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本发明涉及一种芯片工作电压的测试装置及测试方法，其中测试装置包括主控模块和供电模块，在上电操作次数达到预设上电次数后，通过判断外部被测芯片的成功上电次数和预设上电次数是否相对应，来测试外部被测芯片是否可以在预置电压下正常工作。采用了该发明的...
该专利属于无锡华润矽科微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过无锡华润矽科微电子有限公司授权不得商用。

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