一种用于测试充电芯片的设备制造技术

本实用新型专利技术提供了一种用于测试充电芯片的设备，包括：测试电路以及底座、固定在底座上的垂直支架和与垂直支架连接的固定支架；固定支架固定有传动机构，传动机构包括：传动机构固定件、导向筒、联动轴、连接件和扳手；转动扳手的手柄端，在扳手的转力带动下，连接件带动联动轴在导向筒内上下滑动，联动轴带动下压板下压或上升；底座上设置有限位槽，限位槽用于将淬盘限定在限位槽内，淬盘上设有产品容置槽；底座上还设置有弹力探针，弹力探针的两个针脚分别与测试电路的两个接入端电连接，在待测试产品放置于产品容置槽内时，弹力探针的位置正对待测试产品的测试接口；在下压板的下压下，待测试产品的测试接口与弹力探针触压接触，以完成对待测试产品的测试。

【技术实现步骤摘要】
一种用于测试充电芯片的设备
本技术涉及一种电子
，尤其涉及一种用于测试充电芯片的设备。
技术介绍
为了保证用户的网银交易安全，银行在为用户办理银行卡时还可以给用户颁发智能密码设备，协助用户办理网银交易。用户在进行网银交易时，只有使用智能密码设备才能完成各种金钱交易，否则，客户端会提示用户插入智能密码设备。随着智能密码设备的快速发展以及网银交易对智能密码设备的依赖，智能密码设备被用户频繁的使用，尤其是经常办理大额网银交易的用户。但是，由于智能密码设备不可拆卸，因此，无法更换电池，为了提高智能密码设备的使用续航时间，业内多采用充电芯片来实现对智能密码设备的电池进行充电。而充电芯片是由工厂的生产线大批量生产的，在投入使用之前，为了保证使用在智能密码设备中的充电芯片均可以达到良好的充电能力，急需一种简单的对充电芯片工作是否正常的用于测试充电芯片的设备。此外，如何能够快速测试芯片是否工作正常一直是设备领域需要解决的问题之一。目前，传统的测试方式一般为人工对芯片进行测试，但是，上述测试方式检测速度慢，准确率较低，而且还容易出现漏检的问题。因此，也急需一种可以提高测试速度和准确率、避免漏检的用于测试充电芯片的设备。
技术实现思路
本技术旨在解决上述问题/之一。本技术的主要目的在于提供一种用于测试充电芯片的设备。为达到上述目的，本技术的技术方案具体是这样实现的：本技术一方面提供了一种用于测试充电芯片的设备，包括：底座和跨设于所述底座上的支撑架，所述支撑架包括垂直固定在所述底座两侧的两个垂直支架和与两个所述垂直支架连接的固定支架；所述固定支架固定有传动机构，所述用于测试充电芯片的设备还包括下压板，其中：所述传动机构至少包括：传动机构固定件、导向筒、联动轴、连接件和扳手；其中，所述传动机构固定件固定在所述固定支架上；所述导向筒固定在所述传动机构固定件的一个自由端；所述联动轴穿过所述导向筒，并沿所述导向筒上下滑动，所述联动轴的一端与所述下压板连接，另一端与所述连接件的一端连接；所述扳手呈L型，所述扳手的前端与所述传动机构固定件的另一自由端可转动连接，所述扳手的弯折处与所述连接件的另一端可转动连接；转动所述扳手的手柄端，在所述扳手的转力带动下，所述连接件带动所述联动轴在所述导向筒内上下滑动，所述联动轴向靠近所述底座的方向运动时带动所述下压板下压，所述联动轴向远离所述底座的方向运动时带动所述下压板上升；所述底座上设置有限位槽，所述限位槽的位置与所述下压板的位置对应；所述限位槽用于将淬盘限定在所述限位槽内，所述淬盘上设有产品容置槽，用于容置待测试产品；所述底座上还设置有弹力探针，在所述待测试产品放置于所述产品容置槽内时，所述弹力探针的位置正对所述待测试产品的测试接口；所述待测试产品在所述下压板的下压下，所述待测试产品的测试接口与所述弹力探针触压接触，以完成对所述待测试产品的测试；所述用于测试充电芯片的设备还包括基于充电芯片的测试电路，其中，所述基于充电芯片的测试电路包括：模拟电池电路、待检测电路、充电芯片和充电电流测量电路；其中，所述模拟电池电路至少包