The invention relates to a test device and a test method for the working voltage of a chip, in which the test device includes a main control module and a power supply module. After the number of power-on operations reaches the preset power-on number, the test device can test whether the external chip under test can work normally under the preset voltage by judging whether the number of successful power-on and the preset power-on number correspond to each other. The test device and test method of the chip working voltage invented by the invention are adopted. By controlling the power supply module with the main control module, the automatic power up/down of the chip under test can be realized, and the problems of strong contingency and uncontrollable power up/down speed in manual testing can be avoided. Moreover, in the test process, the preset power-on times of the main control module can be selected according to the need. The test device of the invention also includes a power-on speed control unit, which not only makes the power-on/power-down speed of the external chip under test controllable, but also ensures the consistency of the test time interval and has a wider application range.
【技术实现步骤摘要】
芯片工作电压的测试装置及测试方法
本专利技术涉及测试领域，尤其涉及测试工作电压领域，具体是指一种芯片工作电压的测试装置及测试方法。
技术介绍
各种芯片在很多领域都有广泛的应用，芯片的工作电压是电路非常重要的一个性能参数。目前评价芯片工作电压范围的方案基本都是基于手动测试：设置IO端口输出一组波形，手动调节电源电压，通过观察波形确定电路在某一个电压点下是否能正常工作，以此来确定芯片的工作电压范围。同样的测试方法还被用于电路的低压复位电压点测试。该测试方法的优点是测试简单，只需要手动调节电源电压即可，而目前市面上的数字稳压电源也能够实现0.01V级别的稳定调节，所以对于最大工作电压和最小工作电压测试可行，能够大致得到芯片的工作电压范围。但是对于瞬间上电测试，这种手动测试方法的测试偶然性就很大。手动测试在每一个电压点下测试次数有限，而且手动开关电源上下电，对于上电速度难以控制。同时为了验证芯片工作的稳定性，需要在最高工作电压点、最低工作电压点和正常工作电压点下进行多次反复上下电测试，如果使用传统的测试方案，测试的可操作性和测试效率就会很差。现有技术中，在电路评价过程中，...
【技术保护点】
1.一种芯片工作电压的测试装置，其特征在于，所述的测试装置包括主控模块和供电模块，所述的主控模块控制所述的供电模块对一外部被测芯片在一预置电压下进行上电操作，所述的主控模块对所述的上电操作进行计数并得到上电操作次数，所述的外部被测芯片对自身的成功上电操作进行计数并得到成功上电次数，在所述的上电操作次数达到预设上电次数后，通过判断所述的外部被测芯片的成功上电次数和所述的预设上电次数是否相对应，来测试所述的外部被测芯片是否可以在预置电压下正常工作。
【技术特征摘要】
