基于透射方法的散射式近场显微光学系统技术方案

本发明专利技术公开了一种基于透射方法的散射式近场显微光学系统，包括照射光源、抛物面反射镜组、样品台、金属纳米针、大口径抛物面反射镜、平面反射镜组、抛物面反射镜、探测器；待测样品置于该样品台上，金属纳米针置于该待测样品上方；照射光源发出的光经过抛物面反射镜组先准直成平行光，再汇聚到样品台的下方，光从样品台透射到待测样品上，再从金属纳米针尖处激发出散射信号，散射信号经放置在其上方的大口径抛物面反射镜收集，并准直输出，准直输出的光再经过平面反射镜组入射到抛物面反射镜，最终将信号汇聚到探测器上。本发明专利技术实现了宽波段的近场信号的产生及散射信号提取。

Scattering Near Field Microscopic Optical System Based on Transmission Method

The invention discloses a scattering near-field microscopic optical system based on transmission method, which comprises an irradiation light source, a parabolic reflector group, a sample table, a metal nanoneedle, a large-aperture parabolic reflector, a plane reflector group, a parabolic reflector and a detector; the sample to be measured is placed on the sample platform, and the metal nanoneedle is placed above the sample to be measured to illuminate the light path emitted by the light source; Through the parabolic reflector group, first collimate into parallel light, then converge to the lower part of the sample table. The light transmits from the sample table to the sample to be measured, and then excites the scattering signal from the metal nano-needle tip. The scattering signal is collected by the large-aperture parabolic reflector placed above, and output collimated. The collimated output light is then incident into the parabolic reflector through the plane reflector group, and eventually the scattering signal will be sent to the parabolic reflector. Signals converge on the detector. The invention realizes the generation of a wide band near field signal and the extraction of a scattering signal.

【技术实现步骤摘要】
基于透射方法的散射式近场显微光学系统
本专利技术涉及精密仪器
，尤其涉及一种基于透射方法的散射式近场显微光学系统。
技术介绍
近场成像是突破衍射极限，获得亚波长分辨图像的研究热点之一，自设想提出以来，陆续在微波、可见光、红外与太赫兹波等领域得到了验证。近场通常指距离在波长甚至是亚波长量级的区域。典型的太赫兹波近场成像多指扫描近场太赫兹波显微，即利用局域太赫兹波在样品近场区域进行二维网格状扫描，收集所有待测点处信息后，交由计算机处理和重构出最终图像，该过程所获图像分辨率不受波长限制，主要取决于局域孔径或针尖的大小。根据海森堡测不准原理，为实现扫描平面方向上亚波长量级物体的分辨，该方向上的波数分量必须大于入射太赫兹波的波数，而垂直平面方向上的分量为虚数，这导致太赫兹波在其近场区域除存在传播分量外，还同时存在隐失分量。其中，传播场有能流传播，但不携带样品的细节信息，振幅与传播距离成反比；而隐失场虽无能流传播，但携带样品的细节信息，振幅随距离的增加而指数衰减。近场成像可以突破衍射极限正是因为对隐失波的获取、利用和探测，这与受到衍射极限限制的传统方法中，利用透镜等光学元件对太赫兹波聚焦来本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于透射方法的散射式近场显微光学系统，其特征在于，包括照射光源、抛物面反射镜组、金属纳米针、样品台、大口径抛物面反射镜、平面反射镜组、抛物面反射镜、探测器；待测样品置于该样品台上，金属纳米针置于该待测样品上方；照射光源发出的光经过抛物面反射镜组先准直成平行光，再汇聚到样品台的下方，光从样品台透射到待测样品上，再从金属纳米针尖处激发出散射信号，散射信号经放置在其上方的大口径抛物面反射镜收集，并准直输出，准直输出的光再经过平面反射镜组入射到抛物面反射镜，最终将信号汇聚到探测器上。

【技术特征摘要】
1.一种基于透射方法的散射式近场显微光学系统，其特征在于，包括照射光源、抛物面反射镜组、金属纳米针、样品台、大口径抛物面反射镜、平面反射镜组、抛物面反射镜、探测器；待测样品置于该样品台上，金属纳米针置于该待测样品上方；照射光源发出的光经过抛物面反射镜组先准直成平行光，再汇聚到样品台的下方，光从样品台透射到待测样品上，再从金属纳米针尖处激发出散射信号，散射信号经放置在其上方的大口径抛物面反射镜收集，并准直输出，准直输出的光再经过平面反射镜组入射到抛物面反射镜，最终将信号汇聚到探测器上。2.根据权利要求1所述的基于透射方法的散射式近场显微光学系统，其特征在于，照射光源发出的光为微波、可见光、红外或太赫兹波。3.根据权利要求1所述的基于透射方法的散射式近场显微光学系统，其特征在于，照射光源的出射光为平行光或发散光束。4.根据权利要求1所述的基于透射方法的散射式近场显微光学系统，其特征在于，所述样品台为可移动样品台。5.根据权利要求1所述的基于透射方法的散射式近场显微光学系统，其特征在于，所述抛物面反射镜组包括两正交放置的第一抛物面反...

【专利技术属性】
技术研发人员：姚远，耿安兵，邹勇华，章侃，袁英豪，郭劼，周正，李渊，
申请(专利权)人：华中光电技术研究所中国船舶重工集团有限公司第七一七研究所，
类型：发明
国别省市：湖北,42