括：供电端口、第一控制端口、第一PMOS管、第一NMOS管、第一电阻、第二电阻、第三电阻、整流二极管、模拟电池内阻和第一电容；其中：所述供电端口与供电电源电连接；所述第一PMOS管的源极与所述供电端口电连接，所述第一PMOS管的漏极与所述整流二极管的正向接入端电连接，所述第一PMOS管的栅极与所述第一NMOS管的漏极电连接；所述第一NMOS管的源极与所述供电电源的地端电连接，所述第一NMOS管的栅极与所述第三电阻的一端电连接，所述第三电阻的另一端连接至所述第一控制端口，在所述第一控制端口输出的控制信号的控制下导通或关断所述第一PMOS管；所述第一电阻电连接在所述供电端口与所述第一PMOS管的栅极之间；所述第二电阻电连接在所述第一NMOS管的栅极与所述供电电源的地端之间；所述模拟电池内阻与所述第一电容并联，并电连接在所述整流二极管的反向接入端与所述供电电源的地端之间；所述待检测电路至少包括：第二控制端口、待测电阻、第二PMOS管、第二NMOS管、第四电阻、第五电阻、第六电阻和第二输出端；其中：所述待测电阻的一端与所述整流二极管的反向接入端电连接，所述待测电阻的另一端与所述第二PMOS管的漏极电连接，所述第二PMOS管的源极与所述第二输出端电连接，所述第二PMOS管的栅极与所述第二NMOS管的漏极电连接；所述第二NMOS管的源极与所述供电电源的地端电连接，所述第二NMOS管的栅极与所述第六电阻的一端电连接，所述第六电阻的另一端连接至所述第二控制端口，在所述第二控制端口输出的控制信号的控制下导通或关断所述第二PMOS管；所述第四电阻电连接在所述第二NMOS管的栅极与所述供电电源的地端之间；所述第五电阻电连接在所述第二PMOS管的栅极与所述第二输出端之间；所述弹力探针的两个用于检测充电芯片的针脚分别与所述第二输出端和所述供电电源的地端电连接；所述充电芯片连接至所述第二输出端与所述供电电源的地端之间，以为所述模拟电池电路充电，在所述充电芯片为所述模拟电池电路充电时，产生电流流经所述待测电阻；所述充电电流测量芯片的第一检测接入端与第二检测接入端电连接至所述待测电路的两端；所述充电电流测量芯片的输出端输出电压测量值，所述电压测量值是根据流经所述待测电阻的电流得到的。可选的，该设备还包括：滑动轴；所述滑动轴的两端固定在所述底座和所述固定支架上；所述滑动轴与所述底座的表面垂直，与所述垂直支架平行；所述滑动轴垂直穿过所述下压板，以使得所述下压板稳定地沿所述滑动轴运行。可选的，所述固定支架包括滑动轴固定件，用于固定所述滑动轴的一端，所述滑动轴的另一端固定在所述底座的表面上。可选的，所述滑动轴至少包括一对，所述滑动轴固定件与所述滑动轴匹配设置。可选的，所述淬盘设有多个产品容置槽，以容置多个所述待测试产品。可选的，所述弹力探针包括多组，每组弹力探针包括多根探针；所述弹力探针与所述淬盘的产品容置槽匹配设置。可选的，该设备还包括：第一增益调节电阻和第二增益调节电阻；所述第一增益调节电阻电连接在所述充电电流测量芯片的输出端与所述充电电流测量芯片的反馈端之间，所述第二增益调节电阻电连接在所述充电电流测量芯片的反馈端与所述充电电流测量芯片的参考端之间，所述参考端与所述供电电源的地端电连接。可选的，该设备还包括：第二电容；所述第二电容与所述第一增益调节电阻并联，连接在所述充电电流测量芯片的输出端与所述充电电流测量芯片的反馈端之间。可选的，其中，VOUT为所述电压测量值，Isample为流经所述待测电阻的电流，R22为待测电阻，Ra1所述第一增益调节电阻，Ra2为所述第二增益调节电阻。可选的，所述充电电流测量芯片采用MAX9922芯片。