一种各向异性晶体紫外增透膜的制备制造技术

技术编号:21081810 阅读:30 留言:0更新日期:2019-05-11 07:21
本发明专利技术所提出一种各向异性晶体表面紫外增透膜的制备,针对晶体的各向异性特点,优选膜系结构和镀制工艺参数,有效解决各向异性晶体镀制增透膜容易产生的表面出丝、光洁度差、损伤阈值低等问题。

Preparation of an anisotropic crystal ultraviolet antireflective film

The preparation of an ultraviolet antireflective film on the surface of an anisotropic crystal is proposed. According to the anisotropic characteristics of the crystal, the structure of the film system and the plating process parameters are optimized to effectively solve the problems of surface filamentation, poor finish and low damage threshold, which are easily caused by the coating of an anisotropic crystal antireflective film.

【技术实现步骤摘要】
一种各向异性晶体紫外增透膜的制备
本专利技术涉及激光器件镀膜领域,具体是指一种晶体表面增透膜的制备。
技术介绍
激光得益于其良好的单色性、相干性、方向性和高能量密度的特点,在产业及科研的多个领域得到广泛应用,以精密激光加工等为代表的先进加工技术成为现代制造工业的前沿技术。紫外激光微加工技术是一种可持续发展的绿色技术,代表先进工业加工技术的发展方向。紫外激光加工具有穿透深度、极高的可聚焦密度,其表现出不伤基底的“高度局域化”加工特性。激光加工精度越高对晶体紫外增透膜要求越高。
技术实现思路
本专利技术所提出一种各向异性晶体表面紫外增透膜的制备,针对晶体的各向异性特点,优选膜系结构和镀制工艺参数。经过实验对比,Al2O3作为打底层,与基底结合力好,制备的膜层牢固度好。Al2O3和MgF2两种膜料组合可以获得光谱性能理想的增透膜,但是该膜系需要高温镀制,镀后表面出丝严重,不能采用。经过大量实验验证,最终选定Al2O3、HfO2和SiO2三种膜料的组合,膜系结构为:S/0.3M/0.36H/0.7M/0.7L/A,其中S代表基底材料,A代表空气,M代表1/4基频波长厚度的Al2O3,H代表1/4基频波长厚度的HfO2,L代表1/4基频波长厚度的SiO2。本专利技术所提供的制备工艺,镀膜设备采用莱宝SYRUSPRO1100镀膜机,在真空环境中将基片表面加热至150℃后缓慢退火,本底真空抽至1.0x10-6mbar以上;镀制前用低能量的离子源刻蚀40min,镀制过程温度恒定80℃,用低能量离子源辅助沉积,并辅助充入一定量的高纯氧气;镀后真空室内缓慢退火至55℃以下充气,充气完成后待晶体冷却至室温取出。本专利技术所提供的制备方法,可以有效解决各向异性晶体镀制增透膜容易产生的表面出丝、光洁度差、损伤阈值低等问题。附图说明图1是上述增透膜的膜系结构示意图图2是晶体表面AR-532/266倍频增透膜的反射率曲线。具体实施方式通过具体实施例对本使用新型做进一步详细说明实施例一:CLBO晶体AR-532/266紫外倍频增透膜的镀制被镀样品尺寸为5x5x10mm。膜系结构为S/0.3M/0.36H/0.7M/0.7L/A(其中S代表基底材料,A代表空气,M代表光学厚度为1/4个532nm波长的Al2O3,H代表光学厚度为1/4个532nm波长的HfO2,L代表1/4光学厚度为1/4个532nm波长的SiO2)。镀膜设备为德国莱宝SYRUSPRO1100镀膜机,优选表面光洁度良好的基片,将基片表面加热至150℃后缓慢退火,本底真空抽至1.0x10-6mbar以上开始镀膜,镀膜前用低能量的离子束对基片表面进行预清洗40min。镀制过程温度恒定80℃,用低能量离子束辅助沉积;并辅助充入一定量的高纯氧气。成膜后的晶体在真空室内缓慢退火至55℃以下充气,充气完成后待晶体冷却至室温取出。然后对另一面进行相同的薄膜制备过程。对镀制的样品进行表面质量和光谱指标检验,用10倍放大镜和100倍奥林巴斯金相显微镜观察,均没有观察到表面出丝不良,无明显点、划不良;光谱指标达到:R<0.2%@532nm,R<0.5%@266nm。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种各向异性晶体紫外增透膜的制备,其特征在于:膜系采用Al2O3,HfO2和SiO2三种膜料的组合,膜系结构为S /0.3M/0.36H/0.7M/0.7L/A,其中S代表基底材料,A代表空气,M代表1/4基频波长厚度的Al2O3,H代表1/4基频波长厚度的HfO2,L代表1/4基频波长厚度的SiO2,镀膜设备采用莱宝SYRUSPRO1100镀膜机,在真空环境中将基片表面加热至150℃后缓慢退火,本底真空抽至1.0x10

【技术特征摘要】
1.一种各向异性晶体紫外增透膜的制备,其特征在于:膜系采用Al2O3,HfO2和SiO2三种膜料的组合,膜系结构为S/0.3M/0.36H/0.7M/0.7L/A,其中S代表基底材料,A代表空气,M代表1/4基频波长厚度的Al2O3,H代表1/4基频波长厚度的HfO2,L代表1/4基频波长厚度的SiO2,镀膜设备...

【专利技术属性】
技术研发人员:王昌运吴先云陈伟张星陈秋华谢发利
申请(专利权)人:福建福晶科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:福建,35

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