触控传感器、触控模组及触控传感器裂纹检测方法技术

本公开涉及显示技术领域，提出一种触控传感器，所述触控传感器上设置有用于绑定一电路板的绑定区，所述绑定区设置有用于检测所述触控传感器与所述电路板绑定状态的至少一个测试引脚组；所述测试引脚组包括两个测试引脚，两所述测试引脚通过短接线短接，所述短接线延伸到所述绑定区以外。上述的测试引脚组即可以检测触控传感器与电路板的绑定状态，还可以检测触控传感器绑定区周边是否发生裂纹。

Crack Detection Method of Touch Sensor, Touch Module and Touch Sensor

【技术实现步骤摘要】
触控传感器、触控模组及触控传感器裂纹检测方法
本公开涉及显示
，尤其涉及一种触控传感器、触控模组及触控传感器裂纹检测方法。
技术介绍
触控模组一般包括触控传感器以及设置有触控集成电路的电路板，触控传感器通常通过绑定(bonding)技术与设置有触控集成电路的电路板连接。触控传感器与电路板绑定过程中，触控传感器上绑定区的周围容易发生裂纹，触控传感器上的裂纹容易导致触控传感器边沿走线断裂等问题，从而引发触控传感器一系列的故障。相关技术中，只能通过显微镜观察触控传感器绑定区的周围是否出现裂纹，该检测方法费时费力且检测精度不高。需要说明的是，在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
本公开的目的在于提供一种触控传感器、触控模组及触控传感器裂纹检测方法，进而至少在一定程度上克服相关技术中，检测触控传感器裂纹费时费力且检测精度不高的技术问题。根据本公开的一个方面，提供一种触控传感器，所述触控传感器上设置有用于绑定一电路板的绑定区，所述绑定区设置有用于检测所述触控传感器与所述电路板绑定状态的至少一个测试引脚组；所述测试引脚组包括两个测试引脚，两所述测试引脚通过短接线短接，所述短接线延伸到所述绑定区以外。在本公开的一种示例性实施例中，所述触控传感器贴合于一基板，所述基板上开设有一开槽区，所述绑定区形成于所述开槽区内，所述触控传感器位于开槽区以内及绑定区以外的位置形成异形开槽区，所述短接线穿过所述异形开槽区延伸至所述触控传感器与所述基板的贴合区。在本公开的一种示例性实施例中，所述测试引脚组包括：第一测试引脚组和第二测试引脚组。第一测试引脚组设置于所述绑定区的第一侧，包括两个第一测试引脚，两所述第一测试引脚通过第一短接线短接，所述第一短接线延伸到所述触控传感器与所述基板的贴合区；第二测试引脚组设置于所述绑定区的与所述第一侧相对的第二侧，所述第二测试引脚组包括两个第二测试引脚，两所述第二测试引脚通过第二短接线短接，所述第二短接线延伸到所述触控传感器与所述基板的贴合区。在本公开的一种示例性实施例中，所述触控传感器包括围绕显示区的边沿区，所述第一短接线和所述第二短接线沿所述边沿区延伸。在本公开的一种示例性实施例中，所述第一短接线沿所述开槽区内所述边沿走线的延伸方向延伸到所述异形开槽区，且沿所述绑定区第一侧的方向延伸到所述触控传感器与所述基板的贴合区。在本公开的一种示例性实施例中，所述第二短接线沿所述开槽区内所述边沿走线的延伸方向延伸到所述异形开槽区，且沿所述绑定区第二侧的方向延伸到所述触控传感器与所述基板的贴合区。在本公开的一种示例性实施例中，所述第一短接线和所述第二短接线延伸到整个所述边沿区。在本公开的一种示例性实施例中，所述基板为偏光片。根据本公开的一个方面，提供一种触控模组，该触控模组包括上述的触控传感器以及设置有触控集成电路的电路板，所述电路板绑定在所述触控传感器上；所述电路板的绑定区设置有至少一个测试引脚组，所述测试引脚组包括两个测试引脚；所述电路板与所述触控传感器绑定时，所述触控传感器的两个检测引脚与所述电路板的连个检测引脚分别正对。根据本公开的一个方面，提供一种触控传感器裂纹检测方法，用于检测上述的触控模组，该方法包括：通过一电信号采集单元采用所述电路板上两测试引脚之间的电信号；根据所述电信号判断所述触控传感器是否发生裂纹。本专利技术提供一种触控传感器、触控模组及触控传感器裂纹检测方法。该触控传感器短接两个测试引脚的短接线延伸到绑定区以外，当触控传感器绑定区周围发生裂纹时，短接线断裂，从而电路板上两个测试引脚之间的电阻将无穷大。一方面，本公开提供的触控传感器可以通过测试电路板上两个测试引脚之间的电阻判断触控传感器是否发生裂纹，另一方面，本公开提供的触控传感器可以通过测试电路板上两个测试引脚之间的电阻判断触控传感器与电路板的绑定状态。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。附图说明此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为相关技术中一种触控模组的结构示意图；图2为本公开触控传感器一种示例性实施例的结构示意图；图3为本公开触控传感器另一种示例性实施例的结构示意图；图4为图3中沿A-A的剖面图；图5为本公开触控传感器另一种示例性实施例的结构示意图。具体实施方式现在将参考附图更全面地描述示例实施例。然而，示例实施例能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些实施例使得本公开将更加全面和完整，并将示例实施例的构思全面地传达给本领域的技术人员。图中相同的附图标记表示相同或类似的结构，因而将省略它们的详细描述。虽然本说明书中使用相对性的用语，例如“上”“下”来描述图标的一个组件对于另一组件的相对关系，但是这些术语用于本说明书中仅出于方便，例如根据附图中所述的示例的方向。能理解的是，如果将图标的装置翻转使其上下颠倒，则所叙述在“上”的组件将会成为在“下”的组件。其他相对性的用语，例如“高”“低”“顶”“底”“左”“右”等也作具有类似含义。当某结构在其它结构“上”时，有可能是指某结构一体形成于其它结构上，或指某结构“直接”设置在其它结构上，或指某结构通过另一结构“间接”设置在其它结构上。用语“一个”、“一”、“所述”用以表示存在一个或多个要素/组成部分/等；用语“包括”和“具有”用以表示开放式的包括在内的意思并且是指除了列出的要素/组成部分/等之外还可存在另外的要素/组成部分/等。如图1所示，为相关技术中，一种触控模组的结构示意图，该触控模组包括触控传感器1和电路板2。触控传感器1上设置有包括测试引脚11、12的测试引脚组，其中测试引脚11和测试引脚12短接；电路板2上设有包括测试引脚21、22的测试引脚组，当触控传感器1与电路板2绑定时，测试引脚11和测试引脚21正对，测试引脚12和测试引脚22正对。通过检测测试引脚21和22之间的电信号可以判断触控传感器1与电路板2之间的绑定状态，例如，如果检测测试引脚21和22之间的电阻较小则说明绑定状态良好，如果检测测试引脚21和22之间的电阻较大则说明绑定状态不良。然而，在电路板2与触控传感器1绑定过程中，触控传感器绑定区3(虚线框)的周围容易发生裂纹，从而影响触控传感器的正常功能。例如，触控传感器1在绑定区3的周围存在连接显示区4中触控电极和触控传感器正常引脚13的边沿走线14，绑定区3周围的裂纹容易导致边沿走线14断裂。基于此，本示例性实施例提供一种触控传感器，如图2所示，为本公开触控传感器一种示例性实施例的结构示意图。所述触控传感器5上设置有用于绑定一电路板6的绑定区51(虚线框)，所述绑定区51内设置有用于检测所述触控传感器5与所述电路板6绑定状态的第一测试引脚组，所述第一测试引脚组包括两个第一测试引脚711、712，两所述第一测试引脚711、712通过第一短接线713短接，所述短接线713延伸本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种触控传感器，所述触控传感器上设置有用于绑定一电路板的绑定区，其特征在于，所述绑定区设置有用于检测所述触控传感器与所述电路板绑定状态的至少一个测试引脚组；所述测试引脚组包括两个测试引脚，两所述测试引脚通过短接线短接，所述短接线延伸到所述绑定区以外。