1.一种芯片工作电压的测试装置，其特征在于，所述的测试装置包括主控模块和供电模块，所述的主控模块控制所述的供电模块对一外部被测芯片在一预置电压下进行上电操作，所述的主控模块对所述的上电操作进行计数并得到上电操作次数，所述的外部被测芯片对自身的成功上电操作进行计数并得到成功上电次数，在所述的上电操作次数达到预设上电次数后，通过判断所述的外部被测芯片的成功上电次数和所述的预设上电次数是否相对应，来测试所述的外部被测芯片是否可以在预置电压下正常工作。2.根据权利要求1所述的芯片工作电压的测试装置，其特征在于，所述的主控模块包括主控模块计数单元，所述的外部被测芯片包括受控模块计数单元，所述的主控模块计数单元对所述的上电操作进行计数并得到上电操作次数，所述的受控模块计数单元对所述的成功上电操作进行计数并得到成功上电次数。3.根据权利要求1所述的芯片工作电压的测试装置，其特征在于，所述的主控模块或所述的外部被测芯片还包括判断单元，所述的判断单元用于判断当所述上电操作次数达到预设上电次数后，所述的受控模块的成功上电次数和所述的预设上电次数是否相对应。4.根据权利要求1所述的芯片工作电压的测试装置，其特征在于，所述的主控模块具有上/下电切换端口，该上/下电切换端口与所述的供电模块相连接，用于实现对所述外部被测芯片的上/下电切换。5.根据权利要求1所述的芯片工作电压的测试装置，其特征在于，所述的主控模块具有首次上电通知信号输出端口和首次上电确认信号输入端口，所述的外部被测芯片具有首次上电通知信号输入端口和首次上电确认信号输出端口，所述主控模块的首次上电通知信号输出端口与所述外部被测芯片的首次上电通知信号输入端口相连接，所述外部被测芯片的首次上电确认信号输出端口和所述主控模块的首次上电确认信号输入端口相连接，用于完成对首次上电信号的通知，并对该首次上电信号予以确认。6.根据权利要求1所述的芯片工作电压的测试装置，其特征在于，所述的主控模块具有测试结束通知信号输出端口和测试结束确认信号输入端口，所述的外部被测芯片具有测试结束通知信号输入端口和测试结束确认信号输出端口，所述主控模块的测试结束通知信号输出端口与所述外部被测芯片的测试结束通知信号输入端口相连接，所述外部被测芯片的测试结束确认信号输出端口与所述主控模块的测试结束确认信号输入端口相连接，用于完成对测试结束信号的通知，并对该测试结束信号予以确认。7.根据权利要求4所述的芯片工作电压的测试装置，其特征在于，所述的供电模块包括第一电阻、第二电阻、三极管和二极管；所述的第一电阻与第二电阻串联且两者连接点与所述的主控模块的上/下电切换端口相连接，所述的第二电阻的另一端与第一电压源相连接，所述的第一电阻的另一端与所述的三级管的基极相连接，所述的三级管的集电极与所述的第一电压源相连接，所述的三级管的发射极与所述的二极管的负极相连接，所述的二极管的正极与第二电压源相连接，所述第一电压源的电压为所述预置电压，所述第二电压源的电压远小于外部被测芯片工作电压范围的电压且大于外部被测芯片内数据保存所需的最低电压。8.根据权利要求7所述的芯片工作电压的测试装置，其特征在于，所述的供电模块还包括上电速度控制单元，所述的主控模块具有缓慢供电工作端口，所述的上电速度控制单元包括第一电容和一可控开关，所述的第一电容和可控开关相串联且两者连接点与所述主控模块的缓慢供电工作端口相连接，所述的第一电容的另一端接地，所述的可控开关的另一端与所述的二极管负极相连接；当所述的可控开关为断开状态时，所述的供电模块处于瞬间供电模式；当所述的可控开关为闭合状态时，所述的供电模块处于缓慢供电模式。9.根据权利要求1所述的芯片工作电压的测试装置，其特征在于，所述的测试装置还包括显示模块，所述的显示模块用于对以下内容择一显示：所述外部被测芯片的测试结果、所述上电操作次数和所述成功上电次数。10.一种基于权利要求1～9中任一项所述的测试装置实现芯片工作电压的测试方法，其特征在于，所述的测试方法包括主控模块的上电计数处理过程和外部被测芯片的上电计数处理过程；所述主控模块的上电计数处理过程包括以下步骤：(A1)对所述主控模块上电；(A2)所述主控模块控制所述供电模块向所述外部被测芯片上电，并保持所述外部被测芯片在第一设定时间范围内的上电状态；(A3)所述主控模块控制所述供电模块向所述外部被测芯片下电，并保持所述外部被测芯片在第二设定时间范围内的下电状态；(A4)所述主控模块控制所述供电模块向所述外部被测芯片持续上电；(A5)所述主控模块计数单元的计数值加1；所述外部被测芯片的上电计数处理过程包括以下步骤：(B1)所述主控模块控制所述供电模块对该外部被测芯片上电；(B2)所述受控模块计数单元的计数值加1；判断所述的主控模块计数单元的计数值和所述的受控模块计数单元的计数值是否相对应，以测试所述的外部被测芯片是否可以在预置电压下正常工作。11.根...
【专利技术属性】
技术研发人员：唐沁雯，
申请(专利权)人：无锡华润矽科微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32
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