【技术实现步骤摘要】
一种电子产品低温试验装置
本技术涉及一种低温试验装置，具体为一种电子产品低温试验装置，属于低温试验装置
技术介绍
随着科技的发展，电子设备的种类越来越多，电子产品的性能等参数是反映电子产品基本性能的重要特性指标，而这些指标受温度影响尤其是受低温影响较大，所以模拟其低温环境对电池各性能参数进行测试，显得尤为重要。目前，进行电子产品低温试验时，一般采用市面上的高低温试验箱或者高精度恒温试验箱来进行，但这些试验箱存在较大的不足，其一、价格较高、体积较大、温度调节速度较慢，内部温度分布不均匀，其二、不能形成较好的密闭空间，因此在试验过程中会受到外界环境的影响，导致试验结果存在一定的误差，其三、位于密封罩下方的试验台为固定的，在试验结束后，依然处于较低温度，而试验人员在拿取电子产品时容易被冻伤，其四、不能同时对多个电子产品进行试验，导致试验效率较低。
技术实现思路
本技术的目的就在于为了解决上述问题而提供一种电子产品低温试验装置。本技术通过以下技术方案来实现上述目的：一种电子产品低温试验装置，包括基板、支撑板、U形限位板、密封罩、温度表、试验台面、滑轨、凹槽、转盘、立柱、...
【技术保护点】
1.一种电子产品低温试验装置，其特征在于：包括基板(1)、支撑板(2)、U形限位板(3)、密封罩(4)、温度表(5)、试验台面(6)、滑轨(7)、凹槽(8)、转盘(9)、立柱(10)、安置板(11)、制冷压缩机(12)和连接螺栓(13)；呈方形状的所述基板(1)位于该试验装置的底部，所述支撑板(2)通过焊接分别竖直固定在基板(1)的两侧，所述支撑板(2)上端安装有U形限位板(3)，所述密封罩(4)设置在基板(1)上方，且所述密封罩(4)位于左右侧支撑板(2)之间，所述密封罩(4)与U形限位板(3)之间通过连接螺栓(13)进行连接，所述温度表(5)安装在U形限位板(3)上板面...
【技术特征摘要】
1.一种电子产品低温试验装置，其特征在于：包括基板(1)、支撑板(2)、U形限位板(3)、密封罩(4)、温度表(5)、试验台面(6)、滑轨(7)、凹槽(8)、转盘(9)、立柱(10)、安置板(11)、制冷压缩机(12)和连接螺栓(13)；呈方形状的所述基板(1)位于该试验装置的底部，所述支撑板(2)通过焊接分别竖直固定在基板(1)的两侧，所述支撑板(2)上端安装有U形限位板(3)，所述密封罩(4)设置在基板(1)上方，且所述密封罩(4)位于左右侧支撑板(2)之间，所述密封罩(4)与U形限位板(3)之间通过连接螺栓(13)进行连接，所述温度表(5)安装在U形限位板(3)上板面，所述试验台面(6)通过滑轨(7)安置在基板(1)上，所述滑轨(7)平行开设在基板(1)上板面，所述凹槽(8)开设在基板(1)上板面且位于试验台面(6)的外侧，所述转盘(9)的一端与试验台面(6)通过焊接固定在一起，且所述转盘(9)位于试验台面(6)的中心位置，所述立柱(10)竖直固定在转...
【专利技术属性】
技术研发人员：张贵兵，
申请(专利权)人：深圳市鑫宇环检测有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44
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