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本发明公开了一种半导体激光器全局均匀度的检测方法，包括：步骤1：待测激光器向接收平面发射红外激光，红外摄像头向接收平面拍摄红外激光得到激光图像；步骤2：将激光图像中的激光区域分割为多个子区域，依据每个子区域的子亮度平均值和激光区域的总亮度平...
该专利属于信利光电股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过信利光电股份有限公司授权不得商用。

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