薄片类介质的粘贴异物检测方法及其装置制造方法及图纸

技术编号:21085927 阅读:48 留言:0更新日期:2019-05-11 08:43
本发明专利技术公开了薄片类介质的粘贴异物检测方法,步骤包括:利用霍尔元件获取待检测的薄片类介质的电压数据;根据电压数据和电压厚度转换公式,获取待检测的薄片类介质的厚度数据;根据所述厚度数据计算所述待检测的薄片类介质的厚度平均值;将待检测的薄片类介质所在平面上厚度大于预设的正常厚度阈值的点作为异常点,并根据连续的多个所述异常点计算所述待检测的薄片类介质的异常区域面积;计算所述异常区域面积内异常点的厚度与所述厚度平均值之间的误差,并根据所述异常区域面积、所述误差计算异物指数;当所述异物指数大于预设的异常阈值时,判定所述薄片类介质存在异物。实施本发明专利技术实施例,能够精确地检验出是否粘有异物,进而提高测量精度。

【技术实现步骤摘要】
薄片类介质的粘贴异物检测方法及其装置
本专利技术涉及厚度检测
,尤其是涉及一种薄片类介质的粘贴异物检测方法及其装置。
技术介绍
随着我国经济的发展与国际地位的提高,人民币纸币发行量和国内外流通量不断增加,纸币流通过程中,难免会出现破损,人们会在纸币上粘贴上胶带等附着物,而这类破损较重粘贴了附着物的纸币,按照人民银行要求应该退出市面流通;目前,薄片类有价文件一般采用特殊的材料制作成,并且具有一定厚度特征的,通过对薄片类有价文件的厚度特征可以识别钞票上粘贴的胶带和折角等,从而剔除不合格的钞票。然而,现有的检测设备一般采用超声波传感器检测厚度,这种方法的测量精度低,不能精确地检验出异物。
技术实现思路
本专利技术提供了一种薄片类介质的粘贴异物检测方法及其装置,应用霍尔元件以检测薄片的厚度并判断厚度是否异常,从而精确地检验出是否粘有异物,进而提高测量精度。为了解决上述技术问题,本专利技术提供了一种薄片类介质的粘贴异物检测方法,步骤包括:利用霍尔元件获取待检测的薄片类介质的电压数据;其中,所述电压数据包括所述待检测的薄片类介质所在平面上每一点厚度对应的电压值;根据所述电压数据和电压厚度转换公本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种薄片类介质的粘贴异物检测方法,其特征在于,步骤包括:利用霍尔元件获取待检测的薄片类介质的电压数据;其中,所述电压数据包括所述待检测的薄片类介质所在平面上每一点厚度对应的电压值;根据所述电压数据和电压厚度转换公式,获取所述待检测的薄片类介质的厚度数据;其中,所述厚度数据包括所述待检测的薄片类介质所在平面上每一点的厚度;根据所述厚度数据计算所述待检测的薄片类介质的厚度平均值;将所述待检测的薄片类介质所在平面上厚度大于预设的正常厚度阈值的点作为异常点,并根据连续的多个所述异常点计算所述待检测的薄片类介质的异常区域面积;计算所述异常区域面积内异常点的厚度与所述厚度平均值之间的误差,并根据所述异...

【技术特征摘要】
1.一种薄片类介质的粘贴异物检测方法,其特征在于,步骤包括:利用霍尔元件获取待检测的薄片类介质的电压数据;其中,所述电压数据包括所述待检测的薄片类介质所在平面上每一点厚度对应的电压值;根据所述电压数据和电压厚度转换公式,获取所述待检测的薄片类介质的厚度数据;其中,所述厚度数据包括所述待检测的薄片类介质所在平面上每一点的厚度;根据所述厚度数据计算所述待检测的薄片类介质的厚度平均值;将所述待检测的薄片类介质所在平面上厚度大于预设的正常厚度阈值的点作为异常点,并根据连续的多个所述异常点计算所述待检测的薄片类介质的异常区域面积;计算所述异常区域面积内异常点的厚度与所述厚度平均值之间的误差,并根据所述异常区域面积、所述误差计算异物指数:其中,Tape为异物指数,K为校准系数,S为异常区域面积,H为误差;当所述异物指数大于预设的异常阈值时,判定所述薄片类介质存在异物。2.如权利要求1所述的薄片类介质的粘贴异物检测方法,其特征在于,所述利用霍尔元件获取待检测的薄片类介质的电压数据,具体为:利用霍尔元件获取待检测的薄片类介质的电压数据:其中,Z表示电压数据,zmn表示所述待检测的薄片类介质所在平面上每一点厚度对应的电压值,m表示行数,n表示列数。3.如权利要求2所述的薄片类介质的粘贴异物检测方法,其特征在于,所述根据所述电压数据和电压厚度转换公式,获取所述待检测的薄片类介质的厚度数据,具体为:根据所述电压厚度转换公式将所述电压数据转换为厚度数据,所述电压厚度转换公式为:X=A(Z-Z0)其中,X为厚度数据,Z为电压数据,A为一个对角矩阵,Z0为厚度为零时采集到的数据。4.如权利要求3所述薄片类介质的粘贴异物检测方法,其特征在于,所述将所述待检测的薄片类介质所在平面上厚度大于预设的正常厚度阈值的点作为异常点,并根据连续的多个所述异常点计算所述待检测的薄片类介质的异常区域面积,具体为:对所述厚度数据中的每行大于预设的正常厚度阈值的电压值求平均值,得出每行的厚度均值数列:其中,Xavg为每行的厚度均值数列;按照行序升序排列,并将所述厚度均值数列中的元素逐一与正常厚度阈值比较,将第一个大于正常厚度阈值的厚度均值作为薄片起始行;按照行序降序排列,并将所述厚度均值数列中的元素逐一与正常厚度阈值比较,将第一个大于正常厚度阈值的厚度均值作为薄片终止行;设定函数:其中,Xij表示为所述厚度数据X的矩阵中的元素,i表示行数,j表示列数,thresh为所述正常厚度阈值;根据所述函数对i进行递加计算,第一个满足所述函数的条件的j值即为第i路的起始位置;并对i进行递减计算,第一个满足所述函数的条件的j值即为第i路的终止位置;其中,...

【专利技术属性】
技术研发人员:邹相潘惠彬谢佩郭红
申请(专利权)人:广州国瀚计算机通讯科技有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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