一种电压测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种电压测试方法和装置，处理芯片的电压输入端VDD与电源连接，所述处理芯片包括模数转换器ADC通道，所述ADC通道与所述电压输入端相连，所述方法包括：所述处理芯片采集所述处理芯片内部的模数转换量化值，并确定所述处理芯片的参考电压，所述参考电压为所述处理芯片的内部电压；所述处理芯片根据所述参考电压、所述模数转换量化值以及输入电压计算公式计算所述ADC通道的输入电压；所述处理芯片根据所述输入电压以及电源电压与ADC通道的输入电压之间的对应关系确定所述电源电压。本发明专利技术的技术方案，利用处理芯片直接进行电压处理，节省电路板的空间和处理芯片的资源，实现了降低整体成本的目的。

【技术实现步骤摘要】
一种电压测试方法及装置
本专利技术涉及单片机应用
，尤其涉及一种电压测试方法及装置。
技术介绍
在实际生活中，用户有时需要对电池供电电源进行检测，尤其是一些便携式产品，比如采用电池供电的产品，控制系统一般都要求对电池的电压进行监控，有些需要指示电池的电量，从而判断电池的使用情况，有些需要在不同的电压情况下，做出不同的程序控制等等。因此，为了及时观察到电池的电量情况以便采取相应措施，需要对系统的供电电源进行检测。目前，对电池的电压进行检测主要是通过在电源上接电阻分压采样电路，然后通过单片机的模数转换(analogueto-digital，A/D)口进行采样处理。即在电路中接两个分压电阻，通过单片机的A/D口进行采样，对电源进行检测。但是利用该方法检测电源的电压时，需要采用电阻分压，所以需要电阻、电容等材料，还需要占用单片机的一个A/D口来进行采样，使用器件较多，布线空间也有一定的限制，整体成本相对较高。
技术实现思路
基于此，为解决上述提到的传统技术中对于电压检测方式存在使用电阻等材料，布线空间使用较大，整体成本相对较高的技术问题，本专利技术提供了一种电压检测方法及装置，以便节省印制电路板(printedcircuitboard，PCB)的空间和单片机资源，达到降低整体成本的目的。本专利技术实施例一方面提供了一种电压测试方法，处理芯片的电压输入端VDD与电源连接，所述处理芯片包括模数转换器(Analog-to-DigitalConverter，ADC)通道，所述ADC通道与所述电压输入端相连，所述方法包括：所述处理芯片采集所述处理芯片内部的模数转换量化值，并确定所述处理芯片的参考电压(voltagereference，VREF)，所述参考电压为所述处理芯片的内部电压；所述处理芯片根据所述参考电压、所述模数转换量化值以及输入电压计算公式计算所述ADC通道的输入电压；所述处理芯片根据所述输入电压以及电源电压与ADC通道的输入电压之间的对应关系确定所述电源电压。其中，所述确定所述处理芯片的参考电压还包括：所述处理芯片检测所述处理芯片内部的能隙基准电压(Bandgapreferencevoltage，Vbg)；所述处理芯片根据所述能隙基准电压确定所述参考电压。具体的，所述处理芯片根据所述能隙基准电压确定所述参考电压包括：所述处理芯片获取ADC参考电压位值；所述处理芯片根据所述ADC参考电压位值确定能隙基准电压与参考电压之间的对应关系；所述处理芯片根据所述能隙基准电压以及所述能隙基准电压与参考电压之间的对应关系确定所述参考电压。其中，所述输入电压计算公式为ADC通道的输入电压＝参考电压*模数转换量化值/模数转换最大值，所述模数转换最大值为2的N次幂减一，N为所述处理芯片中ADC的位数。其中，所述处理芯片根据所述输入电压以及电源电压与ADC通道的输入电压之间的对应关系确定所述电源电压之前还包括：所述处理芯片获取ADC输入通道选择位值，根据所述ADC输入通道选择位值确定所述电源电压与ADC通道的输入电压之间的对应关系。其中，所述处理芯片根据所述输入电压以及电源电压与ADC通道的输入电压之间的对应关系确定所述电源电压之后还包括：所述处理芯片根据所述电源电压控制LED灯的显示情况，所述LED灯的显示情况用于指示所述电源电压。本专利技术实施例另一方面提供了一种电压测试装置，所述电压测试装置包括处理芯片，所述处理芯片的电压输入端VDD与电源连接，所述处理芯片包括模数转换器ADC通道，所述ADC通道与所述电压输入端相连，所述处理芯片还包括：采样模块，用于采集所述处理芯片内部的模数转换量化值；参考电压确定模块，用于确定所述处理芯片的参考电压，所述参考电压为所述处理芯片的内部电压；数据处理模块，用于根据所述参考电压、所述模数转换量化值以及输入电压计算公式计算所述ADC通道的输入电压；电源电压确定模块，用于根据所述输入电压以及电源电压与ADC通道的输入电压之间的对应关系确定所述电源电压。本专利技术实施例另一方面提供了一种处理芯片，所述处理芯片的电压输入端VDD与电源连接，所述处理芯片包括模数转换器ADC通道，所述ADC通道与所述电压输入端相连，其特征在于，所述处理芯片包括处理器、存储器和输入输出接口，所述处理器和所述存储器、所述输入输出接口通过线路互联；其中，所述存储器存储有程序指令，所述程序指令被所述处理器执行时，使所述处理器执行第一方面的方法。本专利技术实施例另一方面提供了一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时使所述处理器执行第一方面的方法。本专利技术实施例中，通过利用处理芯片内部的模数转换器ADC通道，并将处理芯片的电压输入端VDD与电源连接，处理芯片的内部电路可以将电源电压转换成模数转换器ADC通道的输入电压，ADC输入电压通过ADC通道进行模数转换后成为模数转换值，因此，通过采集处理芯片内部的模数转换量化值和处理芯片内部的参考电压，则可以输入电压计算公式计算出所述模数转换器ADC通道的输入电压，进而可以电源电压与输入电压之间的对应关系确定电源电压，不需要额外的电阻分压采样电路或者占用处理芯片的A/D口，减少了使用材料，节省了PCB的空间和处理芯片的资源，降低了整体成本。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。其中：图1为本专利技术实施例提供的一种电压测试方法流程图；图2为本专利技术实施例提供的一种参考电压确定方法流程图；图3为本专利技术实施例提供的一种电压测试装置的结构示意图；图4为本专利技术实施例提供的一种电压测试电路示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。为解决上述提到的传统技术中对于电压检测方式使用材料较多，布线空间使用较大，使得整体成本相对较高的技术问题，本专利技术实施例提供了一种电压测试方法及装置，使用内部具备模数转换器(Analog-to-DigitalConverter，ADC)通道的处理芯片进行电压测试，具体通过上述处理芯片内部的ADC通道的功能实现电源电压的模数转换及量化值采集，最终通过输入电压计算公式以及电源电压与ADC通道的输入电压之间的对应关系计算得到电源电压，反映电源电压的情况，减少了元器件的使用，节省PCB的空间和芯片资源，达到降低整体成本的目的。本专利技术的说明书和权利要求书及附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而非用于描述特定顺序。此外，术语“包括”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、装置、产品或设备没有限定于已列出的步骤或模块，而是可选地还包括没有列出的步骤或模块，或可选地还包括对于这些过程、方法、装置、产品或设备固有的其本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电压测试方法，其特征在于，处理芯片的电压输入端VDD与电源连接，所述处理芯片包括模数转换器ADC通道，所述ADC通道与所述电压输入端相连，所述方法包括：所述处理芯片采集所述处理芯片内部的模数转换量化值，并确定所述处理芯片的参考电压，所述参考电压为所述处理芯片的内部电压；所述处理芯片根据所述参考电压、所述模数转换量化值以及输入电压计算公式计算所述ADC通道的输入电压；所述处理芯片根据所述输入电压以及电源电压与ADC通道的输入电压之间的对应关系确定所述电源电压。

