触摸屏寿命的测试方法技术

一种触摸屏寿命测试方法，包括如下步骤：提供一具有开孔的测试板以及至少一测试珠；提供一待测屏，同时在该待测屏上任意选择一具有触摸功能的测试区域；提供一振动试验机台，将所述待测屏及所述测试板固定于所述振动试验机台上，所述测试板位于所述待测屏之上且所述开孔正对所述测试区域,所述测试球置于所述开孔内；所述振动试验机台振动；每隔一预定时间检查所述待测屏的功能是否正常；记录所述待测屏幕每一次测试时间以及每次测试结果。

【技术实现步骤摘要】
触摸屏寿命的测试方法
本专利技术涉及一种触摸屏寿命的测试方法。
技术介绍
近年来，触摸屏以其操作简单、直接等优势已经广泛的应用于手机、电脑等领域。常见的触摸屏可分为电容式触摸屏和电阻式触摸屏。电容式触摸屏受外界温度、湿度、地面干燥度、灰尘等环境因素影响较大而适合环境条件好的场所使用。电阻式触摸屏对灰尘、水汽等环境因素的影响较小，因此更适合环境较复杂、恶劣的场所。对于许多工业平板计算机来说，其生产环境相对较差，一般需要安装电阻式触摸屏。然而，电阻式触摸屏的生产厂商众多，如何快速的测试出各个厂商的电阻式触摸屏质量和寿命显得尤为重要。现有技术中，测试电阻式触摸屏寿命一般利用触摸屏寿命测试机，通过点击划线或敲击测试寿命，但是此种方法测试触摸屏寿命所需的时间较长，而且针对某一固定点或线测试误差较大。因此，如何能够快速、高效、准确的测试出触摸屏的寿命的方法，且通过该测试方法能从众多触摸屏厂商中选择出寿命较长、质量优越的触摸屏显得尤为重要。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供一种高效率、高精度的触摸屏的测试方法。一种触摸屏寿命的测试方法，包括如下步骤：提供一具有开孔的测试板以及至少一测试珠；提供一待测屏，同时在该待测屏上任意选择一具有触摸功能的测试区域；提供一振动试验机台，将所述待测屏及所述测试板固定于所述振动试验机台上，所述测试板位于所述待测屏之上且所述开孔正对所述测试区域,所述测试球置于所述开孔内；所述振动试验机台振动；每隔一预定时间检查所述待测屏的功能是否正常；记录所述待测屏幕每一次测试时间以及每次测试结果。进一步地，所述开孔呈圆形且贯穿所述测试板的上下表面。进一步地，所述测试珠为钢珠，所述测试珠的数量为多个且规格均相同，每一测试珠的直径为8mm，质量为0.002kg。进一步地，所述测试区域呈圆形且所述测试区域的直径等于所述开孔的直径。进一步地，通过固定架将所述待测屏和测试板固定于所述振动试验机台上。进一步地，所述振动试验机台的振动方式为正弦振动，所述振动试验机台的振动频率为10Hz-40Hz。进一步地，所述测试珠对待测屏的敲击力大于所述待测屏的触摸力范围,小于待测屏的最大承受力范围。进一步地，所述测试珠对待测屏的敲击力为2.5N。进一步地，检查所述待测屏的功能是否正常的方法为，用测试球在待测屏的所述测试区域上来回滚动并分析所述测试球划线的轨迹是否连续，若所述测试球每次画线的轨迹均连续则代表所述待测屏幕功能正常，若所述测试球画线轨迹出现断线或者非连续，且该断线或非连续区域内无论怎样均不能画出测试球的轨迹代表所述待测屏损坏。进一步地，所述测试球的直径为25.4mm，质量为66g。在本专利技术实施例所述触摸屏寿命的测试方法中，通过在振动试验机上利用测试珠敲击待测屏，并且每隔预定的时间利用测试球进行待测屏功能检测，从而实现待测屏的检测高效、快捷，而且整个测试过程是对所述待测屏上测试区域进行测试，使得测试的误差较小。进一步地，本专利技术实施例所述触摸屏寿命无需专门购买触摸屏寿命测试仪器，还降低了生产成本。附图说明图1所示为本专利技术实施例中所述触摸屏寿命的测试方法中提供的测试版以及测试珠示意图。图2所示为本专利技术实施例中所述触摸屏寿命的测试方法中提供的待测屏示意图；图3所示为本专利技术实施例所述触摸屏寿命测试方法中提供的振动试验机台以及将待测屏、测试板以及测试珠放置在所述振动试验机台上之后的结构示意图。图4所示为本专利技术实施例中所述触摸屏寿命的测试方法中通过一固定架将待测屏固定在振动试验机台上的示意图。图5所示为检查判断待测屏功能正常的示意图。图6所示为检查判断待测屏功能损坏的示意图。图7a-7e所示为通过本专利技术实施例所述触摸屏寿命检测方法对不同厂商对应的A、B、C、D、E五种电阻式触摸屏测试后检查其功能的结果示意图。主要元件符号说明如下具体实施方式将上述附图进一步说明本专利技术。具体实施方式下面将本专利技术实施方式中的附图，对本专利技术实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式仅仅是本专利技术一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本专利技术中的实施方式，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本专利技术保护的范围。本文中所使用的方位词“第一”、“第二”均是以使用时所述第一基板的位置定义，而并不限定。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本专利技术。本专利技术实施例中所述触摸屏寿命的测试方法包括如下步骤：步骤一：如图1所示，提供一具有开孔11的测试板10以及6颗测试珠20。在本专利技术实施例中，所述测试板10的开孔11呈圆形，且所述开孔贯穿所述测试板10的上下表面。所述开孔11的直径为50mm。所述测试珠20为钢珠，所述测试珠20的规格相同，每一所述测试珠20直径为8mm，每一所述测试珠的质量为0.002kg。步骤二：如图2所示，提供一待测屏30，并在该待测屏30上任意选择一具有触摸功能的测试区域31。在本专利技术实施例中，所述待测屏30为电阻式触摸屏。所述测试区域呈圆形，所述测试区域直径等于50mm。步骤三：如图3所示，提供一振动试验机台40，并将所述待测屏30放置在所述振动试验机台上，同时在所述待测屏30上放入测试板10以及在所述开孔11中放入6颗所述测试珠20。所述测试板10放置在所述待测屏30上后，所述测试板10的开孔11与所述待测屏30上选定的测试区域31刚好对应。所述开孔11的直径等于所述测试区域31的直径。步骤四：如图4所示，提供一固定架50，通过所述固定架50将所述待测屏30固定在所述振动试验机台40上。在其他实施方式中，所述待测屏30也可通过其他装置，例如机械固定在所述振动试验机台40上，而不限于本实施方式所限定的固定方式。步骤五：再次确认所述待测屏30在所述振动试验机台40上已经完全固定好，在所述振动试验机台40的控制电脑中设置振动测试方式及振动参数。在本专利技术实施例中，在所述控制电脑中设置所述振动试验机台40的振动方式为正弦振动，且设置该振动试验机台40的振动频率为：10Hz-40Hz；该振动试验机台40的振幅为10mm；该振动试验机台40的振动测试时间为5min；该振动试验机台40的扫描速度为1oct/min；所述测试珠20碰触待测屏30的次数为：6500次/5min/1颗测试珠。在本专利技术实施例中，所述测试珠20的速度V＝π*f*D，其中，所述f代表振动试验机台40的频率，取f＝40Hz；D代表振动试验机台40的振幅，取D＝0.01m。根据动量定理F*t＝m*(V2-V1)，其中m＝0.002kg，t＝0.002s，如此,依据动量定理计算出所述测试珠20对待测屏的敲击力F＝m*(V2-V1)/t＝0.002*[1.256-(-1.256)]/0.002＝2.5N。一般地，电阻式触摸屏的触摸力一般为0.8N～1.5N，电阻式触摸屏能够承受的最大力不超过50N。所述测试珠20敲击触摸屏要保证屏幕不被敲碎且可以加速待测屏30的磨损速度。因此，在本专利技术实施例中，依据上述参数计算得到的敲击力F＝2.5N大于电阻式触摸屏的触摸力范围0.8N～1.5N，小于电本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种触摸屏寿命的测试方法，包括如下步骤：提供一具有开孔的测试板以及至少一测试珠；提供一待测屏，同时在该待测屏上任意选择一具有触摸功能的测试区域；提供一振动试验机台，将所述待测屏及所述测试板固定于所述振动试验机台上，所述测试板位于所述待测屏之上且所述开孔正对所述测试区域,所述测试珠置于所述开孔内；所述振动试验机台振动；每隔一预定时间检查所述待测屏的功能是否正常；及记录所述待测屏幕每一次测试时间以及每次测试结果。

