一种能适应不同尺寸电路板的测试架制造技术

技术编号:21345755 阅读:41 留言:0更新日期:2019-06-13 23:18
本实用新型专利技术涉及测试架领域,具体涉及一种能适应不同尺寸电路板的测试架,包括测试台,测试台上表面的前端有开关,测试台上表面的后端设有工件架,工件架由上旋转杆和下旋转杆组成,下旋转杆与上旋转杆结构一致,上旋转杆是中间是圆盘两端是方柱的杆件,上旋转杆的两端设有滑杆,下旋转杆固定连接在测试台上表面,上旋转杆和下旋转杆通过圆盘间隙连接,反夹块有滑块,滑块上表面前端的右边设有两处导柱,滑块上方有夹板,滑块和夹板前侧和右侧的对应位置都设有第一弹簧柱,第一弹簧连接夹板和滑块,滑块后端和下旋转杆靠近反夹块端的两侧对应位置都设有第二弹簧柱,第二弹簧连接方柱和滑块,上旋转杆的两端连接有正夹块。

A Testing Frame for PCB with Different Sizes

The utility model relates to the field of test stand, in particular to a test stand which can adapt to different sizes of circuit boards, including a test stand, a switch at the front end of the surface of the test stand, and a workpiece stand at the back end of the surface of the test stand. The workpiece stand is composed of an upper rotating rod and a lower rotating rod. The lower rotating rod is the same structure as the upper rotating rod, and the upper rotating rod is a rod with a square column at both ends of the disk. The upper and lower rotating rods are fixed on the surface of the test bench. The upper and lower rotating rods are connected through disc clearance. The reverse clamp block has sliders. The right side of the front end of the upper surface of the slider block is provided with two guide pillars. There are splints above the slide block. The corresponding positions of the slider and the front and right sides of the splint are provided with the first spring column. The first spring connects the splint and the slider. The back end of the block and the corresponding position of both sides of the lower rotating rod near the end of the reverse clamping block are provided with a second spring column, which connects the square column and the slider, and the two ends of the upper rotating rod are connected with a positive clamp block.

