一种K系数测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种K系数测试装置，包括恒温高温箱、安装在恒温高温箱内部的老化板、固定在恒温高温箱顶部的K系数测试机、固定在K系数测试箱顶部的工控机、安装在工控机顶部的键盘鼠标操作台和固定在键盘鼠标操作台上的显示屏，老化板上设有多个独立检测工位，恒温高温箱内设有与老化板对接的对接金手指，所述对接金手指引线到K系数测试机的转接板上，所述K系数测试机通过信号线连接工控机，所述老化板上每个工位均为开尔文测试方式走线。本实用新型专利技术结构简单，操作方便，使用成本低，而且在老化板上设计多个独立检测工位，可同时对多个器件实时测量K系数，工作效率高，测试环境温度均匀，并且通过开尔文方式测量Vf，使数据更加准确。

A K Coefficient Testing Device

The utility model discloses a K coefficient testing device, which comprises a constant temperature high temperature box, an aging board installed in the constant temperature high temperature box, a K coefficient testing machine fixed on the top of the constant temperature high temperature box, an industrial computer fixed on the top of the K coefficient testing box, a keyboard and mouse operating table mounted on the top of the industrial computer and a display screen fixed on the keyboard and mouse operating table. The aging board is provided with a plurality of independent displays. The testing station is equipped with a butt golden finger which is connected with the aging plate in the constant temperature and high temperature box. The butt golden finger leads to the transfer board of the K coefficient testing machine. The K coefficient testing machine connects the industrial computer through the signal line. Each working station on the aging board is in the way of Kelvin testing. The utility model has the advantages of simple structure, convenient operation and low cost. Moreover, a plurality of independent detection stations are designed on the aging board, which can simultaneously measure K coefficients for multiple devices in real time. The working efficiency is high, the temperature of the testing environment is uniform, and the Vf is measured by Kelvin mode, so as to make the data more accurate.

