触控检测系统及其检测方法、触控装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种触控检测系统及其检测方法、触控装置，该触控检测系统包括：方波发生电路、频率检测模块和微处理器，其中，方波发生电路可根据待检测位置对应的触控驱动电极和触控感应电极之间的互电容生成相应频率的第一方波信号；频率检测模块检测第一方波信号的第一信号频率；微处理器根据第一信号频率判断待检测位置是否发生触控。本发明专利技术的技术方案可实现根据待检测位置的互电容直接检测出对应位置是否发生触控，该检测方案的检测精准度高，抗噪能力强。此外，本发明专利技术提供的触控检测系统还可实现对位于阻抗测量槽内的待检测物的阻抗的测量。

【技术实现步骤摘要】
触控检测系统及其检测方法、触控装置
本专利技术涉及触控检测领域，特别涉及一种触控检测系统及其检测方法、触控装置。
技术介绍
在现有技术中，通过检测互电容的变化来判断相应位置是否存在触控。在计算电容变化时，往往将电容变化转化为电压上的差异，并将差异放大，再通过模数转换电路转化为数字信号进行处理。然而，现有的这种互电容检测方法容易将噪声干扰同样放大，使得最终得到的数据精准不高，从而影响触控识别精准度。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种触控检测系统及其检测方法、触控装置。为实现上述目的，本专利技术提供了一种触控检测系统，用于检测触控面板上的触控位置，所述触控面板包括：交叉设置的若干个触控驱动电极和触控感应电极，所述触控检测系统包括：方波发生电路、频率检测模块和微处理器；所述方波发生电路与所述触控感应电极连接，所述方波发生电路用于在触控识别阶段时根据待检测位置对应的触控驱动电极和触控感应电极之间的互电容生成相应频率的第一方波信号；所述频率检测模块与所述方波生成模块连接，用于检测所述第一方波信号的第一信号频率；所述微处理器与所述频率检测模块连接，用于根据所述第一信号频率判断所述待检测位置是否发生触控。可选地，所述微处理器具体用于判断所述第一信号频率是否大于第一预设频率，若判断出所述第一信号频率大于第一预设频率值时，则判断出所述待检测位置发生触控；反之，则判断出所述待检测位置未发生触控。可选地，所述触控面板还包括：阻抗测量槽；所述方波发生电路与所述阻抗测量槽的第一端和第二端均连接，所述方波发生电路还用于在阻抗测量阶段时根据所述阻抗测量槽内待检测物的阻抗生成相应频率的第二方波信号；所述频率检测模块还用于检测所述第二方波信号的第二信号频率；所述微处理器还用于根据所述第二信号频率确定所述待检测物的阻抗。可选地，所述微处理器具体用于从预设对应关系表中查询出所述第二信号频率对应的待检测物的阻抗，所述预设对应关系表中存储有不同第二信号频率及其对应的待检测物的阻抗。可选地，所述方波发生电路包括：滞回比较器和阻容充放电路；所述滞回比较器的输出端与频率检测模块连接；所述阻容充放电路包括：第一电阻和第一电容；所述第一电阻的第一端与所述滞回比较器的输出端连接，所述第一电阻的第一端与所述滞回比较器的反相输入端连接；所述第一电容的第一端与所述滞回比较器的反相输入端连接，所述第二电容的第一端与第一电压输入端连接；所述触控感应电极与所述滞回比较器的反相输入端连接。可选地，当所述触控面板中包括阻抗测量槽时，所述阻抗测量槽的第一端与所述第一电阻的第一端连接；所述阻抗测量槽的第二端与所述第一电阻的第二端连接。可选地，所述阻抗测量槽的第二端与所述第一电阻的第二端之间设置有第一开关；所述触控感应电极与所述滞回比较器的反相输入端之间设置有第二开关。可选地，所述滞回比较器包括：比较器、第二电阻、第三电阻和第四电阻；所述第二电阻的第一端与第二电压输入端连接，所述第二电阻的第二端与所述比较器的同向输入端连接；所述第三电阻的第一端与第三电压输入端连接，所述第三电阻的第二端与所述比较器的同向输入端连接；所述第四电阻的第一端与所述比较器的输出端连接，所述第四电阻的第二端与所述比较器的同向输入端连接。为实现上述目的，本专利技术还提供了一种触控装置，包括：如上述的触控检测系统。为实现上述目的，本专利技术还提供了一种触控检测方法，所述触控检测方法基于上述的触控检测系统，所述触控检测方法包括：在触控识别阶段，所述方波发生电路根据待检测位置对应的触控驱动电极和触控感应电极之间的互电容生成相应频率的第一方波信号；所述频率检测模块检测所述第一方波信号的第一信号频率；所述微处理器根据所述第一信号频率判断所述待检测位置是否发生触控。可选地，所述触控检测方法还包括：在阻抗测量阶段时，所述方波发生电路根据所述阻抗测量槽内待检测物的阻抗生成相应频率的第二方波信号；所述频率检测模块检测所述第二方波信号的第二信号频率；所述微处理器根据所述第二信号频率确定所述待检测物的阻抗。本专利技术具有以下有益效果：本专利技术公开了一种触控检测系统及其检测方法、触控装置，该触控检测系统包括：方波发生电路、频率检测模块和微处理器，其中，方波发生电路可根据待检测位置对应的触控驱动电极和触控感应电极之间的互电容生成相应频率的第一方波信号；频率检测模块检测第一方波信号的第一信号频率；微处理器根据第一信号频率判断待检测位置是否发生触控。本专利技术的技术方案可实现根据待检测位置的互电容直接检测出对应位置是否发生触控，该检测方案的检测精准度高，抗噪能力强。此外，本专利技术提供的触控检测系统还可实现对位于阻抗测量槽内的待检测物的阻抗的测量。附图说明图1为本专利技术实施例一提供的一种触控检测系统的结构示意图；图2为图1中方波发生电路的结构示意图；图3为待检测位置发生触控和未发生触控时方波发生电路输出方波信号的比较示意图；图4为本专利技术实施例二提供的一种触控检测系统的结构示意图；图5为图4中方波发生电路的结构示意图；图6为阻抗测量槽内存在待检测物和不存在待检测物时方波发生电路输出方波信号的比较示意图；图7为本专利技术实施例四提供的一种触控检测方法的流程图。具体实施方式为使本领域的技术人员更好地理解本专利技术的技术方案，下面结合附图对本专利技术提供的一种触控检测系统及其检测方法、触控装置进行详细描述。图1为本专利技术实施例一提供的一种触控检测系统的结构示意图，图2为图1中方波发生电路的结构示意图，如图1和图2所示，该触控检测系统用于对触控面板上的触控位置进行检测，该触控面板为互电容式触控面板，具体包括交叉设置的若干个触控驱动电极TX和若干个触控感应电极RX。需要说明的是，本专利技术的技术方案对触控驱动电极TX和触控感应电极RX的结构、形状不作限定，其可采用现有技术中的任一种结构、形状，附图中触控驱动电极TX和触控感应电极RX均呈条状的情况仅起到示例性作用。本实施例提供的触控检测系统包括：方波发生电路1、频率检测模块2和微处理器3。方波发生电路1，与触控感应电极RX电连接，用于在触控识别阶段时根据待检测位置对应的触控驱动电极TX和触控感应电极RX之间的互电容C2生成相应频率的第一方波信号。具体地，方波发生电路1方波通过多路接收/输入电路与各触控感应电极RX连接，多路接收/输入电路具体包括：多路接收电路和多路输入电路，多路接收电路用于接收各触控感应电极RX中生成的触控感应信号，多路输入电路用于在时序控制控制器的控制下将接收到的各触控感应电极RX中的触控感应信号依次发送给方波发生电路1。本领域技术人员应该知晓的是，通过时序控制器可确定当前施加有触控驱动信号的触控驱动电极TX(当前被驱动的触控驱动电极TX)和当前输入至方波发生电路1的触控感应信号所对应的触控感应电极RX(当前检测的触控驱动电极TX)，从而可确定出当前的待检测位置的坐标信息。在触控识别阶段时，方波发生电路1可根据待检测位置的互电容C2大小生成相应频率的第一方波信号。可选地，方波发生电路1包括：滞回比较器和阻容充放电路，滞回比较器的输出端与频率检测模块2连接，阻容充放电路包括：第一电阻R1和第一电容C1，第一电阻R1的第一端与滞回比较器的输出端连接，第一电阻R1的第一端与滞回比较器的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种触控检测系统，其特征在于，用于检测触控面板上的触控位置，所述触控面板包括：交叉设置的若干个触控驱动电极和触控感应电极，所述触控检测系统包括：方波发生电路、频率检测模块和微处理器；所述方波发生电路与所述触控感应电极连接，所述方波发生电路用于在触控识别阶段时根据待检测位置对应的触控驱动电极和触控感应电极之间的互电容生成相应频率的第一方波信号；所述频率检测模块与所述方波生成模块连接，用于检测所述第一方波信号的第一信号频率；所述微处理器与所述频率检测模块连接，用于根据所述第一信号频率判断所述待检测位置是否发生触控。