【技术特征摘要】
1.一种触摸屏寿命的测试方法，包括如下步骤：提供一具有开孔的测试板以及至少一测试珠；提供一待测屏，同时在该待测屏上任意选择一具有触摸功能的测试区域；提供一振动试验机台，将所述待测屏及所述测试板固定于所述振动试验机台上，所述测试板位于所述待测屏之上且所述开孔正对所述测试区域,所述测试珠置于所述开孔内；所述振动试验机台振动；每隔一预定时间检查所述待测屏的功能是否正常；及记录所述待测屏幕每一次测试时间以及每次测试结果。2.如权利要求1所述触摸屏寿命的测试方法，其特征在于：所述开孔呈圆形且贯穿所述测试板的上下表面。3.如权利要求2所述触摸屏寿命的测试方法，其特征在于：所述测试珠为钢珠，所述测试珠的数量为多个且规格均相同，每一测试珠的直径为8mm，质量为0.002kg。4.如权利要求3所述触摸屏寿命的测试方法，其特征在于：所述测试区域呈圆形且所述测试区域的直径等于所述开孔的直径。5.如权利要求4所述触摸屏寿命的测试方法，其特征在于：通过固定架将所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘志凯，吴旭博，陈敬华，祝博，
申请(专利权)人：鸿准精密模具昆山有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32