【技术实现步骤摘要】
一种K系数测试装置
本技术涉及一种器件测试设备，尤其涉及一种K系数测试装置。
技术介绍
由于现代电路设计要求越来越高，电路设计工程师对每一个元器件的温度，功率都提出了新的要求，在这种情况下，结合测试工作，我们发现越来越多的二极管生产企业对产品的K系数即温度系数的测量提出了要求。二极管的K系数它用来表示二极管在PN结温度升高的条件下导通电压Vf的变化情况。从对企业的调查和了解可以发现，大多数企业对于这一参数并不是十分了解，专用的测量仪器比较昂贵而且数量稀少，只有少数台资厂从台湾专门购置了设备用于该参数的测量，从而使得产品的参数在面对客户时有了更强的竞争力这一点也促使其竞争对手对K系数的测量有了更强的需求。经过试验可以发现，二极管的结温与其导通电压是呈线性关系的，其比值可以用K来表示。由于无法直接测量到二极管内部温度，在实际测试中，只能通过改变环境温度，用环境温度的变化来模拟结温的变化情况，经过多个温度点下对导通电压进行测量，得出结论二极管的导通电压与PN结的温度成反比关系：K＝|(V2-V1)/(T2-T1)|。现有技术的缺点：目前市面上常规的K系数测试装置数据采样速度慢且不够直观，测量数量少，环境温度不够均衡，影响试验效果等等。
技术实现思路
本技术为了解决上述现有技术中存在的缺陷和不足，提供了一种操作简单，可同时对多个器件实时测量K系数，工作效率高，测试环境温度均匀，并且通过开尔文方式测量Vf，使数据更加准确的K系数测试装置。本技术的技术方案：一种K系数测试装置，包括恒温高温箱、安装在恒温高温箱内部的老化板、固定在恒温高温箱顶部的K系数测试机、固定在K系数测试箱顶部的工控机、安装在工控机顶部的键盘鼠标操作台和固定在键盘鼠标操作台上的显示屏，所述老化板上设有多个独立检测工位，所述恒温高温箱内设有与老化板对接的对接金手指，所述对接金手指引线到K系数测试机的转接板上，所述K系数测试机通过信号线连接工控机，所述老化板上每个工位均为开尔文测试方式走线。本技术结构简单，采用对接金手指对接老化板和恒温高温箱，操作方便，使用成本低，而且在老化板上设计多个独立检测工位，可同时对多个器件实时测量K系数，工作效率高，测试环境温度均匀，并且通过开尔文方式测量Vf，使数据更加准确。优选地，所述老化板上有12个独立检测工位，待测器件按照滑板丝印方向插在老化板上。该种结构方便待测器件的安装，确保待测器件的安装稳固性和测试精确性。优选地，所述恒温高温箱上设有恒温高温箱门和恒温高温箱操作面板。该种结构方便对恒温高温箱的操作。优选地，所述显示屏通过显示屏支架安装在键盘鼠标操作台上，所述显示屏支架转动连接在键盘鼠标操作台上。该种结构确保显示屏的安装牢固度，同时可以适当的转动显示屏的方向，方便从多个角度观察显示屏内的内容。本技术结构简单，采用对接金手指对接老化板和恒温高温箱，操作方便，使用成本低，而且在老化板上设计多个独立检测工位，可同时对多个器件实时测量K系数，工作效率高，测试环境温度均匀，并且通过开尔文方式测量Vf，使数据更加准确。附图说明图1为本技术的结构示意图；图2为本技术中各部件之间的连线图；图中1.恒温高温箱，2.老化板，3.K系数测试机，4.键盘鼠标操作台，5.显示屏，6.恒温高温箱门，7.工控机，8.恒温高温箱操作面板，9.待测器件，10.显示屏支架。具体实施方式下面结合附图对本技术作进一步详细的说明，但并不是对本技术保护范围的限制。如图1和2所示，一种K系数测试装置，包括恒温高温箱1、安装在恒温高温箱1内部的老化板2、固定在恒温高温箱1顶部的K系数测试机3、固定在K系数测试箱3顶部的工控机7、安装在工控机7顶部的键盘鼠标操作台4和固定在键盘鼠标操作台4上的显示屏5。老化板2上设有12个独立检测工位，恒温高温箱1内设有与老化板2对接的对接金手指，对接金手指引线到K系数测试机3的转接板上，K系数测试机3通过信号线连接工控机7，老化板2上每个工位均为开尔文测试方式走线。待测器件9按照滑板丝印方向插在老化板2上。恒温高温箱1上设有恒温高温箱门6和恒温高温箱操作面板8。显示屏5通过显示屏支架10安装在键盘鼠标操作台4上，显示屏支架10转动连接在键盘鼠标操作台4上。本技术使用时，设计好的老化板上有12个工位，将待测器件按照来滑板丝印方向插好，放入恒温高温箱中，与老化板对接的金手指引线到K系数测试机转接板上，老化板上每个工位均为开尔文测试方式走线，这样使测得的Vf更加准确。由工业控制计算机提前设置好参数，经过通讯来控制小型恒温高温试验箱，可设置多个温度点及每个温度点的停留时间，当试验箱温度恒定之后，然后让K系数测试机中高速的AD采集对器件进行实时的Vf采样将数据送给工控机。本技术的优点：1.用开尔文四线测量VF，得到数值更为准确；2.实时检测存储及自动生成图表、曲线不怕数据丢失且数据直观易于分析；3.多串口通讯，实时检测，只有当温度恒定不变时才进行测量VF，数据更具有说服力和精准力度；4.可同时对多个器件进行试验，满足工程师需求。本技术中恒温高温箱、K系数测试机、工控机和均为市面采购的常规部件，各部件之间的连接也均为常规连接，故不作细述。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种K系数测试装置，包括恒温高温箱、安装在恒温高温箱内部的老化板、固定在恒温高温箱顶部的K系数测试机、固定在K系数测试箱顶部的工控机、安装在工控机顶部的键盘鼠标操作台和固定在键盘鼠标操作台上的显示屏，其特征在于：所述老化板上设有多个独立检测工位，所述恒温高温箱内设有与老化板对接的对接金手指，所述对接金手指引线到K系数测试机的转接板上，所述K系数测试机通过信号线连接工控机，所述老化板上每个工位均为开尔文测试方式走线。

【技术特征摘要】
1.一种K系数测试装置，包括恒温高温箱、安装在恒温高温箱内部的老化板、固定在恒温高温箱顶部的K系数测试机、固定在K系数测试箱顶部的工控机、安装在工控机顶部的键盘鼠标操作台和固定在键盘鼠标操作台上的显示屏，其特征在于：所述老化板上设有多个独立检测工位，所述恒温高温箱内设有与老化板对接的对接金手指，所述对接金手指引线到K系数测试机的转接板上，所述K系数测试机通过信号线连接工控机，所述老化板上每个工位均为...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡久恒，
申请(专利权)人：杭州高坤电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江,33