The invention provides a five-dimensional adjustable THz receiving chip responsiveness measurement system and method. The system includes: frequency source (1), signal source (2), collimation system (3), control module (4), five-dimensional adjustable structure (5), power meter (6), chopper (7), phase-locked amplifier (8) and host computer (9). Five-dimensional adjustable structure (5) includes horizontal mobile station (A), vertical mobile station (B), conversion bracket (C), polarization direction adjustable bracket (D), receiver chip (E), focal length adjustable translator (F). Rotary bracket (G) with incident angle. The invention solves the problem of inaccurate measurement of responsiveness caused by inaccurate measurement of the effective area of a terahertz receiving chip in the existing responsiveness measurement system.
【技术实现步骤摘要】
一种五维可调的太赫兹接收芯片响应度测量系统及方法
本专利技术涉及一种接收芯片响应度测量领域,特别涉及一种五维可调的太赫兹接收芯片响应度测量系统及方法。
技术介绍
随着对太赫兹探测系统小型化、轻量化的应用需求,太赫兹接收芯片得到日益广泛的关注与应用。其中,响应度是太赫兹接收芯片的重要指标,其性能好坏关系到接收芯片乃至整个太赫兹探测系统的作用距离及应用范围。响应度的准确测量受入射功率标定、片上天线方向性、接收芯片有效面积、响应电压等多个参数影响,然而目前由于缺少可靠的有效面积测试手段,造成接收芯片响应度测量不够准确,接收芯片性能参数评价不够可靠。
技术实现思路
本专利技术目的在于提供一种五维可调的太赫兹接收芯片响应度测量系统及方法,解决现有太赫兹响应度测量系统因无法准确测量接收芯片有效面积而造成的响应度测量不准的问题。对此,本专利技术提出一种太赫兹接收芯片响应度测量系统,包括:频率源、信号源、准直系统、控制模块、五维可调节结构、功率计、斩波器、锁相放大器和上位机。其中五维可调节结构包括水平移动台、垂直移动台、转换支架、极化方向调节支架、接收芯片、焦距调节平移台和入射角旋转支架。频率源的输出口与信号源基频输入口连接,频率源的同步输出口与斩波器的参考频率输入口连接,斩波器输出口与锁相放大器参考频率输入端连接;信号源辐射太赫兹波能量,经过准直系统,空馈汇聚到功率计或五维可调节结构上的接收芯片处;五维可调节结构或功率计的输出与锁相放大器信号输入端相连,锁相放大器输出端与上位机输入端连接。其中,所述五维可调节结构中,接收芯片固定于极化方向调节支架,极化方向调节支架固定于焦距 ...
【技术保护点】
1.一种基于五维可调节结构的太赫兹接收芯片响应度测量系统,其特征在于,该系统包括:频率源(1)、信号源(2)、准直系统(3)、控制模块(4)、五维可调节结构(5)、功率计(6)、斩波器(7)、锁相放大器(8)和上位机(9),其中,五维可调节结构(5)包括水平移动台(A)、垂直移动台(B)、转换支架(C)、极化方向调节支架(D)、接收芯片(E)、焦距调节平移台(F)和入射角旋转支架(G);频率源(1)的输出口与信号源(2)基频输入口连接,频率源(1)的同步输出口与斩波器(7)的参考频率输入口连接,斩波器(7)输出口与锁相放大器(8)参考频率输入端连接;信号源(2)辐射太赫兹波能量,经过准直系统(3)空馈汇聚到功率计(6)或五维可调节结构(5)上的接收芯片(E)处;五维可调节结构(5)或功率计(6)的输出与锁相放大器(8)信号输入端相连,锁相放大器(8)数据输出端与上位机(9)输入端连接。
【技术特征摘要】
1.一种基于五维可调节结构的太赫兹接收芯片响应度测量系统,其特征在于,该系统包括:频率源(1)、信号源(2)、准直系统(3)、控制模块(4)、五维可调节结构(5)、功率计(6)、斩波器(7)、锁相放大器(8)和上位机(9),其中,五维可调节结构(5)包括水平移动台(A)、垂直移动台(B)、转换支架(C)、极化方向调节支架(D)、接收芯片(E)、焦距调节平移台(F)和入射角旋转支架(G);频率源(1)的输出口与信号源(2)基频输入口连接,频率源(1)的同步输出口与斩波器(7)的参考频率输入口连接,斩波器(7)输出口与锁相放大器(8)参考频率输入端连接;信号源(2)辐射太赫兹波能量,经过准直系统(3)空馈汇聚到功率计(6)或五维可调节结构(5)上的接收芯片(E)处;五维可调节结构(5)或功率计(6)的输出与锁相放大器(8)信号输入端相连,锁相放大器(8)数据输出端与上位机(9)输入端连接。2.根据权利要求1所述的基于五维可调节结构的太赫兹接收芯片响应度测量系统,其特征在于,所述五维可调节结构(5)中,接收芯片(E)固定于极化方向调节支架(D),极化方向调节支架(D)固定于焦距调节平移台(F),焦距调节平移台(F)固定于入射角旋转支架(G),入射角旋转支架(G)通过转换支架(C)固定于垂直移动台(B),垂直移动台(B)固定于水平移动台(A)。3.一种根据权利要求1或2所述的基于五维可调节结构的太赫兹接收芯片响应度测量方法,其特征在于,该方法的步骤为:第一步,接收芯片处入射太赫兹波功率标定;信号源(2)输出待测太赫兹辐射信号,经准直系统(3)空馈汇聚至功率计(6)处;分别测量总功率Pt以及完全遮挡太赫兹波信号后的噪声功率Pn,计算接收芯片(E)处入射功率Pr为:其中:fa为功率计随频率变化而调...
【专利技术属性】
技术研发人员:张镜水,肖勇,李召阳,王文鹏,张春艳,王智斌,
申请(专利权)人:北京遥感设备研究所,
类型:发明
国别省市:北京,11
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