本发明专利技术提供了一种多轴异形样品X射线荧光光谱分析装置，涉及X射线探测分析技术领域。其包括：样品室、设置在样品室内的第一移动机构、样品台、X射线发射器、探测器和摄像头；所述第一移动机构包括X轴移动机构、Y轴移动机构，所述样品台设置在所述X轴移动机构和所述Y轴移动机构上；所述样品台包括滑动平台、固设在所述滑动平台上的球铰座、凸轮机构、以及与所述球铰座铰接的样品座，所述凸轮机构包括固设在所述滑动平台上的电机、与所述电机的输出轴连接的凸轮以及与所述凸轮抵接配合滑轮件，所述滑轮件远离所述凸轮的一端连接至所述样品座。能够改变异形样品与X射线发射器的距离和角度，实现对异形样品多个维度的检测。
【技术实现步骤摘要】
一种多轴异形样品X射线荧光光谱分析装置
本专利技术涉及X射线探测分析领域，具体而言，涉及一种多轴异形样品X射线荧光光谱分析装置。
技术介绍
X射线荧光光谱仪是利用荧光X射线而进行物质成分分析的一种检测仪器，X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线)，激发被测样品，受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性，探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量，然后仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。目前市场上主流XRF仪器的基本结构为二维设计，X射线管被激发产生射线入射样品，继而产生样品荧光被探测器接收，再经谱处理分析，得到测试结果。在使用过程中需要将样品制备成平面状的标准样品，然后进行测定。而对于有些不能被破坏的异形样品，例如矿石等，则无法进行检测，极大限制了X射线荧光光谱仪的应用。有鉴于此，专利技术人在研究了现有的技术后特提出本申请。
技术实现思路
本专利技术提供了一种多轴异形样品X射线荧光光谱分析装置，旨在改善X射线荧光光谱仪在异形样品检测中受限的问题。为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种多轴异形样品X射线荧光光谱分析装置，包括：样品室、设置在样品室内的第一移动机构、样品台、X射线发射器、探测器和摄像头；所述第一移动机构包括X轴移动机构、Y轴移动机构，所述样品台设置在所述X轴移动机构和所述Y轴移动机构上，且分别通过X轴移动机构、Y轴移动机构沿X轴移动或沿Y轴移动；所述样品台包括滑动平台、固设在所述滑动平台上的球铰座、凸轮机构、以及与所述球铰座铰接的样品座，所述凸轮机构包括固设在所述滑动平台上的电机、与所述电机的输出轴连接的凸轮以及与所述凸轮抵接配合滑轮件，所述滑轮件远离所述凸轮的一端连接至所述样品座。作为进一步优化，所述样品座上转动连接有样品盒，所述样品盒包括转动座和固定在所述转动座上的盒体，所述转动座呈倒T型，所述样品座开设有与所述转动座相适配的倒T型槽，所述转动座可转动地嵌设在所述倒T型槽中。作为进一步优化，所述滑动平台上还设有用于推动所述转动座相对所述样品座转动的旋转动力件，所述旋转动力件包括齿轮和驱动齿轮转动的电机，所述转动座周设有与所述齿轮啮合的齿圈。作为进一步优化，所述滑动平台与所述Y轴移动机构连接，所述Y轴移动机构驱动所述滑动平台沿Y轴移动，所述Y轴移动机构与所述X轴移动机构连接，所述X轴移动机构驱动所述Y轴移动机构沿X轴移动。作为进一步优化，所述X轴移动机构包括两个沿X轴方向设置的X轴同步带、配置在所述X轴同步带上的X轴同步带轮以及驱动所述X轴同步带轮转动的第一步进电机，所述Y轴移动机构的两端分别与两个X轴同步带固定。作为进一步优化，所述Y轴移动机构包括连接座、设置在连接座上Y轴同步带、配置在所述Y轴同步带上的Y轴同步带轮以及驱动所述Y轴同步带轮转动的第二步进电机，所述滑动平台固定在所述Y轴同步带上。作为进一步优化，所述连接座上还设有Y轴导杆，所述Y轴导杆穿设在所述滑动平台内，与所述滑动平台滑动连接。作为进一步优化，还包括第二移动机构，所述第二移动机构设置在样品室的上方位置，包括仪器平台、上下十字交叉穿设在所述仪器平台上的X轴滑杆和Y轴滑杆、驱动所述X轴滑杆沿Y轴移动的第一丝杆组件以及驱动所述Y轴滑杆沿X轴移动的第二丝杆组件，所述仪器平台的承载面朝向所述样品台，且安装有所述X射线发射器、所述探测器和所述摄像头。作为进一步优化，所述样品座上可拆卸地配置有翻转轨道，翻转轨道包括第一板体和第二板体，第一板体和第二板体均呈扭转状，第一板体从首端到末端，由竖向表面逐渐扭转成水平表面，相适应地，第二板体从首端到末端，由水平表面逐渐扭转成竖向表面。通过采用上述技术方案，本专利技术可以取得以下技术效果：通过设置X轴移动机构、Y轴移动机构，使得滑动平台能够在X轴和Y轴上移动，从而实现异形样品在两个维度上的位置调整。同时，滑动平台上安装有球铰座，设置在球铰上的样品座能够在凸轮机构的驱动下，实现对盒体的抬高和升降，从而改变异形样品与X射线发射器的距离和角度，实现对异形样品某个异形面的检测。