【技术实现步骤摘要】
半导体激光器全局均匀度的检测方法、装置及可读存储介质
本专利技术涉及激光技术，尤其涉及一种半导体激光器全局均匀度的检测方法、装置及可读存储介质。
技术介绍
随着半导体激光技术的发展，半导体激光器被广泛应用于光通信、光互连、光存储、激光扫描和三维成像等领域。在照射范围内，红外激光的全局亮度是否均匀，是半导体激光器的一项重要指标，影响着半导体激光器的使用性能，对于生产厂商来说，有必要在出厂前对半导体激光器的全局均匀度进行检测，以进行品质管控。
技术实现思路
为了解决上述现有技术的不足，本专利技术提供一种半导体激光器全局均匀度的检测方法，可检测出半导体激光器的全局亮度是否均匀，以进行品质管控。本专利技术还提供一种半导体激光器全局均匀度的检测装置及可读存储介质。本专利技术所要解决的技术问题通过以下技术方案予以实现：一种半导体激光器全局均匀度的检测方法，包括：步骤1：待测激光器向接收平面发射红外激光，红外摄像头向接收平面拍摄红外激光得到激光图像；步骤2：将激光图像中的激光区域分割为多个子区域，依据每个子区域的子亮度平均值和激光区域的总亮度平均值，判断待测激光器的全局均匀度是否合...
【技术保护点】
1.一种半导体激光器全局均匀度的检测方法，其特征在于，包括：步骤1：待测激光器向接收平面发射红外激光，红外摄像头向接收平面拍摄红外激光得到激光图像；步骤2：将激光图像中的激光区域分割为多个子区域，依据每个子区域的子亮度平均值和激光区域的总亮度平均值，判断待测激光器的全局均匀度是否合格。
【技术特征摘要】
1.一种半导体激光器全局均匀度的检测方法，其特征在于，包括：步骤1：待测激光器向接收平面发射红外激光，红外摄像头向接收平面拍摄红外激光得到激光图像；步骤2：将激光图像中的激光区域分割为多个子区域，依据每个子区域的子亮度平均值和激光区域的总亮度平均值，判断待测激光器的全局均匀度是否合格。2.根据权利要求1所述的半导体激光器全局均匀度的检测方法，其特征在于，步骤2包括：步骤2.1：在激光图像中确定激光区域的区域范围；步骤2.2：依据多个等分角度将激光区域分割为多个子区域；步骤2.3：计算出每个子区域的子亮度平均值，和激光区域的总亮度平均值；步骤2.4：计算出每个子亮度平均值与总亮度平均值之间的亮度比值；步骤2.5：依据每个亮度比值，判断待测激光器的全局均匀度是否合格。3.根据权利要求2所述的半导体激光器全局均匀度的检测方法，其特征在于，步骤2.1包括：步骤2.1.1：获取激光区域在上下左右四侧上的最边缘像素点；步骤2.1.2：依据四侧最边缘像素点所在的横直线或纵直线作为激光区域的四侧边缘直线，得到激光区域的区域范围。4.根据权利要求3所述的半导体激光器全局均匀度的检测方法，其特征在于，步骤2.1.1包括：步骤2.1.1.1：在激光图像中，选取激光区域中亮度值较大的至少一像素点，计算出平均亮度值；步骤2.1.1.2：以平均亮度值的一定比例作为二值化阈值，对激光图像进行二值化得到二值化图像；步骤2.1.1.3：在二值化图像中，获取激光区域在上下左右四侧上的最边缘像素点。5.根据权利要求2所述的半导体激光器全局均匀度的检测方法，其特征在于，在步骤2.2中，将待...
【专利技术属性】
技术研发人员：林挺，
申请(专利权)人：信利光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44
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