【技术实现步骤摘要】
频率响应分析测量中扫频方法
本专利技术涉及航空工程试验与测试领域的
,尤其是涉及一种频率响应分析测量中扫频方法。
技术介绍
大型工程试验中,频率响应特性的测量是常见而且重要的一项试验。如飞机飞行控制系统试验、飞机结构与模态耦合试验、飞行控制系统稳定储备测量试验中,都需要完成对被试系统的频率响应分析。在频率响应特性的测量中,通常使用以相关分析技术为基础的频率响应分析仪或是以快速傅立叶变化(FFT)技术为基础的动态信号分析仪,如SI1250、SI1254频率响应分析仪,以及HP3562A、E35670A动态信号分析仪。上述完成频率响应特性测量分析的频率响应分析仪或是动态信号分析仪,均配置有信号发生器,产生正弦激励信号,并且在测量过程中能自动改变正弦激励信号的频率,完成不同频率点的频率响应特性的测量,得到被试对象在整个扫频段的幅频特性和相频特性。频率响应测量中的输入激励信号通常为正弦扫频信号,一般有线性的扫频和对数扫频两种形式。线性扫频时,激励信号的频率从最大值或最小值开始,频率按固定间隔逐步变化;对数扫频时,激励信号的频率从上限或下限开始,频率按对数关系逐步改变 ...
【技术保护点】
1.一种频率响应分析测量中扫频方法,其特征在于:包括以下步骤:S11,设定相邻两个扫频频率点之间幅频特性的幅值增益的变化量,以及扫频频率的最小值和最大值;S12,读取当前扫频点以及前序扫频点对应幅频特性数据,或者读取当前扫频点以及前序扫频点对应相频特性数据;S13,选取扫频点及其对应的幅频特性数据,或者选取扫频点及其对应相频特性数据,通过数值分析预测计算下一个扫频点频率值;S14,判断计算完扫频段全部扫频点否,如未完则返回S12,继续扫频频率的计算;如已经完成扫频段全部扫频点计算,则结束。
【技术特征摘要】
1.一种频率响应分析测量中扫频方法,其特征在于:包括以下步骤:S11,设定相邻两个扫频频率点之间幅频特性的幅值增益的变化量,以及扫频频率的最小值和最大值;S12,读取当前扫频点以及前序扫频点对应幅频特性数据,或者读取当前扫频点以及前序扫频点对应相频特性数据;S13,选取扫频点及其对应的幅频特性数据,或者选取扫频点及其对应相频特性数据,通过数值分析预测计算下一个扫频点频率值;S14,判断计算完扫频段全部扫频点否,如未完则返回S12,继续扫频频率的计算;如已经完成扫频段全部扫频点计算,则结束。2.一种频率响应分析测量中扫频方法,其特征在于,包括以下步骤:在频率响应分析测量中,对已经测量得到扫频频率点及其对应的幅频特性数据或相频特性数据进行处理;设定当前扫频频率点与下一个扫频频率点所对应幅频特性幅值增益之间的变化量,或者是相频特性相位数据之间的变化量;通过数值分析算法,预测计算下一个扫频点的频率...
【专利技术属性】
技术研发人员:支超有,李霞,赵鹏,范军华,
申请(专利权)人:中国航空工业集团公司西安飞机设计研究所,
类型:发明
国别省市:陕西,61
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