【技术特征摘要】
1.一种触控检测系统，其特征在于，用于检测触控面板上的触控位置，所述触控面板包括：交叉设置的若干个触控驱动电极和触控感应电极，所述触控检测系统包括：方波发生电路、频率检测模块和微处理器；所述方波发生电路与所述触控感应电极连接，所述方波发生电路用于在触控识别阶段时根据待检测位置对应的触控驱动电极和触控感应电极之间的互电容生成相应频率的第一方波信号；所述频率检测模块与所述方波生成模块连接，用于检测所述第一方波信号的第一信号频率；所述微处理器与所述频率检测模块连接，用于根据所述第一信号频率判断所述待检测位置是否发生触控。2.根据权利要求1所述的触控检测系统，其特征在于，所述微处理器具体用于判断所述第一信号频率是否大于第一预设频率，若判断出所述第一信号频率大于第一预设频率值时，则判断出所述待检测位置发生触控；反之，则判断出所述待检测位置未发生触控。3.根据权利要求1所述的触控检测系统，其特征在于，所述触控面板还包括：阻抗测量槽；所述方波发生电路与所述阻抗测量槽的第一端和第二端均连接，所述方波发生电路还用于在阻抗测量阶段时根据所述阻抗测量槽内待检测物的阻抗生成相应频率的第二方波信号；所述频率检测模块还用于检测所述第二方波信号的第二信号频率；所述微处理器还用于根据所述第二信号频率确定所述待检测物的阻抗。4.根据权利要求3所述的触控检测系统，其特征在于，所述微处理器具体用于从预设对应关系表中查询出所述第二信号频率对应的待检测物的阻抗，所述预设对应关系表中存储有不同第二信号频率及其对应的待检测物的阻抗。5.根据权利要求1-4中任一所述的触控检测系统，其特征在于，所述方波发生电路包括：滞回比较器和阻容充放电路；所述滞回比较器的输出端与频率检测模块连接；所述阻容充放电路包括：第一电阻和第一电容；所述第一电阻的第一端与所述滞回比较器的输出端连接，所述第一电阻的第一端与所述滞回比较器的反相输入端连接；所述第一电容的第一端与所述滞回比较...

【专利技术属性】
技术研发人员：张衎，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，北京京东方显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11