由上述本技术提供的技术方案可以看出，本技术提供了一种用于测试充电芯片的设备，通过传动机构以及下压板等机械结构将待测产品固定在底座的产品容置槽中，方便弹力探针完成对产品的测试，弹力探针连接到测试电路，可以实现机器测试，提高了测试效率和准确率，并能够避免对产品的漏检；而且通过充电电流测量电路输出的电压测量值，可以监控充电芯片是否处于正常的工作状态本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于测试充电芯片的设备，其特征在于，包括：底座和跨设于所述底座上的支撑架，所述支撑架包括垂直固定在所述底座两侧的两个垂直支架和与两个所述垂直支架连接的固定支架；所述固定支架固定有传动机构，所述用于测试充电芯片的设备还包括下压板，其中：所述传动机构至少包括：传动机构固定件、导向筒、联动轴、连接件和扳手；其中，所述传动机构固定件固定在所述固定支架上；所述导向筒固定在所述传动机构固定件的一个自由端；所述联动轴穿过所述导向筒，并沿所述导向筒上下滑动，所述联动轴的一端与所述下压板连接，另一端与所述连接件的一端连接；所述扳手呈L型，所述扳手的前端与所述传动机构固定件的另一自由端可转动连接，所述扳手的弯折处与所述连接件的另一端可转动连接；转动所述扳手的手柄端，在所述扳手的转力带动下，所述连接件带动所述联动轴在所述导向筒内上下滑动，所述联动轴向靠近所述底座的方向运动时带动所述下压板下压，所述联动轴向远离所述底座的方向运动时带动所述下压板上升；所述底座上设置有限位槽，所述限位槽的位置与所述下压板的位置对应；所述限位槽用于将淬盘限定在所述限位槽内，所述淬盘上设有产品容置槽，用于容置待测试产品；所述底座上还设置有弹力探针，在所述待测试产品放置于所述产品容置槽内时，所述弹力探针的位置正对所述待测试产品的测试接口；所述待测试产品在所述下压板的下压下，所述待测试产品的测试接口与所述弹力探针触压接触，以完成对所述待测试产品的测试；所述用于测试充电芯片的设备还包括基于充电芯片的测试电路，其中，所述基于充电芯片的测试电路包括：模拟电池电路、待检测电路、充电芯片和充电电流测量电路；其中，所述模拟电池电路至少包括：供电端口、第一控制端口、第一PMOS管、第一NMOS管、第一电阻、第二电阻、第三电阻、整流二极管、模拟电池内阻和第一电容；其中：所述供电端口与供电电源电连接；所述第一PMOS管的源极与所述供电端口电连接，所述第一PMOS管的漏极与所述整流二极管的正向接入端电连接，所述第一PMOS管的栅极与所述第一NMOS管的漏极电连接；所述第一NMOS管的源极与所述供电电源的地端电连接，所述第一NMOS管的栅极与所述第三电阻的一端电连接，所述第三电阻的另一端连接至所述第一控制端口；所述第一电阻电连接在所述供电端口与所述第一PMOS管的栅极之间；所述第二电阻电连接在所述第一NMOS管的栅极与所述供电电源的地端之间；所述模拟电池内阻与所述第一电容并联，并电连接在所述整流二极管的反向接入端与所述供电电源的地端之间；所述待检测电路至少包括：第二控制端口、待测电阻、第二PMOS管、第二NMOS管、第四电阻、第五电阻、第六电阻和第二输出端；其中：所述待测电阻的一端与所述整流二极管的反向接入端电连接，所述待测电阻的另一端与所述第二PMOS管的漏极电连接，所述第二PMOS管的源极与所述第二输出端电连接，所述第二PMOS管的栅极与所述第二NMOS管的漏极电连接；所述第二NMOS管的源极与所述供电电源的地端电连接，所述第二NMOS管的栅极与所述第六电阻的一端电连接，所述第六电阻的另一端连接至所述第二控制端口；所述第四电阻电连接在所述第二NMOS管的栅极与所述供电电源的地端之间；所述第五电阻电连接在所述第二PMOS管的栅极与所述第二输出端之间；所述弹力探针的两个用于检测充电芯片的针脚分别与所述第二输出端和所述供电电源的地端电连接；所述充电芯片连接至所述第二输出端与所述供电电源的地端之间；所述充电电流测量芯片的第一检测接入端与第二检测接入端电连接至所述待测电路的两端；所述充电电流测量芯片的输出端输出电压测量值。...

