【技术实现步骤摘要】
片式同步整流器件
本技术涉及一种片式同步整流器件,属于电源交流与直流变换领域。
技术介绍
目前电源交流与直流转换
发展较快,同步整流电路正在取代整流管。在低电压、大电流输出的情况下,整流管的导通压降VF较高,输出端整流管的损耗尤为突出。快恢复管(FRD)或超快恢复管(SRD)的导通压降VF可达1.0~1.2V,即使采用低压降的肖特基管(SBD),也会产生大约0.6V的压降,这就导致整流损耗增大,电源效率降低。功率MOSFET的通态电阻很低,导通压降比较小,一般只能达到0.006V左右,可以很好的提高电路效率。同步整流电路是采用通态电阻极低的功率MOSFET来取代整流管,因此能大大降低整流器的损耗,提高DC/DC变换器的效率,满足低压、大电流整流的需要。当前,大部分同步整流电路由MOSFET器件、控制电路及蓄能元件三部分组成,使用时,直接将三部分焊接在PCB板上,外围元件多,占用PCB面积也大,成本相对较高。
技术实现思路
针对现有技术的缺陷,本技术提供一种片式同步整流器件,将MOSFET芯片、控制IC芯片和蓄能元件集成在金属框架上,可直接替代PCB板上的单只整流 ...
【技术保护点】
1.一种片式同步整流器件,其特征在于:包括金属框架,金属框架上设有片式同步整流器件的正极和负极,金属框架上还设有MOSFET芯片粘片区、控制IC芯片粘片区、蓄能元件粘片区、第一过渡键合区和第二过渡键合区,控制IC粘片区与片式同步整流器件的负极相连,蓄能元件粘片区与片式同步整流器件的正极相连;MOSFET芯片的漏极焊接在MOSFET芯片粘片区,源极通过键合丝与片式同步整流器件的正极相连,控制IC芯片粘接在控制IC芯片粘片区,控制IC芯片与MOSFET芯片的栅极之间用键合丝通过第一过渡键合区连接,蓄能元件粘接在蓄能元件粘片区,一端与片式同步整流器件的正极相连,另一端与控制IC芯 ...
【技术特征摘要】
1.一种片式同步整流器件,其特征在于:包括金属框架,金属框架上设有片式同步整流器件的正极和负极,金属框架上还设有MOSFET芯片粘片区、控制IC芯片粘片区、蓄能元件粘片区、第一过渡键合区和第二过渡键合区,控制IC粘片区与片式同步整流器件的负极相连,蓄能元件粘片区与片式同步整流器件的正极相连;MOSFET芯片的漏极焊接在MOSFET芯片粘片区,源极通过键合丝与片式同步整流器件的正极相连,控制IC芯片粘接在控制IC芯片粘片区,控制IC芯片与MOSFET芯片的栅极之间用键合丝通过第一过渡键合区连接,蓄能元件粘接在蓄能元件粘片区,一端与片式同步整流器件的正极相连,另...
【专利技术属性】
技术研发人员:李继远,张庆猛,崔同,张洪亮,季群,王丽,祁伟,
申请(专利权)人:济南晶恒电子有限责任公司,
类型:新型
国别省市:山东,37
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