此外，由于样品座设置为球座连接的形式，使得样品座能够在360°的方向上任意旋转，实现对异形样品的多角度调整和检测。相比于调整X射线发射器等检测器件的位置，只对样品的位置进行调整，能够减少检测器件因为移动造成的晃动对检测结果的影响，提高检测精度。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施方式的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1是本专利技术实施例1的多轴异形样品X射线荧光光谱分析装置的结构示意图；图2是本专利技术实施例1的角度调节件的结构示意图；图3是本专利技术实施例1的第一移动机构的机构示意图；图4是本专利技术实施例1的样品台的结构示意图；图5是图4中凸轮组件的结构示意图；图6是本专利技术实施例1的样品盒的结构示意图；图7是本专利技术实施例1的翻转轨道的结构示意图；图8是本专利技术实施例1的第二移动机构的结构示意图；图9是本专利技术实施例2的样品台的结构示意图。具体实施方式为使本专利技术实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施方式中的附图，对本专利技术实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式是本专利技术一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本专利技术中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本专利技术保护的范围。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施方式的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施方式。基于本专利技术中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本专利技术保护的范围。在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本专利技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术中的本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种多轴异形样品X射线荧光光谱分析装置，其特征在于，包括：样品室、设置在样品室内的第一移动机构、样品台、X射线发射器、探测器和摄像头；所述第一移动机构包括X轴移动机构、Y轴移动机构，所述样品台设置在所述X轴移动机构和所述Y轴移动机构上，且分别通过X轴移动机构、Y轴移动机构沿X轴移动或沿Y轴移动；所述样品台包括滑动平台、固设在所述滑动平台上的球铰座、凸轮机构、以及与所述球铰座铰接的样品座，所述凸轮机构包括固设在所述滑动平台上的电机、与所述电机的输出轴连接的凸轮以及与所述凸轮抵接配合的滑轮件，所述滑轮件远离所述凸轮的一端连接至所述样品座。
【技术特征摘要】
1.一种多轴异形样品X射线荧光光谱分析装置，其特征在于，包括：样品室、设置在样品室内的第一移动机构、样品台、X射线发射器、探测器和摄像头；所述第一移动机构包括X轴移动机构、Y轴移动机构，所述样品台设置在所述X轴移动机构和所述Y轴移动机构上，且分别通过X轴移动机构、Y轴移动机构沿X轴移动或沿Y轴移动；所述样品台包括滑动平台、固设在所述滑动平台上的球铰座、凸轮机构、以及与所述球铰座铰接的样品座，所述凸轮机构包括固设在所述滑动平台上的电机、与所述电机的输出轴连接的凸轮以及与所述凸轮抵接配合的滑轮件，所述滑轮件远离所述凸轮的一端连接至所述样品座。2.根据权利要求1所述的多轴异形样品X射线荧光光谱分析装置,其特征在于,所述样品座上转动连接有样品盒，所述样品盒包括转动座和固定在所述转动座上的盒体，所述转动座呈倒T型，所述样品座开设有与所述转动座相适配的倒T型槽，所述转动座可转动地嵌设在所述倒T型槽中。3.根据权利要求2所述的多轴异形样品X射线荧光光谱分析装置,其特征在于,所述滑动平台上还设有用于推动所述转动座相对所述样品座转动的旋转动力件，所述旋转动力件包括齿轮和驱动齿轮转动的电机，所述转动座周设有与所述齿轮啮合的齿圈。4.根据权利要求1所述的多轴异形样品X射线荧光光谱分析装置,其特征在于,所述滑动平台与所述Y轴移动机构连接，所述Y轴移动机构驱动所述滑动平台沿Y轴移动，所述Y轴移动机构与所述X轴移动机构连接，所述X轴移动机构驱动所述Y轴移动机构沿X轴移动。5.根据权利要求4所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：王清亚，李福生，汤彬，张丽娇，张焱，张雄杰，
申请(专利权)人：东华理工大学，
类型：发明
国别省市：江西,36
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