【技术特征摘要】
1.一种触控传感器，所述触控传感器上设置有用于绑定一电路板的绑定区，其特征在于，所述绑定区设置有用于检测所述触控传感器与所述电路板绑定状态的至少一个测试引脚组；所述测试引脚组包括两个测试引脚，两所述测试引脚通过短接线短接，所述短接线延伸到所述绑定区以外。2.根据权利要求1所述的触控传感器，其特征在于，所述触控传感器贴合于一基板，所述基板上开设有一开槽区，所述绑定区形成于所述开槽区内，所述触控传感器位于开槽区以内及绑定区以外的位置形成异形开槽区，所述短接线穿过所述异形开槽区延伸至所述触控传感器与所述基板的贴合区。3.根据权利要求2所述的触控传感器，其特征在于，所述测试引脚组包括：第一测试引脚组，设置于所述绑定区的第一侧，包括两个第一测试引脚，两所述第一测试引脚通过第一短接线短接，所述第一短接线延伸到所述触控传感器与所述基板的贴合区；第二测试引脚组，设置于所述绑定区的与所述第一侧相对的第二侧，所述第二测试引脚组包括两个第二测试引脚，两所述第二测试引脚通过第二短接线短接，所述第二短接线延伸到所述触控传感器与所述基板的贴合区。4.根据权利要求3所述的触控传感器，其特征在于，所述触控传感器包括围绕显示区的边沿区，所述第一短接线和所述第二短接线沿所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：龚庆，牛文骁，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，成都京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11