定位测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种定位测试装置，包括上部定位结构、底座及定位块，所述底座设有导向槽，所述上部定位结构包括导向件，所述定位块设有抵触定位结构，所述定位块设有探针测试孔，所述定位块固定于所述底座，待测试连接器固定于所述导向件，所述导向件配合收容于所述导向槽进行初次定位，所述待测试连接器抵触于所述抵触定位结构进行二次定位，所述待测试连接器包括抵触片，测试探针穿过所述探针测试孔抵触于所述抵触片进行测试，实现测试探针与待测试连接器垂直接触及转接，解决了压伤产品、损坏探针、重测率偏高等问题，双次定位降低了对零部件加工精度及组装精度的要求，降低了加工成本，方便了工人师傅的操作。

【技术实现步骤摘要】
定位测试装置
本技术涉及电路板测试领域，尤其涉及一种定位测试装置。
技术介绍
目前，在连接器测试领域，传统的设计模式为：POGOPIN模组靠连接器外形导向定位，在受力后，POGOPIN模组的探针与产品触点接触，实现信号的传输，但该测试模式存在明显的弊端：当产品连接器因为组装精度达不到，超出POGOPIN自身可适用的偏差范围后，POGOPIN会直接压到连接器外形从而导致压伤产品、损坏探针、重测率偏高和对零部件加工精度及组装精度要求极高等问题，定位不便，给测试带来麻烦。
技术实现思路
为了克服现有技术的不足，本技术的目的之一在于提供一种定位测试装置，其能解决定位不便测试麻烦的问题。本技术的目的之一采用如下技术方案实现：一种定位测试装置，包括上部定位结构、底座及定位块，所述底座设有导向槽，所述上部定位结构包括导向件，所述定位块设有抵触定位结构，所述定位块设有探针测试孔，所述定位块固定于所述底座，待测试连接器固定于所述导向件，所述导向件配合收容于所述导向槽进行初次定位，所述待测试连接器抵触于所述抵触定位结构进行二次定位，所述待测试连接器包括抵触片，测试探针穿过所述探针测试孔抵触于所述抵触片进行测试。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种定位测试装置，包括上部定位结构、底座及定位块，其特征在于：所述底座设有导向槽，所述上部定位结构包括导向件，所述定位块设有抵触定位结构，所述定位块设有探针测试孔，所述定位块固定于所述底座，待测试连接器固定于所述导向件，所述导向件配合收容于所述导向槽进行初次定位，所述待测试连接器抵触于所述抵触定位结构进行二次定位，所述待测试连接器包括抵触片，测试探针穿过所述探针测试孔抵触于所述抵触片进行测试。

【技术特征摘要】
1.一种定位测试装置，包括上部定位结构、底座及定位块，其特征在于：所述底座设有导向槽，所述上部定位结构包括导向件，所述定位块设有抵触定位结构，所述定位块设有探针测试孔，所述定位块固定于所述底座，待测试连接器固定于所述导向件，所述导向件配合收容于所述导向槽进行初次定位，所述待测试连接器抵触于所述抵触定位结构进行二次定位，所述待测试连接器包括抵触片，测试探针穿过所述探针测试孔抵触于所述抵触片进行测试。2.如权利要求1所述的定位测试装置，其特征在于：所述上部定位结构还包括本体，所述本体设有定位槽，所述导向件配合收容于所述定位槽。3.如权利要求2所述的定位测试装置，其特征在于：所述本体包括导套，所述底座还包括导柱，所述导柱配合收容于所述导套。4.如权利要求2所述的定位测试装置，其特征在于：所述上部定位结构还包括两个固定结构，所述固定结构包括固定板、抵触部、转动部、螺丝、转轴及弹簧，所述抵触部和所述转动部固定于所述固定板，所述抵触部通过所述螺丝可拆卸固定于所述本体，所述转动部通过所述转轴转动安装于所述本体，所述弹簧两端通过卡销分别固定于所述固定板和所述本体...

【专利技术属性】
技术研发人员：王波，
申请(专利权)人：苏州市运泰利自动化设备有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32