The invention relates to a measuring device for detecting the aging process in each light-emitting diode, which ensures detection and subsequent compensation for brightness loss in the light-emitting diode. In this case, the relative measurement of brightness intensity is used. The invention also relates to a corresponding setting method for detecting the aging process in each light emitting diode, and to a computer program product including a control command for realizing the method.
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于检测各个发光二极管中的老化过程的测量装置
本专利技术涉及一种用于检测各个发光二极管中的老化过程的测量装置，该测量装置使得可以检测并随后补偿发光二极管中的亮度损失。在这种情况下，采用亮度强度的相对测量。本专利技术还涉及用于检测各个发光二极管中的老化过程的相应设置方法，以及涉及包括实现该方法的控制命令的计算机程序产品。
技术介绍
美国专利公开号US2016/0003670A1示出了用于检测光电二极管中的老化过程的测量装置。在已知的方法中，发光二极管制造后，就立即测量并存储发光二极管的绝对亮度。随后预期的是，关于在发光二极管中预期的老化过程，从发光特性的变化的绝对值开始，能够从这种类型的多个测试系列中得出结论。因此，相应的参数存储在表格中作为示例并且通常以不可改变的形式提供给终端客户。因此，已知的是以可测量发光二极管的发光特性的颜色传感器的方式验证发光二极管或多个发光二极管。在这种情况下，基于CCD或CMOS技术的传感器是已知的。这些常规使用的部件相对较大，因此与紧凑的结构相冲突。另外，它们以特定波长范围内的复杂方式测量，以便分析待测发光二极管的彩色发光特性。因此，...
【技术保护点】
1.一种用于检测各个发光二极管(LED)中的老化过程的测量装置，包括：多个发光二极管(LED)，包括一红色发光二极管(R)、一绿色发光二极管(G)和一蓝色发光二极管(B)；一控制单元(CTRL)，布置以独立地调节每个发光二极管(LED)的亮度强度，其特征在于：提供至少一个光电二极管(FD)，该光电二极管(FD)被布置以测量与该红色发光二极管(R)不对应的至少一个发光二极管(LED)的亮度强度，使得该红色发光二极管(R)为不可监测的，该控制单元(CTRL)被设定为根据一第一测量和一第二时间偏移测量的功能检测每个发光二极管(LED)的亮度强度的一相对变化。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.12.08 DE 102016014652.41.一种用于检测各个发光二极管(LED)中的老化过程的测量装置，包括：多个发光二极管(LED)，包括一红色发光二极管(R)、一绿色发光二极管(G)和一蓝色发光二极管(B)；一控制单元(CTRL)，布置以独立地调节每个发光二极管(LED)的亮度强度，其特征在于：提供至少一个光电二极管(FD)，该光电二极管(FD)被布置以测量与该红色发光二极管(R)不对应的至少一个发光二极管(LED)的亮度强度，使得该红色发光二极管(R)为不可监测的，该控制单元(CTRL)被设定为根据一第一测量和一第二时间偏移测量的功能检测每个发光二极管(LED)的亮度强度的一相对变化。2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，该控制单元(CTRL)被布置为基本上补偿检测到的亮度强度的变化。3.根据权利要求1或2所述的测量装置，其特征在于，至少一个发光二极管(LED)以设定该第一测量的亮度强度的方式来控制。4.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置，其特征在于，该多个发光二极管(LED)和至少一个光电二极管(FD)布置在一壳体中。5.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置，其特征在于，该多个发光二极管(LED)和至少一个光电二极管(FD)形成为单件。6.根据前述权利要求中任一项所述的测量装置，其特征在于，该控制单元(CTRL)是一微控制器、一有限状态机、一模拟控制电路和/或一电子部件的形式...
【专利技术属性】
技术研发人员：罗兰德·奈曼，
申请(专利权)人：伊诺瓦半导体有限责任公司，
类型：发明
国别省市：德国,DE
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