一种LED老化状态自动检测与寿命评估系统及其方法技术方案

技术编号:21396790 阅读:23 留言:0更新日期:2019-06-19 06:26
本发明专利技术涉及一种LED老化状态自动检测与寿命评估系统及其方法,用于对LED样品进行特征参量采集以及用于对LED样品进行寿命试验与寿命评估,包括:电源模块、老化箱、数据采集模块、人机交互模块、寿命评估模块;以及一种LED老化状态自动检测与寿命评估方法,将LED样品置入老化箱进行加速老化试验;LED样品寿命试验参数传输至寿命评估模块,寿命评估模块通过采用概率统计的方法计算寿命试验的LED样品在加速应力下的平均试验时间;寿命评估模块建立多个LED样品的寿命预测模型,并根据试验结果对寿命预测模型进行参数估计;寿命评估模块对该型号、该批次LED样品在实际使用条件下的剩余寿命进行计算,最终获得被测LED在实际使用条件下的使用寿命。

【技术实现步骤摘要】
一种LED老化状态自动检测与寿命评估系统及其方法
本专利技术属于检测
,具体涉及一种LED的状态检测和寿命评估系统及其方法。
技术介绍
现有技术中,LED可以把电能转化成光能,其具备效率高,光色纯,应用灵活,光线质量高等特点,因此在许多光电控制设备中用作光源,在电子设备中用作信号显示器。然而LED在使用过程中,由于电流及外界环境的影响,其会不可避免的发生老化。LED的老化主要包括芯片的老化以及封装的老化。芯片的老化机理,包括热量积累导致的热机械应力加强、芯片裂纹扩大,工艺不良导致的芯片粘结层完全脱离粘结面等。封装的老化机理主要是高温与潮湿导致封装材料劣化,水汽渗入封装材料内部,导致引线变质、PCB铜线锈蚀,随水汽引入的可动导电离子会驻留在芯片表面,从而造成漏电。老化的LED灯发光效率会大大降低,光色的纯度下降,甚至发生烧毁。但是LED的老化不易直接观察判断,由于应用数量巨大,也不易通过全部检测来判断。作为现代化节能环保的灯具,一旦发生老化或烧毁,电路将失去指示功能,对维修工作带来巨大的影响。这种现象对于某些重要电路,存在重大的安全隐患。现有技术中,LED测试技术包括LED电压测量、电流测量、分光检测技术等。虽然人们对LED老化状态有了新的了解和认识,但是对LED进行老化的过程很漫长,目前并没有很好的方式来实现仅对LED实际使用状态所提供的诸如环境温湿度变化、输入电流的变化、光通量的变化、使用时间的变化这类参数通过相应的实验,并加以公式推导来计算出LED实际的剩余使用寿命。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种LED老化状态自动检测与寿命评估系统和一种LED老化状态自动检测与寿命评估方法,以解决现有技术中存在的LED样品件需要进行长时间试验才能得出使用寿命,无法对LED样品进行寿命预判,导致LED样品件损坏所带来的维修工作难度大的问题。为了解决上述问题,本专利技术涉及一种LED老化状态自动检测与寿命评估系统,用于对LED样品进行特征参量采集以及用于对LED样品进行寿命试验与寿命评估,其特征在于,包括:电源模块、老化箱、数据采集模块、人机交互模块、寿命评估模块;所述电源模块为直流稳压电源,用于为LED样品、所述老化箱、所述数据采集模块、所述人机交互模块和所述寿命评估模块提供稳定的工作电源;所述老化箱用于对LED样品提供加速老化试验所需温度和湿度,LED样品置入所述老化箱内;所述数据采集模块用于对LED样品加速老化试验状态进行检测,并将采集到的LED样品加速老化试验状态检测参数提供给寿命评估模块;所述人机交互模块通过人工干预,对所述数据采集模块采集到参数进行比对调整,并展示被检测LED样品函数关系;所述人机交互模块启动寿命评估模块,以及对所述寿命评估模块的无效的LED样品寿命试验参数进行剔除;所述寿命评估模块用于根据所述数据采集模块提供的LED样品寿命试验状态检测参数进行运算,以评估单个LED样品在特定环境下的使用寿命。进一步,所述数据采集模块用于对LED寿命试验状态进行检测,即检测多个LED样品在进行加速老化试验过程中所述老化箱提供的温度和湿度参数,检测LED样品在加速老化试验过程中所流经的电流参数,以及检测LED样品在寿命试验过程中的光通量和LED的通电正常运行时间参数。进一步,所述人机交互模块通过人工干预,对所述数据采集模块采集到的LED样品寿命试验状态参数和所述人机交互模块的预设定参数进行比对,对LED样品寿命试验状态参数进行调整,选定不同类型的多个LED样品寿命试验电流,包括恒定电流、阶跃电流、脉冲电流以及工频正弦电流,同时能够调整寿命试验电流的大小;并周期采集LED样品寿命试验状态参数;同时所述人机交互模块用于展示被检测LED样品寿命试验状态参数之间的函数关系图,所述函数关系图为LED时间和温度变化曲线以及时间和光通量变化曲线;所述人机交互模块启动寿命评估模块,通过所述人机交互模块剔除所述寿命评估模块无效的LED寿命试验参数。