微机电姿态测量元件批量测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术的微机电姿态测量元件批量测试装置涉及元件检测装置，目的是为了克服微机电姿态测量元件无法批量测试的问题，包括元件夹具，还包括电路连接板；元件夹具包括平行的电路连接板层和被测元件层，电路连接板层和被测元件层固定；电路连接板层上分布有多个电路连接板嵌槽，被测元件层上分布有多个被测元件嵌槽；电路连接板一一对应嵌入电路连接板嵌槽中；每个电路连接板上均设有导电弹簧针，导电弹簧针的伸缩端朝向对应的被测元件嵌槽、导电弹簧针的固定端固定在电路连接板上与元件调试装置电气连接；被测元件嵌槽用于嵌入被测元件。本实用新型专利技术能以高效率、高可靠性实现对微机电姿态测量元件的批量测试功能，避免了不必要的损坏，适用性强。

【技术实现步骤摘要】
微机电姿态测量元件批量测试装置
本技术涉及元件检测装置，具体涉及利用夹具进行元件批量检测的装置。
技术介绍
现阶段，微机电姿态测量元件已广泛应用各种领域，随着技术的不断发展和进步，对于微机电姿态测量元件的需求不断增加。微机电姿态测量元件在制造后使用之前，需要通过一系列的测试与标定过程，对其固有误差进行补偿，实现提高测量精度的目的。但是，现阶段微机电姿态测量元件的测试及标定仍以人工手动测试为主，这种测试方式一次只能对一个元件进行测试及标定，所需时间较长，且精度较低。这种测试方式效率过低，对于需求量日益增加的微机电姿态测量元件并不理想。而已经出现的自动测试方法也都以单片测试为主，效率提升并不明显。现在常见的测试方法增加了微机电姿态测量元件的生产成本，而未能够有效检测及标定的元件，在使用过程中可能存在隐患，增加了使用成本。而多数方法所需成本较高，对于单个制造成本相对较低的微机电姿态测量元件，其普及难度较大。
技术实现思路
本技术的目的是为了克服微机电姿态测量元件无法批量测试的问题，提供了一种微机电姿态测量元件批量测试装置。本技术的微机电姿态测量元件批量测试装置，包括元件夹具，还包括电路连接板；元件夹具包括平行的电路连接板层和被测元件层，电路连接板层和被测元件层固定；电路连接板层上分布有多个电路连接板嵌槽，被测元件层上分布有多个被测元件嵌槽，电路连接板嵌槽和被测元件嵌槽的位置对应且数量相等；电路连接板的数量小于等于电路连接板嵌槽的数量、且电路连接板一一对应嵌入电路连接板嵌槽中；每个电路连接板上均设有导电弹簧针，导电弹簧针的伸缩端朝向对应的被测元件嵌槽、导电弹簧针的固定端固定在电路连接板上与元件调试装置电气连接；被测元件嵌槽用于嵌入被测元件、令被测元件的引脚通过导电弹簧针与元件调试装置电气连接。本技术的有益效果是：本装置能以高效率、高可靠性实现对微机电姿态测量元件的批量测试功能，能够广泛应用到需要进行批量测试的微机电姿态测量元件上，具备以下优点：(1)采用导电弹簧针接触式连接方式与被测元件连接，避免了对被测元件不必要的损坏；(2)结构设计相对简单，电路连接板结构简洁且易于更换，测试过程中使用简单，适用性强；(3)整体方案简单，对于不同尺寸的微机电姿态测量元件以及不同数量的批量测试只需进行微调，就可实现同样的提高测试效率的目的，效率提高至少100％。总体来说，本装置设计结构简单，电路设计简洁，可靠性高，易于大规模生产，适合广泛应用，且对于不同大小规格的微机电姿态测量元件具有较好的普适性，能够在短时间内实现提高微机电姿态测量元件测试效率的目的。附图说明图1为本技术的微机电姿态测量元件批量测试装置的总体结构示意图；图2为本技术的微机电姿态测量元件批量测试装置的电路连接板层的结构示意图；图3为本技术的微机电姿态测量元件批量测试装置的被测元件层的结构示意图；图4为本技术的微机电姿态测量元件批量测试装置的的导线层的结构示意图；图5为本技术的微机电姿态测量元件批量测试装置的弹簧针层的结构示意图；图6为本技术的微机电姿态测量元件批量测试装置的上盖板的结构示意图；图7为本技术的微机电姿态测量元件批量测试装置的不包括电路连接板的组装结构示意图；图8为本技术的微机电姿态测量元件批量测试装置的电路连接板的结构示意图；图9为本技术的微机电姿态测量元件批量测试装置的电路连接板和电路连接板层的配合结构示意图；图10为本技术的微机电姿态测量元件批量测试装置的测试线缆的安装结构示意图；图11为本技术的微机电姿态测量元件批量测试装置的电路连接板的背部结构示意图；图12为本技术的微机电姿态测量元件批量测试装置的被测元件层与被测元件的组装结构示意图。具体实施方式具体实施方式一本技术的微机电姿态测量元件批量测试装置，包括元件夹具1和电路连接板2；元件夹具1包括平行的电路连接板层3和被测元件层4，电路连接板层3和被测元件层4的固定且具有间隔，该间隔为导电弹簧针7的固定端的长度；电路连接板层3上分布有多个电路连接板嵌槽5，被测元件层4上分布有多个被测元件嵌槽6，电路连接板嵌槽5和被测元件嵌槽6的位置对应且数量相等；电路连接板层3的主要目的是实现对电路连接板2的固定作用，该层板的厚度为3mm，与电路连接板2的厚度相同。