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本发明实施例公开了一种电压测试方法和装置，处理芯片的电压输入端VDD与电源连接，所述处理芯片包括模数转换器ADC通道，所述ADC通道与所述电压输入端相连，所述方法包括：所述处理芯片采集所述处理芯片内部的模数转换量化值，并确定所述处理芯片的参...
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