The invention discloses a method and device for measuring Verdet constant of doped optical fibers, which includes light source, collimator, first polarizer, 1/4 wave plate, second polarizer, lens, solenoid, DC power supply, fixture, Stokes detector, computer and doped optical fibers to be measured; light source outputs light signal to be detected through collimator and enters the first polarizer; The polarizer outputs the initial linearly polarized light into 1/4 wave plate; 1/4 wave plate outputs circular light into the second polarizer; the second polarizer outputs the linearly polarized light after modulation, and the linearly polarized light after modulation is coupled into the doped fiber to be measured through the lens; the doped fiber to be measured is placed in the central channel of the solenoid, and the solenoid is connected with the DC power supply and provides magnetism. The computer is connected with the Stokes detector and calculates the Verdet constant of the doped fiber to be measured.
【技术实现步骤摘要】
一种掺杂光纤的Verdet常数测量方法与装置
本专利技术涉及光纤传感
,尤其是涉及一种掺杂光纤的Verdet常数测量方法与装置。
技术介绍
随着光纤技术的不断发展,光纤因其体积小、重量轻、绝缘性好、抗电磁干扰、灵敏度高等优点,越来越多地被应用于各类传感器。其中,基于法拉第磁光效应的光纤传感器件得到了较快的发展,如磁光调制器、隔离器、电流互感器和光纤陀螺等。Verdet常数是表征磁光材料特性的重要参数,传感光纤的Verdet常数很大程度上决定了磁光效应器件的灵敏度。因此,光纤Verdet常数的准确测量非常重要。近年来,人们通过掺入稀土离子提高光纤的Verdet常数。其中,常见的一类是Tb、Dy、Pr、Ce和Er等顺磁性的稀土离子,掺入后可以提高石英光纤的磁光效应灵敏度;还有一类是混合掺入稀土离子和磷酸盐、硅酸盐等材料的玻璃光纤,其稀土离子含量较高,但本身通光性降低。常规的光纤Verdet常数测量装置和方法需要将待测光纤与单模光纤熔接,掺杂玻璃光纤与单模光纤熔接损耗极大,无法测量。专利文献CN104931232A提出了一种掺杂光纤Verdet常数的测试装置和方法,但该方案是利用锁相放大稳定方式进行测量分析,未对输入的光信号进行研究分析,这对磁光性能测量是非常不利的,直接影响Verdet常数的测量精度。以上
技术介绍
内容的公开仅用于辅助理解本专利技术的专利技术构思及技术方案,其并不必然属于本专利申请的现有技术,在没有明确的证据表明上述内容在本专利申请的申请日前已经公开的情况下,上述
技术介绍
不应当用于评价本申请的新颖性和创造性。
技术实现思路
本专利技术的主要目的 ...
【技术保护点】
1.一种掺杂光纤的Verdet常数测量装置,其特征在于:包括光源(1)、准直器(2)、第一起偏器(3)、1/4波片(4)、第二起偏器(5)、透镜(6)、螺线管(8)、直流电源(9)、夹具(10)、斯托克斯探测器(11)、计算机(12)和待测掺杂光纤(13);所述光源(1)通过所述准直器(2)输出待检测的光信号,并进入所述第一起偏器(3);所述第一起偏器(3)输出初始线偏振光进入所述1/4波片(4);所述1/4波片(4)输出圆光进入所述第二起偏器(5);所述第二起偏器(5)输出调制后的线偏振光,所述调制后的线偏振光通过所述透镜(6)耦合进入所述待测掺杂光纤(13);所述待测掺杂光纤(13)放置于所述螺线管(8)的中心通道,所述螺线管(8)与所述直流电源(9)相连并提供磁场;从所述待测掺杂光纤(13)出来的光信号经过所述夹具(10)进入所述斯托克斯探测器(11);所述计算机(12)与所述斯托克斯探测器(11)连接,计算出所述待测掺杂光纤的Verdet常数。
【技术特征摘要】
1.一种掺杂光纤的Verdet常数测量装置,其特征在于:包括光源(1)、准直器(2)、第一起偏器(3)、1/4波片(4)、第二起偏器(5)、透镜(6)、螺线管(8)、直流电源(9)、夹具(10)、斯托克斯探测器(11)、计算机(12)和待测掺杂光纤(13);所述光源(1)通过所述准直器(2)输出待检测的光信号,并进入所述第一起偏器(3);所述第一起偏器(3)输出初始线偏振光进入所述1/4波片(4);所述1/4波片(4)输出圆光进入所述第二起偏器(5);所述第二起偏器(5)输出调制后的线偏振光,所述调制后的线偏振光通过所述透镜(6)耦合进入所述待测掺杂光纤(13);所述待测掺杂光纤(13)放置于所述螺线管(8)的中心通道,所述螺线管(8)与所述直流电源(9)相连并提供磁场;从所述待测掺杂光纤(13)出来的光信号经过所述夹具(10)进入所述斯托克斯探测器(11);所述计算机(12)与所述斯托克斯探测器(11)连接,计算出所述待测掺杂光纤的Verdet常数。2.如权利要求1所述的Verdet常数测量装置,其特征在于:还包括设置于所述透镜(6)和所述螺线管(8)之间的三维光纤调整架(7),用于提高所述透镜(6)将所述调制后的线偏振光耦合进入所述待测掺杂光纤(13)的耦合效率。3.如权利要求1所述的Verdet常数测量装置,其特征在于:所述准直器(2)与所述第一起偏器(3)之间采用笼式系统连接。4.如权利要求1所述的Verdet常数测量装置,其特征在于:所述光源(1)通过单模跳线与所述准直器(2)连接。5.如权利要求1所述的Verdet常数测量装置,其特征在于:还包括光功率计,放置于所述待测掺杂光纤(13)输出端。6.如权利...
【专利技术属性】
技术研发人员:肖湘杰,文建湘,卫广远,
申请(专利权)人:深圳太辰光通信股份有限公司,
类型:发明
国别省市:广东,44
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