一种检测方法技术

本申请适用于光学和电子技术领域，提供了一种检测方法，用于检测一光学投影模组内设置的部件是否破损。所述光学投影模组包括光源及设置在光源出射光路上的光学元件和保护盖板。所述检测方法包括如下步骤：在被测部件上形成导电图案；感测所述导电图案的电学特性的变化；及根据所感测到的导电图案的电学特性变化判断被测部件是否存在瑕疵。

【技术实现步骤摘要】
一种检测方法
本申请属于光学
，尤其涉及一种检测方法。
技术介绍
现有的三维(ThreeDimensional,3D)感测模组通常采用发射能量较集中的激光器作为光源来投射感测光图案，所以一旦设置在光源的出光侧用于形成投射光图案的光学元件出现破损的话，高能量的激光会直接照射到使用者的眼睛上造成损害。
技术实现思路
本申请所要解决的技术问题在于提供一种检测方法，可以检测出所述光学投影模组使用的光学元件是否完好而避免光源直接伤害到使用者眼睛。本申请实施方式提供一种检测方法，用于检测一光学投影模组内设置的部件是否破损。所述光学投影模组包括光源及设置在光源出射光路上的光学元件和保护盖板。所述检测方法包括如下步骤：在被测部件上形成导电图案；感测所述导电图案的电学特性的变化；及根据所感测到的导电图案的电学特性变化判断被测部件是否存在瑕疵。在某些实施方式中，所述根据感测到的导电图案的电学特性变化判断被测部件是否存在瑕疵的步骤包括：比较所感测的导电图案的电学特性与预设的被测部件完好情况下测得的所述导电图案的标准光学特性；及若所感测到的导电图案的电学特性与所述标准电学特性的差异值超出预设的误差范围，则判断被测部件存在瑕疵。在某些实施方式中，若所感测到的导电图案的电学特性与所述标准电学特性相同或差异值在预设的误差范围内，则判断被测部件为完好的。在某些实施方式中，还包括步骤：若所述被测部件被判断为存在瑕疵，则关闭所述光源或调低所述光源的发光能量。在某些实施方式中，所述导电图案为单独一条不相交的导电线路，形成在被测部件表面上。在某些实施方式中，若所述导电图案所在的表面为光路经过的表面，则所述导电图案由透明导电材料制成。若所述导电图案所在的表面不是光路经过的表面，则所述导电图案可由透明导电材料或非透明导电材料制成。在某些实施方式中，所述导电图案为周期性弯折的方波形图案，从被测部件表面的其中一端边缘弯折延展至所在表面的相对另一端边缘。在某些实施方式中，所述导电图案为在被测部件相对的两侧面上形成的电极膜层。所述电极膜层与被测部件构成电容结构。在某些实施方式中，所述电学特性包括导电图案所在的检测回路中的电流、电压、电阻、电容。在某些实施方式中，所述被测部件包括光学元件和/或保护盖板。本申请实施方式所提供的光学投影模组、感测装置及设备通过比对设置在被测部件的感测部件的电学特性的变化以方便地检测出光学投影模组所使用部件的完整度，从而防止光源从光学元件的瑕疵处透出而对使用者的眼睛造成伤害。本申请实施方式的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请实施方式的实践了解到。附图说明图1是本申请第一实施方式提供的检测单元的结构示意图。图2是图1中感测部图案的结构示意图。图3是本申请第二实施方式提供的检测单元的结构示意图。图4是本申请第三实施方式提供的光学投影模组的结构示意图。图5是图4中电路基板上的接点结构示意图。图6是本申请第四实施方式提供的感测装置的结构示意图。图7是本申请第五实施方式提供的设备的结构示意图。图8是本申请提供的一种检测方法的步骤流程图。具体实施方式下面详细描述本申请的实施方式，所述实施方式的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。在本申请的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”仅用于描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或排列顺序。由此，限定有“第一”、“第二”的技术特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述技术特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定或限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体化连接；可以是机械连接，也可以是电连接或相互通信；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件之间的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。下文的公开提供了许多不同的实施方式或示例用来实现本申请的不同结构。