视觉信息处理电路的单粒子效应测试方法、装置、系统及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种视觉信息处理电路的单粒子效应测试方法、装置、系统及电子设备，属于器件测试技术领域。所述方法包括辐照时，控制视觉信息处理电路的各功能模块依次运行，且在控制下一功能模块运行前，先判断当前功能模块功能是否正常；若是，则将当前功能模块的实际处理结果存储到存储模块中，并控制下一功能模块运行；若否，则记录一次功能错误，并返回初始步骤重新开始运行各功能模块；当各功能模块均运行完成后，将各功能模块的实际处理结果与标准处理结果比对，确定各功能模块的单粒子翻转错误数；根据功能错误数和单粒子翻转错误数，确定视觉信息处理电路的单粒子错误截面和错误率。本发明专利技术可提供各功能模块的单粒子翻转敏感性，覆盖全面。

Single Event Effect Testing Method, Device, System and Electronic Equipment for Visual Information Processing Circuit

The invention discloses a single event effect test method, device, system and electronic equipment for a visual information processing circuit, which belongs to the field of device test technology. The method includes controlling each functional module of the visual information processing circuit to run sequentially when irradiated, and judging whether the function of the current functional module is normal before controlling the operation of the next functional module; if so, storing the actual processing results of the current functional module into the storage module and controlling the operation of the next functional module; if not, recording a functional error and returning it. The first step is to restart the operation of each functional module; when each functional module is completed, the actual processing results of each functional module are compared with the standard processing results to determine the number of single event reversal errors of each functional module; according to the number of functional errors and single event reversal errors, the single event error cross section and error rate of visual information processing circuit are determined. The invention can provide the single event reversal sensitivity of each functional module and cover all aspects.

【技术实现步骤摘要】
视觉信息处理电路的单粒子效应测试方法、装置、系统及电子设备
本专利技术涉及一种视觉信息处理电路的单粒子效应测试方法、装置、系统及电子设备，属于器件测试

技术介绍
如今，随着半导体器件工艺尺寸的降低，其单粒子效应越来越显著，严重影响空间任务的安全。因此，在半导体器件实际应用于空间任务之前必须对其进行单粒子效应敏感性的评估。目前在对一个复杂的视觉信息处理电路进行单粒子效应测试时，首先通过FPGA将控制信号和输入激励提供给待测电路芯片，由待测电路芯片进行数据处理，并将处理结果采集并发送给上位机，根据待测芯片的最终输出结果正确与否来确定单粒子错误截面和错误率，由单粒子错误截面和错误率来共同表征集成电路单粒子效应敏感性。大规模视觉信息处理电路包含不同的功能模块，不同功能模块的单粒子效应敏感性不同，上述方法无法统计不同功能模块的单粒子效应。
技术实现思路
为解决现有技术中存在的问题，本专利技术提供了一种视觉信息处理电路的单粒子效应测试方法、装置、系统及电子设备，通过分别统计视觉信息处理电路的中各功能模块的单粒子翻转敏感性，用各功能模块的单粒子翻转敏感性来共同表征整个电路的单粒子效应敏感特性本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种视觉信息处理电路的单粒子效应测试方法，其特征在于，包括：当预设辐照条件开始时，控制所述视觉信息处理电路的各功能模块依次运行，且在控制下一所述功能模块运行前，先判断当前所述功能模块功能是否正常；若是，则将当前所述功能模块的实际处理结果存储到存储模块中，并控制下一所述功能模块运行；若否，则记录一次功能错误，并返回初始步骤重新开始运行所述各功能模块；当各所述功能模块均运行完成后，将各所述功能模块的实际处理结果与标准处理结果比对，确定各所述功能模块的单粒子翻转错误数；根据所述功能错误数和所述单粒子翻转错误数，确定所述视觉信息处理电路的单粒子错误截面和错误率。

【技术特征摘要】
1.一种视觉信息处理电路的单粒子效应测试方法，其特征在于，包括：当预设辐照条件开始时，控制所述视觉信息处理电路的各功能模块依次运行，且在控制下一所述功能模块运行前，先判断当前所述功能模块功能是否正常；若是，则将当前所述功能模块的实际处理结果存储到存储模块中，并控制下一所述功能模块运行；若否，则记录一次功能错误，并返回初始步骤重新开始运行所述各功能模块；当各所述功能模块均运行完成后，将各所述功能模块的实际处理结果与标准处理结果比对，确定各所述功能模块的单粒子翻转错误数；根据所述功能错误数和所述单粒子翻转错误数，确定所述视觉信息处理电路的单粒子错误截面和错误率。2.根据权利要求1所述的视觉信息处理电路的单粒子效应测试方法，其特征在于，所述控制所述视觉信息处理电路的各功能模块依次运行，包括：向第一个功能模块发送外部激励数据，使所述第一个功能模块根据所述外部激励数据进行运算，得到所述第一个功能模块的实际处理结果；依次控制后续所述功能模块根据前一所述功能模块的实际处理结果进行运算，得到后续所述功能模块的实际处理结果。3.根据权利要求1所述的视觉信息处理电路的单粒子效应测试方法，其特征在于，所述判断当前所述功能模块功能是否正常，包括：判断当前所述功能模块是否在预设时长内得到实际处理结果，若是则确定功能正常，若否，则确定功能不正常。4.根据权利要求1所述的视觉信息处理电路的单粒子效应测试方法，其特征在于，通过内置处理器控制所述视觉信息处理电路的各功能模块依次运行。5.根据权利要求4所述的视觉信息处理电路的单粒子效应测试方法，其特征在于，所述各功能模块依次运行完成后，还包括：判断所述内置处理器功能是否正常，若否，则记录一次功能错误。6.根据权利要求5所述的视觉信息处理电路的单粒子效应测试方法，其特征在于，根据所述内置处理器是否有响应，判断所述内置处理器功能是否正常。7.根据权利要求1所述的视觉信息处理电路的单粒子效应测试方法，其特征在于，所述将当前所述功能模块的实际处理结果存储到存储模块中之前，还包括：判断当前所述功能模块的外部接口单元是否正常，若否，则记录一次功能错误。8.根据权利要求7所述的视觉信息处理电路的单粒子效应测试方法，其特征在于，通过超时检验方法判断所述功能模块的外部接口单元是否正常。9.一种视觉信息处理电路的单粒子效应测试装置，其特征在于，包括：运行模块，用于当预设辐照条件开始时，控制所述视觉信息处理电路的各功能模块依次运行，且在控制下一所述功能模块运行前，先判断当前所述功能模块功能是否正常；继续运行模块，用于若是，则将当前所述功能模块的实际处理结果存储到存储模块中，并控制下一所述功能模块运行；错误记录模块，用于若否，则记录一次功能错误，并返回初始步骤重新开始运行所述各功能模块；比对模块，用于当各所述功能模块均运行完成后，将各所述功能模块的实际处理结果与...

【专利技术属性】
技术研发人员：于春青，王福庆，陶慧斌，李建成，岳素格，初飞，郑宏超，毕潇，赵旭，李哲，彭惠薪，杜守刚，穆里隆，董方磊，徐雷霈，
申请(专利权)人：北京时代民芯科技有限公司，北京微电子技术研究所，
类型：发明
国别省市：北京,11