一种安全芯片多模块组合验证方法技术

一种安全芯片多模块组合验证方法，采用模块随机组合的方式可以模拟用户应用场景下安全芯片的使用流程，最大限度的覆盖用户所有的应用场景，在验证过程中及早发现芯片存在的问题。本专利仅提供一种验证方法，并不局限于开发者使用何种具体方式和工具实现，也不局限于安全芯片以何种协议或者接口运行。

【技术实现步骤摘要】
一种安全芯片多模块组合验证方法
本专利技术涉及一种安全芯片多模块组合验证方法，用于安全芯片的功能验证和安全性评估。
技术介绍
随着工业级、车轨级、物联网、安全等业务的逐渐扩大，安全芯片已经运用在各个行业，需求量也十分巨大。由于安全芯片应用广阔，场景复杂，因此考核安全芯片的功能十分重要，如果芯片存在一个功能隐患未被发现和解决，影响巨大。但是安全芯片内部的功能模块多，应用场景复杂，单一的发送命令考核安全模块的验证方法存在很多局限性，难以发现芯片潜在的问题。目前各个安全芯片公司采用上位机发送单一命令调用安全模块验证芯片的安全功能和稳定性。安全模块运行过程中几乎不会被任何外部事件打断运行。验证结果只要正确即可。上述的方法，属于传统方法，存在以下缺点：1)、安全芯片应用场景多，每个用户调用的安全模块以及顺序不一致，上述方法难以覆盖如此多的场景；2)、应用场景下，安全模块在运行过程中，会被内部和外部事件随机打断，上述方法难以覆盖这种场景；3)、安全芯片模块的安全功能，不同用户配置不一样，上述方法单一难以遍历和考核所有配置；从上述问题可以看出，评估安全芯片的安全功能是一项十分复杂且工作量很大的工作本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种安全芯片多模块组合验证方法，其特征在于，主要包括：1)为芯片所支持的安全算法和外设(以下将安全算法和外设统称为安全模块)编号并建立相应的安全算法和外设两个数组；2)利用上位机和安全芯片产生不同的两组随机数据，上位机产生的随机数决定了安全模块的调用顺序，安全芯片产生的随机数决定了安全模块的调用次数；同时，安全芯片产生的随机数亦决定了安全模块功能配置、安全模块使用数据以及安全芯片内部中断和外部触发中断产生的时间；3)启动安全芯片的安全模块调用，并开启内部中断和外部中断，直至所有安全模块调用完毕；4)待所有安全模块调用完成之后关闭内外部中断，重新产生随机数初始化安全模块调用顺序、次数以及安全...

【技术特征摘要】
1.一种安全芯片多模块组合验证方法，其特征在于，主要包括：1)为芯片所支持的安全算法和外设(以下将安全算法和外设统称为安全模块)编号并建立相应的安全算法和外设两个数组；2)利用上位机和安全芯片产生不同的两组随机数据，上位机产生的随机数决定了安全模块的调用顺序，安全芯片产生的随机数决定了安全模块的调用次数；同时，安全芯片产生的随机数亦决定了安全模块功能配置、安全模块使用数据以及安全芯片内部中断和外部触发中断产生的时间；3)启动安全芯片的安全模块调用，并开启内部中断和外部中断，直至所有安全模块调用完毕；4)待所有安全模块调用完成之后关闭内外部中断，重新产生随机数初始化安全模块调用顺序、次数以及安全模块功能配置、内外部中断时间；反复验证直至出错或者达到验证时间结束验证。2.根据权利要求1所述的一种安全芯片多模块组合验证方法，其特征在于，所述步骤1中的建立相应的安全算法和外设两个数组，数组...

【专利技术属性】
技术研发人员：董攀，
申请(专利权)人：北京中电华大电子设计有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京,11