本专利技术还涉及一种LED老化状态自动检测与寿命评估方法,其特征在于,包括:电源模块、老化箱、数据采集模块、人机交互模块、寿命评估模块;所述自动检测与寿命评估方法包括如下的步骤:步骤S1:LED样品置入老化箱进行加速老化试验,数据采集模块采集加速老化试验参数;步骤S2:定期从老化箱内取出进行加速老化试验的LED样品,并通过采集光通量数值以反馈加速老化试验状态;当加速老化试验达到停止寿命试验终止条件,则停止加速老化试验,并启动寿命评估模块;步骤S3:LED样品加速老化试验参数传输至寿命评估模块,寿命评估模块通过采用概率统计的方法计算寿命试验的LED样品在加速应力下的平均试验时间;步骤S4:寿命评估模块建立多个LED样品的寿命预测模型;步骤S5:寿命评估模块对寿命预测模型进行参数确定;步骤S6:寿命评估模块根据最终检测寿命试验参数对多个LED样品进行剩余寿命预测。进一步,步骤S1:LED样品置入老化箱进行加速老化试验,数据采集模块采集加速老化试验参数;具体为老化箱为LED样品进行加速老化试验,并检测加速老化试验参数;试验所需温度和湿度,所述数据采集模块采集LED样品在老化箱进行加速老化试验,并检测加速老化试验参数;试验状态检测参数,并提供给所述寿命评估模块;且所述人机交互模块通过人工干预,对所述数据采集模块采集到参数进行比对调整,并展示被检测LED样品函数关系。进一步,步骤S2:定期从老化箱内取出进行加速老化试验的LED样品,并通过采集光通量数值以反馈加速老化试验状态;当加速老化试验达到停止寿命试验终止条件,则停止加速老化试验,并启动寿命评估模块;具体为从所述老化箱内取出进行寿命试验的LED样品,采用光通量测试仪,对所述老化箱内取出的LED样品进行通电试验,当LED样品光通量减少50%以上时,即判定为LED样品失效,该样品退出试验;并同时满足LED样品中产生失效的LED样品数量占总体数量2/3以上,即该LED样品中2/3以上样品退出试验时,达到试验终止条件,即停止寿命试验;此时可以开启寿命评估模块。进一步,步骤S3:LED样品加速老化试验参数传输至寿命评估模块,寿命评估模块通过采用概率统计的方法计算寿命试验的LED样品在加速应力下的试验时间;具体为:通过所述数据采集模块采集到的多个LED样品寿命试验检测参数中有关试验时间的参数,采用平均秩法计算经验故障分布函数进行计算:式中AK-1初始为0,n为样品个数,通过计算得出ΔAk的值,ΔAk为平均秩次增量,k为退出样品的顺序号,i为所有样品的按退出首次时间顺序排列号;Ak=Ak-1+ΔAk(2)将式(1)中的ΔAk的值和AK-1的值相加得出式(2)中的Ak的值,其中Ak为退出样品的平均秩次;式中F(tk)为累积故障率,tk为第k个样品的退出前运行时间(h);R(t)=1-F(tk)(4)将式(3)中F(tk)值代入式(4)中得出R(t)的值,通过行数计算式以计算经验可靠性指标,其中R(t)为经验可靠度;通过上述公式(1)-(4)计算出的经验可靠性指标后,采用双参数威布尔分布模型对经验可靠性指标参数进行估计;双参数威布尔分布的失效率函数λ(t)表达式如下:式中α为尺度参数,β为形状参数,t为时间,通过将α、β和t的值带入失效率函数λ本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种LED老化状态自动检测与寿命评估系统,用于对LED样品进行特征参量采集以及用于对LED样品进行寿命试验与寿命评估,其特征在于,包括:电源模块、老化箱、数据采集模块、人机交互模块、寿命评估模块;所述电源模块为直流稳压电源,用于为LED样品、所述老化箱、所述数据采集模块、所述人机交互模块和所述寿命评估模块提供稳定的工作电源;所述老化箱用于对LED样品提供加速老化试验所需温度和湿度,LED样品置入所述老化箱内;所述数据采集模块用于对LED样品加速老化试验状态进行检测,并将采集到的LED样品加速老化试验状态检测参数提供给寿命评估模块;所述人机交互模块通过人工干预,对所述数据采集模块采集到的参数进行比对调整,并展示被检测LED样品函数关系;所述人机交互模块启动寿命评估模块,以及对所述寿命评估模块的无效的LED样品寿命试验参数进行剔除;所述寿命评估模块用于根据所述数据采集模块提供的LED样品寿命试验状态检测参数进行运算,以评估LED样品在实际使用条件下的寿命。