【技术实现步骤摘要】
一种能适应不同尺寸电路板的测试架
本技术涉及测试架领域,具体涉及一种能适应不同尺寸电路板的测试架。
技术介绍
电路板的名称有线路板、PCB板、铝基板、高频板、超薄线路板、超薄电路板、印刷(铜刻蚀技术)电路板等。电路板使电路迷你化、直观化,对于固定电路的批量生产和优化用电器布局起重要作用。随着电子信息化的不断发展,电路板的用处随处可见,然而在对电路板加工的过程中通常需要进行测试环节,PCB板测试架是PCB板生产过程测试环节中的重要设备,普通测试架是根据PCB板的尺寸设计不同的测试架,每当PCB产品更新时,必须要重新设计测试架,会造成成本过高,不利于企业发展。
技术实现思路
为解决上述存在的问题,本技术提供一种能适应不同尺寸电路板的测试架。一种能适应不同尺寸电路板的测试架,包括测试台,所述测试台上表面的后端设有工件架,所述工件架由上旋转杆和下旋转杆组成,所述下旋转杆与所述上旋转杆结构一致,所述上旋转杆是中间是圆盘两端是方柱的杆件,所述上旋转杆的两端设有滑杆,所述下旋转杆固定连接在测试台上表面,所述上旋转杆和下旋转杆通过圆盘间隙连接,所述下旋转杆的两端通过所述滑杆间隙连接有反夹块,所述反夹块有滑块,所述滑块上表面前端的右边设有两处导柱,所述滑块上方通过所述导柱间隙连接有夹板,所述滑块和夹板前侧和右侧的对应位置都设有第一弹簧柱,第一弹簧通过所述第一弹簧柱连接所述夹板和滑块,所述滑块后端和所述下旋转杆靠近所述反夹块端的两侧对应位置都设有第二弹簧柱,第二弹簧通过所述第二弹簧柱连接所述方柱和滑块,所述上旋转杆的两端通过所述滑杆间隙连接有正夹块。优选地:所述正夹块所述反夹块的结构大致相同,不同在于所述导柱设置在滑块上表面的左边,所述第一弹簧柱设置在所述夹板和滑块的前侧和左侧。优选地:所述上旋转杆和下旋转杆都是中间是圆盘两端是方柱的杆件,所述圆盘的厚度为所述方柱的一半。优选地:所述测试台上表面的前端有开关。优选地:所述开关为摇头开关。本技术的有益效果:当代测电路板通过工件架固定在测试台上时,夹板与滑块通过导柱连接可以调节夹板的高度适应不同厚度的电路板,正、反夹块与上下旋转杆通过滑杆间隙连接,可以调节正、反夹块的距离适应不同长度的电路板,上旋转杆与下旋转杆之间用圆盘连接,上旋转杆可以旋转一定范围的角度适应不同宽度的电路板,以此解决了现有技术不能适应不同尺寸的电路板的问题,节约时间,减少资金浪费。附图说明图1是本技术一种能适应不同尺寸电路板的测试架结构示意图。图2是本技术一种能适应不同尺寸电路板的测试架结构示意图。图中:1-测试台;11-开关;2-工件架;21-上旋转杆;22-下旋转杆;23-滑杆;24-第二弹簧柱;25-圆盘;26-方柱;3-正夹块;4-反夹块;41-导柱;42-第一弹簧柱;43-夹板;44-滑块;5第一弹簧;6-第二弹簧。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本技术进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例只用以解释本技术,并不用于限定本技术。如图1-图2所示,一种能适应不同尺寸电路板的测试架,包括测试台1,所述测试台1上表面的后端设有工件架2,所述工件架2由上旋转杆21和下旋转杆22组成,所述下旋转杆22与所述上旋转杆21结构一致,所述上旋转杆21是中间是圆盘25两端是方柱26的杆件,所述上旋转杆21的两端设有滑杆23,所述下旋转杆22固定连接在测试台1上表面,所述上旋转杆21和下旋转杆22通过圆盘25间隙连接,所述下旋转杆22的两端通过所述滑杆23间隙连接有反夹块4,所述反夹块4有滑块44,所述滑块44上表面前端的右边设有两处导柱41,所述滑块44上方通过所述导柱41间隙连接有夹板43,所述滑块44和夹板43前侧和右侧的对应位置都设有第一弹簧柱42,第一弹簧5通过所述第一弹簧柱42连接所述夹板43和滑块44,所述滑块44后端和所述下旋转杆22靠近所述反夹块4端的两侧对应位置都设有第二弹簧柱24,第二弹簧6通过所述第二弹簧柱24连接所述方柱221和滑块34,所述上旋转杆21的两端通过所述滑杆23间隙连接有正夹块3。所述正夹块3所述反夹块4的结构大致相同,不同在于所述导柱41设置在滑块44上表面的左边,所述第一弹簧柱42设置在所述夹板43和滑块44的前侧和左侧。所述圆盘25的厚度为所述方柱26的一半。所述测试台1上表面的前端有开关11。所述开关11为摇头开关。本技术的工作原理:当代测电路板通过工件架固定在测试台上时,夹板与滑块通过导柱连接可以调节夹板的高度适应不同厚度的电路板,正、反夹块与上下旋转杆通过滑杆间隙连接,可以调节正、反夹块的距离适应不同长度的电路板,上旋转杆与下旋转杆之间用圆盘连接,上旋转杆可以旋转一定范围的角度适应不同宽度的电路板。以上所述仅为本技术的较佳实施例而已,并不用以限制本技术,凡在本技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换或改进等,均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种能适应不同尺寸电路板的测试架,其特征在于:包括测试台,所述测试台上表面的后端设有工件架,所述工件架由上旋转杆和下旋转杆组成,所述下旋转杆与所述上旋转杆结构一致,所述上旋转杆是中间是圆盘两端是方柱的杆件,所述上旋转杆的两端设有滑杆,所述下旋转杆固定连接在测试台上表面,所述上旋转杆和下旋转杆通过圆盘间隙连接,所述下旋转杆的两端通过所述滑杆间隙连接有反夹块,所述反夹块有滑块,所述滑块上表面前端的右边设有两处导柱,所述滑块上方通过所述导柱间隙连接有夹板,所述滑块和夹板前侧和右侧的对应位置都设有第一弹簧柱,第一弹簧通过所述第一弹簧柱连接所述夹板和滑块,所述滑块后端和所述下旋转杆靠近所述反夹块端的两侧对应位置都设有第二弹簧柱,第二弹簧通过所述第二弹簧柱连接所述方柱和滑块,所述上旋转杆的两端通过所述滑杆间隙连接有正夹块。

【技术特征摘要】
1.一种能适应不同尺寸电路板的测试架,其特征在于:包括测试台,所述测试台上表面的后端设有工件架,所述工件架由上旋转杆和下旋转杆组成,所述下旋转杆与所述上旋转杆结构一致,所述上旋转杆是中间是圆盘两端是方柱的杆件,所述上旋转杆的两端设有滑杆,所述下旋转杆固定连接在测试台上表面,所述上旋转杆和下旋转杆通过圆盘间隙连接,所述下旋转杆的两端通过所述滑杆间隙连接有反夹块,所述反夹块有滑块,所述滑块上表面前端的右边设有两处导柱,所述滑块上方通过所述导柱间隙连接有夹板,所述滑块和夹板前侧和右侧的对应位置都设有第一弹簧柱,第一弹簧通过所述第一弹簧柱连接所述夹板和滑块,所述滑块后端和所述下旋转杆靠近所述反夹块端的两侧对应位置都设有第二弹簧柱...

【专利技术属性】
技术研发人员:何卷新赵勇曹恒云王文生苗向阳操孝明黄享立
申请(专利权)人:东莞市诚志电子有限公司
类型:新型
国别省市:广东,44

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