用附图对本专利技术作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本专利技术的任何限制，对于本领域的普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据以下附图获得其它的附图。图1，为本专利技术一种电子元器件外观检测装置的一种示例性实施例图。附图标记：图像获取模块1、图像处理模块2、外观质量判定模块3。具体实施方式结合以下实施例对本专利技术作进一步描述。参见图1，本专利技术的一种电子元器件外观检测装置，该装置包括图像获取模块1、图像处理模块2和外观质量判定模块3；所述图像获取模块1用于获取待检测的电子元器件的外观图像，并将其发送至图像处理模块2；所述图像处理模块2用于对所述外观图像进行处理，获取所述外观图像中包含的电子元器件的轮廓信息，并将所述轮廓信息发送至外观质量判定模块3；所述外观质量判定模块3用于将所述轮廓信息与标准的轮廓信息进行对比，判断所述待检测的电子元器件的外观质量是否合格。本专利技术上本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子元器件外观检测装置，其特征在于，该装置包括图像获取模块、图像处理模块和外观质量判定模块；所述图像获取模块用于获取待检测的电子元器件的外观图像，并将其发送至图像处理模块；所述图像处理模块用于对所述外观图像进行处理，获取所述外观图像中包含的电子元器件的轮廓信息，并将所述轮廓信息发送至外观质量判定模块；所述外观质量判定模块用于将所述轮廓信息与标准的轮廓信息进行对比，判断所述待检测的电子元器件的外观质量是否合格。

【技术特征摘要】
1.一种电子元器件外观检测装置，其特征在于，该装置包括图像获取模块、图像处理模块和外观质量判定模块；所述图像获取模块用于获取待检测的电子元器件的外观图像，并将其发送至图像处理模块；所述图像处理模块用于对所述外观图像进行处理，获取所述外观图像中包含的电子元器件的轮廓信息，并将所述轮廓信息发送至外观质量判定模块；所述外观质量判定模块用于将所述轮廓信息与标准的轮廓信息进行对比，判断所述待检测的电子元器件的外观质量是否合格。2.如权利要求1所述的电子元器件外观检测装置，其特征在于，所述图像获取模块包括一照明单元，所述照明单元用于在光照不足时为所述图像获取模块提供光照。3.如权利要求1所述的电子元器件外观检测装置，其特征在于，所述电子元器件外观检测装置还包括存储模块和信息更新模块，所述信息更新模块与云服务器相连接，所述云服务器上存储着电子元器件的标准轮廓信息以及质量合格标准，所述信息更新模块按照预定的更新间隔，将所述标准轮廓信息以及质量合格标准下载到所述存储模块，并将旧的标准轮廓信息以及质量合格标准进行删除，所述存储模块与所述外观质量判定模块电性连接。4.如权利要求1所述的电子元器件外观检测装置，其特征在于，所述图像处理模块包括图像增强单元、灰度值调整单元、二值化处理单元和轮廓提取单元；所述图像增强单元，用于对所述外观图像进行图像增强处理；所述灰度值调整单元，用于对经过图像增强处理的外观图像进行灰度值调整；所述二值化处理单元用于对经过灰度值调整的外观图像进行二值化处理；所述轮廓提取单元用于对经过二值化处理的外观图像进行轮廓提取。5.如权利要求4所述的电子元器件外观检测装置，其特征在于，所述图像增强单元包括第一处理子单元、第二处理子单元、第三处理子单元和第四处理子单元；所述第一处理子单元用于对所述外观图像进行小波分解，获取其高频系数和低频系数；所述第二处理子单元用于采用自定义的函数对所述高频系数进行处理，获得经过处理的高频系数；所述第三处理子单元用于采用自定义的算法对低频系数进行处理，获得经过处理的低频系数和第二高频系数；所述第四处理子单元用于根据经过处理的高频系数和第二高频系数，通过重构获得图像增强后的外观图像。6.如权利要求5所述的电子元器件外观检测装置，其特征在于，所述对所述外观图像进行小波分解，获取其高频系数和低频系数，包括：采用下述式子对所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙磊，许海财，陈伦森，
申请(专利权)人：深圳市阿赛姆电子有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44