【技术特征摘要】
1.一种LED老化状态自动检测与寿命评估系统,用于对LED样品进行特征参量采集以及用于对LED样品进行寿命试验与寿命评估,其特征在于,包括:电源模块、老化箱、数据采集模块、人机交互模块、寿命评估模块;所述电源模块为直流稳压电源,用于为LED样品、所述老化箱、所述数据采集模块、所述人机交互模块和所述寿命评估模块提供稳定的工作电源;所述老化箱用于对LED样品提供加速老化试验所需温度和湿度,LED样品置入所述老化箱内;所述数据采集模块用于对LED样品加速老化试验状态进行检测,并将采集到的LED样品加速老化试验状态检测参数提供给寿命评估模块;所述人机交互模块通过人工干预,对所述数据采集模块采集到的参数进行比对调整,并展示被检测LED样品函数关系;所述人机交互模块启动寿命评估模块,以及对所述寿命评估模块的无效的LED样品寿命试验参数进行剔除;所述寿命评估模块用于根据所述数据采集模块提供的LED样品寿命试验状态检测参数进行运算,以评估LED样品在实际使用条件下的寿命。2.根据权利要求1所述的LED老化状态自动检测与寿命评估系统,其特征在于,所述数据采集模块用于对LED寿命试验状态进行检测,检测多个LED样品在进行加速老化试验过程中所述老化箱提供的温度和湿度参数,检测LED样品在加速老化试验过程中所流经的电流参数,以及检测LED样品在寿命试验过程中的光通量和LED的通电正常运行时间参数。3.根据权利要求1所述的LED老化状态自动检测与寿命评估系统,其特征在于,所述人机交互模块通过人工干预,对所述数据采集模块采集到的LED样品寿命试验状态参数和所述人机交互模块的预设定参数进行比对,对LED样品寿命试验状态参数进行调整,并周期采集LED样品寿命试验状态参数;同时所述人机交互模块用于展示被检测LED样品寿命试验状态参数之间的函数关系图,所述函数关系图为LED时间和温度变化曲线以及时间和光通量变化曲线;所述人机交互模块启动寿命评估模块,通过所述人机交互模块剔除所述寿命评估模块无效的LED寿命试验参数。4.一种LED老化状态自动检测与寿命评估方法,其特征在于,包括:电源模块、老化箱、数据采集模块、人机交互模块、寿命评估模块;所述自动检测与寿命评估方法包括如下的步骤:步骤S1:LED样品置入老化箱进行加速老化试验,数据采集模块采集加速老化试验参数;步骤S2:定期从老化箱内取出进行加速老化试验的LED样品,并通过采集光通量数值以反馈加速老化试验状态;当加速老化试验达到停止寿命试验终止条件,则停止加速老化试验,并启动寿命评估模块;步骤S3:LED样品加速老化试验参数传输至寿命评估模块,寿命评估模块通过采用概率统计的方法计算寿命试验的LED样品在加速应力下的平均试验时间;步骤S4:寿命评估模块建立多个LED样品的寿命预测模型;步骤S5:寿命评估模块对寿命预测模型进行参数确定;步骤S6:寿命评估模块根据最终检测寿命试验参数对多个LED样品进行剩余寿命预测。5.根据权利要求4所述的LED老化状态自动检测与寿命评估方法,其特征在于,步骤S1:LED样品置入老化箱进行加速老化试验,数据采集模块采集加速老化试验参数;具体为老化箱为LED样品进行加速老化试验,并检测加速老化试验参数;试验所需温度和湿度,所述数据采集模块采集LED样品在老化箱进行加速老化试验,并检测加速老化试验参数;试验状态检测参数,并提供给所述寿命评估模块;且所述人机交互模块通过人工干预,对所述数据采集模块采集到参数进行比对,展示被检测LED样品函数关系。6.根据权利要求5所述的LED老化状态自动检测与寿命评估方法,其特征在于,步骤S2:定期从老化箱内取出进行加速老化试验的LED样品,并通过采集光通量数值以反馈加速老化试验状态;当加速老化试验达到停止寿命试验终止条件,则停止加速老化试验,并启动寿命评估模块;具体为从所述老化箱内取出进行寿命试验的LED样品,采用光通量测试仪,对所述老化箱内取出的LED样品进行通电试验,当LED样品光通量减少50%以上时,即判定为LED样品失效,该样品退出试验;并同时满足LED样品中产生失效的LED样品数量占总体数量2/3以上,即该LED样品中2/3以上样品退出试验时,达到试验...

【专利技术属性】
技术研发人员:石颉田昌前赵德宇董佳琦袁晨翔孔维相
申请(专利权)人:苏州科技大学
类型:发明
国别省市:江苏,32

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