【技术特征摘要】
1.一种电压测试方法，其特征在于，处理芯片的电压输入端VDD与电源连接，所述处理芯片包括模数转换器ADC通道，所述ADC通道与所述电压输入端相连，所述方法包括：所述处理芯片采集所述处理芯片内部的模数转换量化值，并确定所述处理芯片的参考电压，所述参考电压为所述处理芯片的内部电压；所述处理芯片根据所述参考电压、所述模数转换量化值以及输入电压计算公式计算所述ADC通道的输入电压；所述处理芯片根据所述输入电压以及电源电压与ADC通道的输入电压之间的对应关系确定所述电源电压。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述处理芯片的参考电压包括：所述处理芯片检测所述处理芯片内部的能隙基准电压；所述处理芯片根据所述能隙基准电压确定所述参考电压。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述处理芯片根据所述能隙基准电压确定所述参考电压包括：所述处理芯片获取ADC参考电压位值；所述处理芯片根据所述ADC参考电压位值确定能隙基准电压与参考电压之间的对应关系；所述处理芯片根据所述能隙基准电压以及所述能隙基准电压与参考电压之间的对应关系确定所述参考电压。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述输入电压计算公式为ADC通道的输入电压＝参考电压*模数转换量化值/模数转换最大值，所述模数转换最大值为2的N次幂减一，N为所述处理芯片中ADC的位数。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述处理芯片根据所述输入电压以及电源电压与ADC通道的输入电压之间的对应关系确定所述电源电压之前还包括：所述处理芯片获取ADC输入通道选择位值，根据所述ADC输入通道选择位值确定所述电源电压与ADC通道的输入电压之间的对应关系。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述处理芯片根据所述输入电压以及电源电压与ADC通道的输入电压之间的对应关系确定所述电源电压之后还包括：所述处理芯片根据所述电源电压控制LED灯的显示情况，所述LED灯的显示情况用于指示所述电源电压。7.一种电压测试装置，其特征在于，所述电压测试装置包括处理芯片，所述处理芯片的电压输入端VDD与电源连接，所述处理芯片包括模数转换器ADC通道，所述ADC通道与所述电压输入端相连，所述处理芯片还包括：采样模块，用于...

【专利技术属性】
技术研发人员：龙逸，
申请(专利权)人：深圳和而泰小家电智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44