The invention provides an optical scanning device and an electronic imaging device, including a light source; an optical deflector; an imaging optical system for guiding the deflected beam of an optical deflector to the scanned surface for imaging; an imaging optical system includes: fc/fs < 0.6, X1 X1c > 0, X2 X2c > 0 F theta lens in which FC is the ftheta coefficient of the F theta lens; and FS is the focal point of the F theta lens. Point distance; X1 is the distance between the projection of any incident point on the main optical axis and the scanning origin; X2 is the distance between the projection of any exit point on the main optical axis and the scanning origin; X1c is the distance between the central incident point and the scanning origin; X2c is the distance between the central exit point and the scanning origin, thus reducing the possibility of image distortion and deterioration of linear scanning performance. At the same time, it improves the accuracy of scanning and imaging, and improves the quality of the image.
【技术实现步骤摘要】
光学扫描设备和电子成像装置
本专利技术涉及光学扫描技术,尤其涉及一种光学扫描设备和电子成像装置。
技术介绍
光学扫描设备广泛应用于打印成像、图文复印、激光打码及医学影像等图像形成领域中。例如在记录介质上形成图像的打印机或复印机产品中,使用光学扫描设备在感光鼓的被扫描面上扫描形成静电潜像,在进行显像处理后转印至纸面实现打印或复印。而光学扫描设备对整体产品的体积影响较大,因此需要减短光路以减小光学扫描设备的体积,从而减小整体产品的体积。现有的光学扫描设备,通常用F-θ透镜作为成像光学系统,并通过缩短光学偏转器与成像光学系统之间的距离,改变透镜系统的折射率和表面曲率等方式来缩短光路。但是。现有的光学扫描设备小型化方式容易导致图像畸变、线性扫描性能恶化等问题。因此现有的光学扫描设备在小型化后的画像质量不高。
技术实现思路
本专利技术提供一种光学扫描设备和电子成像装置,降低了图像畸变和线性扫描性能恶化的可能性,在实现体积小型化的同时提高了扫描成像的准确性,提高了成像质量。根据本专利技术的第一方面,提供一种光学扫描设备,包括:光源,用于发射光束;第一光学单元,用于使所述光源发出的光束在主扫描方向上准直和在副扫描方向上聚焦;光学偏转器,用于偏转所述第一光学单元出射的光束;成像光学系统,用于将所述光学偏转器偏转的光束引导至被扫描面上成像;所述成像光学系统是F-θ透镜,所述F-θ透镜接受从所述光学偏转器出射的偏转光的表面有效区域为入射表面,所述F-θ透镜的出射形成扫描光的表面有效区域为出射表面;入射到所述光学偏转器的所述光束所在的直线与所述F-θ透镜的主光轴的交点为扫描原点;所 ...
【技术保护点】
1.一种光学扫描设备,包括:光源,用于发射光束;第一光学单元,用于使所述光源发出的光束在主扫描方向上准直和在副扫描方向上聚焦;光学偏转器,用于偏转所述第一光学单元出射的光束;成像光学系统,用于将所述光学偏转器偏转的光束引导至被扫描面上成像;其特征在于,所述成像光学系统包括F‑θ透镜,所述F‑θ透镜接受从所述光学偏转器出射的偏转光的表面有效区域为入射表面,所述F‑θ透镜的出射形成扫描光的表面有效区域为出射表面;入射到所述光学偏转器的所述光束所在的直线与所述F‑θ透镜的主光轴的交点为扫描原点;所述光束与F‑θ透镜的入射表面上的交点为入射点,所述F‑θ透镜的入射表面与所述主光轴相交的点为中心入射点;所述光束与F‑θ透镜的出射表面上的交点为出射点,所述F‑θ透镜的出射表面与主光轴相交的点为中心出射点,所述F‑θ透镜满足如下公式一、公式二和公式三:fc/fs≤0.6 公式一,X1‑X1c>0 公式二,X2‑X2c>0 公式三;其中,fc为所述F‑θ透镜的fθ系数;fs为所述F‑θ透镜的焦点距离;X1为任一所述入射点在所述主光轴上投影与所述扫描原点之间的距离;X2为任一所述出射点在所述主光轴 ...
【技术特征摘要】
1.一种光学扫描设备,包括:光源,用于发射光束;第一光学单元,用于使所述光源发出的光束在主扫描方向上准直和在副扫描方向上聚焦;光学偏转器,用于偏转所述第一光学单元出射的光束;成像光学系统,用于将所述光学偏转器偏转的光束引导至被扫描面上成像;其特征在于,所述成像光学系统包括F-θ透镜,所述F-θ透镜接受从所述光学偏转器出射的偏转光的表面有效区域为入射表面,所述F-θ透镜的出射形成扫描光的表面有效区域为出射表面;入射到所述光学偏转器的所述光束所在的直线与所述F-θ透镜的主光轴的交点为扫描原点;所述光束与F-θ透镜的入射表面上的交点为入射点,所述F-θ透镜的入射表面与所述主光轴相交的点为中心入射点;所述光束与F-θ透镜的出射表面上的交点为出射点,所述F-θ透镜的出射表面与主光轴相交的点为中心出射点,所述F-θ透镜满足如下公式一、公式二和公式三:fc/fs≤0.6公式一,X1-X1c>0公式二,X2-X2c>0公式三;其中,fc为所述F-θ透镜的fθ系数;fs为所述F-θ透镜的焦点距离;X1为任一所述入射点在所述主光轴上投影与所述扫描原点之间的距离;X2为任一所述出射点在所述主光轴上投影与所述扫描原点之间的距离;X1c为所述中心入射点与所述扫描原点之间的距离;X2c为所述中心出射点与所述扫描原点之间的距离。2.根据权利要求1所述的光学扫描设备,其特征在于,所述入射表面上与所述主光轴距离最远的入射点为边缘入射点;所述F-θ透镜还满足如下公式四:0.5≤(X1max-X1c)/(X2c-X1c)≤0.6公式四,其中,X1max为所述边缘入射点在所述主光轴上投影与所述扫描原点之间的距离;所述出射表面上与所述主光轴距离最远的出射...
【专利技术属性】
技术研发人员:聂勇超,王超,
申请(专利权)人:珠海奔图电子有限公司,
类型:发明
国别省市:广东,44
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