温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及一种用于检测各个发光二极管中的老化过程的测量装置，该测量装置确保检测并随后补偿发光二极管中的亮度损失。在这种情况下，采用了亮度强度的相对测量。本发明还涉及用于检测各个发光二极管中的老化过程的相应设置方法，以及涉及包括实现该方法的控...
该专利属于伊诺瓦半导体有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过伊诺瓦半导体有限责任公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。