【技术特征摘要】
1.一种用于测试充电芯片的设备，其特征在于，包括：底座和跨设于所述底座上的支撑架，所述支撑架包括垂直固定在所述底座两侧的两个垂直支架和与两个所述垂直支架连接的固定支架；所述固定支架固定有传动机构，所述用于测试充电芯片的设备还包括下压板，其中：所述传动机构至少包括：传动机构固定件、导向筒、联动轴、连接件和扳手；其中，所述传动机构固定件固定在所述固定支架上；所述导向筒固定在所述传动机构固定件的一个自由端；所述联动轴穿过所述导向筒，并沿所述导向筒上下滑动，所述联动轴的一端与所述下压板连接，另一端与所述连接件的一端连接；所述扳手呈L型，所述扳手的前端与所述传动机构固定件的另一自由端可转动连接，所述扳手的弯折处与所述连接件的另一端可转动连接；转动所述扳手的手柄端，在所述扳手的转力带动下，所述连接件带动所述联动轴在所述导向筒内上下滑动，所述联动轴向靠近所述底座的方向运动时带动所述下压板下压，所述联动轴向远离所述底座的方向运动时带动所述下压板上升；所述底座上设置有限位槽，所述限位槽的位置与所述下压板的位置对应；所述限位槽用于将淬盘限定在所述限位槽内，所述淬盘上设有产品容置槽，用于容置待测试产品；所述底座上还设置有弹力探针，在所述待测试产品放置于所述产品容置槽内时，所述弹力探针的位置正对所述待测试产品的测试接口；所述待测试产品在所述下压板的下压下，所述待测试产品的测试接口与所述弹力探针触压接触，以完成对所述待测试产品的测试；所述用于测试充电芯片的设备还包括基于充电芯片的测试电路，其中，所述基于充电芯片的测试电路包括：模拟电池电路、待检测电路、充电芯片和充电电流测量电路；其中，所述模拟电池电路至少包括：供电端口、第一控制端口、第一PMOS管、第一NMOS管、第一电阻、第二电阻、第三电阻、整流二极管、模拟电池内阻和第一电容；其中：所述供电端口与供电电源电连接；所述第一PMOS管的源极与所述供电端口电连接，所述第一PMOS管的漏极与所述整流二极管的正向接入端电连接，所述第一PMOS管的栅极与所述第一NMOS管的漏极电连接；所述第一NMOS管的源极与所述供电电源的地端电连接，所述第一NMOS管的栅极与所述第三电阻的一端电连接，所述第三电阻的另一端连接至所述第一控制端口；所述第一电阻电连接在所述供电端口与所述第一PMOS管的栅极之间；所述第二电阻电连接在所述第一NMOS管的栅极与所述供电电源的地端之间；所述模拟电池内阻与所述第一电容并联，并电连接在所述整流二极管的反向接入端与所述供电电源的地端之间；所述待检测电路至少包括：第二控制端口、待测电阻、第二PMOS管、第二NMOS管、第四电阻、第五电阻、第六电阻和第二输出端；其中：所述待测电阻的一端与所述整流二极管的反向接入端电连接，所述待测电阻的另一端与所述第二PMOS...

【专利技术属性】
技术研发人员：李东声，
申请(专利权)人：天地融电子天津有限公司，
类型：新型
国别省市：天津,12