因为如图2所示，元件夹具1可以用来实现对16个相同种类的微机电测量元件的批量测试，故在该电路连接板层3中预留了电路连接板嵌槽5，其大小尺寸与电路连接板2相同，将电路连接板2依次放入(可以不全部放入，根据需要来确定数量)电路连接板嵌槽5中即可实现对电路连接板2的固定目的。电路连接板2的数量小于等于电路连接板嵌槽5的数量、且电路连接板2一一对应嵌入电路连接板嵌槽5中；每个电路连接板2上均设有与被测元件10的引脚数量相等的导电弹簧针7，导电弹簧针7的伸缩端朝向对应的被测元件嵌槽6、导电弹簧针7的固定端固定在电路连接板2上与元件调试装置电气连接；本装置中，被测元件10指的是微机电姿态测量元件，本装置中，以测量具有16个引脚的微机电姿态测量元件为例。导电弹簧针7为柱状，上面带有弹性可伸缩的“针头”为伸缩端，柱状的不可伸缩的部分为固定端。电路连接板2的设计主要是避免被测元件10在测量过程中损坏，并且保证在整个测试过程中被测量元件的稳固连接，既确保被测元件10的供电稳定性以及数据传输稳定性。该电路连接板2采用导电弹簧针7作为与被测元件10的连接工具，使用时，只需将被测元件10的触点压在导电弹簧针7上，就可以实现电气连接的目的，通过这种方式既可以确保被测元件10连接的可靠性，又避免了对被测元件10的触点等造成影响，同时这种方法无需再对被测元件10进行处理。电路连接板2的主要作用是将测试线缆12与被测元件10电气连接，并使得被测元件10在测试过程中的损耗降到最低。如图8、图9和图11所示，假设进行测试的被测元件10共有16个引脚，通过电路连接板2，可以将引脚全部引出，方便测试中的接线以及调试，电路连接板的电路设计简单，成本低廉，通过电路连接板2的无损连接方式，使得被测元件10的测试成本降低，同时也保证了被测元件10在使用中的可靠性。传统的被测元件10连接方式多为焊接方式，通过将相应的线材焊在被测元件10相应的触点上，这种方法虽然可以保证连接的稳定性，但却会对被测元件10造成一定程度的损害，而且对于被测元件10，因为其具体芯片的个体差异等原因，在出厂前需要对各个元件都进行相应的标定与测试，此时，通过焊接方式连接显得过于繁琐，且会对元件造成一定程度的损害。如图3、图7和图11所示，被测元件层4中的被测元件嵌槽6用于嵌入被测元件10、令被测元件10的引脚通过导电弹簧针7与元件调试装置电气连接。被测元件层4厚度为4mm，可以同时固定16个相同种类被测元件10，并使其触点与电路连接板2的导电弹簧针7一一电气连接，该被测元件层4的厚度考虑到被测元件10的厚度以及导电弹簧针7的伸缩长度，故其厚度略大于被测元件10厚度。具体实施方式二本具体实施方式二与具体实施方式一的区别在于，如图1、图4、图7和图10所示，元件夹具1于电路连接板层3的外侧面固定有导线层8，该导线层8上设有多条布线通道9、且导线层8的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.微机电姿态测量元件批量测试装置，包括元件夹具(1)，其特征在于，还包括电路连接板(2)；元件夹具(1)包括平行的电路连接板层(3)和被测元件层(4)，电路连接板层(3)和被测元件层(4)固定；电路连接板层(3)上分布有多个电路连接板嵌槽(5)，被测元件层(4)上分布有多个被测元件嵌槽(6)，电路连接板嵌槽(5)和被测元件嵌槽(6)的位置对应且数量相等；电路连接板(2)的数量小于等于电路连接板嵌槽(5)的数量、且电路连接板(2)一一对应嵌入电路连接板嵌槽(5)中；每个电路连接板(2)上均设有导电弹簧针(7)，导电弹簧针(7)的伸缩端朝向对应的被测元件嵌槽(6)、导电弹簧针(7)的固定端固定在电路连接板(2)上与元件调试装置电气连接；被测元件嵌槽(6)用于嵌入被测元件(10)、令被测元件(10)的引脚通过导电弹簧针(7)与元件调试装置电气连接。

【技术特征摘要】
1.微机电姿态测量元件批量测试装置，包括元件夹具(1)，其特征在于，还包括电路连接板(2)；元件夹具(1)包括平行的电路连接板层(3)和被测元件层(4)，电路连接板层(3)和被测元件层(4)固定；电路连接板层(3)上分布有多个电路连接板嵌槽(5)，被测元件层(4)上分布有多个被测元件嵌槽(6)，电路连接板嵌槽(5)和被测元件嵌槽(6)的位置对应且数量相等；电路连接板(2)的数量小于等于电路连接板嵌槽(5)的数量、且电路连接板(2)一一对应嵌入电路连接板嵌槽(5)中；每个电路连接板(2)上均设有导电弹簧针(7)，导电弹簧针(7)的伸缩端朝向对应的被测元件嵌槽(6)、导电弹簧针(7)的固定端固定在电路连接板(2)上与元件调试装置电气连接；被测元件嵌槽(6)用于嵌入被测元件(10)、令被测元件(10)的引脚通过导电弹簧针(7)与元件调试装置电气连接。2.根据权利要求1所述的微机电姿态测量元件批量测试装置，其特征在于，元件夹具(1)于电路连接板层(3)的外侧面固定有导线层(8)，该导线层(8)上设有多条布线通道(9)、...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙一为，伊国兴，魏振楠，王泽宇，李缘熹，
申请(专利权)人：哈尔滨工业大学，
类型：新型
国别省市：黑龙江,23