为了简化本申请的公开，下文仅对特定例子的部件和设定进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本申请。此外，本申请可以在不同例子中重复使用参考数字和/或参考字母，这种重复使用是为了简化和清楚地表述本申请，其本身不指示所讨论的各种实施方式和/或设定之间的特定关系。此外，本申请在下文描述中所提供的各种特定的工艺和材料仅为实现本申请技术方案的示例，但是本领域普通技术人员应该意识到本申请的技术方案也可以通过下文未描述的其他工艺和/或其他材料来实现。进一步地，所描述的特征、结构可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。在下文的描述中，提供许多具体细节以便能够充分理解本申请的实施方式。然而，本领域技术人员应意识到，即使没有所述特定细节中的一个或更多，或者采用其它的结构、组元等，也可以实践本申请的技术方案。在其它情况下，不详细示出或描述公知结构或者操作以避免模糊本申请之重点。如图1所示，本申请第一实施方式提供了一种检测单元1，用于检测一光学投影模组10的部件是否破损。所述光学投影模组10包括光源12、光学元件14及设置在光学元件14出光侧的保护盖板16。所述光源12发出的光束经过光学元件14的调制后形成具有特定功能的出射光束投射出去。所述光学元件14包括但不限于准直元件、扩束元件、微透镜阵列、光栅及衍射光学元件(DiffractiveOpticalElements,DOE)中的一种及其组合。在本实施方式中，所述光学投影模组10为用于感测被测目标物三维数据的三维感测装置。所述光束根据感测原理及应用场景可以为具有特定波长的光束。例如，可以为红外或近红外光，波长范围为750纳米(Nanometer,nm)至1650nm。所述检测单元1包括检测电路102及处理器104。所述检测电路102包括感测部101及连接部103。所述感测部101设置在光学投影模组10需要被检测的部件上以感测被测部件的状态变化。所述连接部103连接感测部101与处理器104以将感测信号传输至处理器104进行分析处理。所述处理器104与检测电路102的感测部101及连接部103相互连接以形成一检测回路。因所述检测电路102设置在所述被测部件上，所述被测部件的状态变化会引起检测回路中的电学特性随之变化。因此，所述处理器104通过分析检测回路的电学特性的变化可判断所述被测部件是否完好。所述被测部件可以是光学投影模组10中光束有经过的保护盖板16和/或光学元件14。所述电学特性包括但不限于检测回路中的电流、电压、电阻、电容等。在本实施方式中，所述感测部101形成在所述光学元件104的表面上，例如：所述DOE的表面上。所述处理器104根据所感测的检测回路中的电流以判断所述DOE是否完好。如图2所示，所述感测部101为形成在部件表面上呈预设图案分布的导电线路。所述感测部101的图案为单独一条不相交的导电线路，可覆盖被测部本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测方法，用于检测一光学投影模组内设置的部件是否破损，所述光学投影模组包括光源及设置在光源出射光路上的光学元件和保护盖板，所述检测方法包括如下步骤：在被测部件上形成导电图案；感测所述导电图案的电学特性的变化；及根据所感测到的导电图案的电学特性变化判断被测部件是否存在瑕疵。

【技术特征摘要】
1.一种检测方法，用于检测一光学投影模组内设置的部件是否破损，所述光学投影模组包括光源及设置在光源出射光路上的光学元件和保护盖板，所述检测方法包括如下步骤：在被测部件上形成导电图案；感测所述导电图案的电学特性的变化；及根据所感测到的导电图案的电学特性变化判断被测部件是否存在瑕疵。2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述根据感测到的导电图案的电学特性变化判断被测部件是否存在瑕疵的步骤包括：比较所感测的导电图案的电学特性与预设的被测部件完好情况下测得的所述导电图案的标准光学特性；及若所感测到的导电图案的电学特性与所述标准电学特性的差异值超出预设的误差范围，则判断被测部件存在瑕疵。3.如权利要求2所述的检测方法，其特征在于，若所感测到的导电图案的电学特性与所述标准电学特性相同或差异值在预设的误差范围内，则判断被测部件为完好的。4.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，还包括步骤：若所述被测部件被判断为存在瑕疵，则关闭...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡定云，
申请(专利权)人：深圳阜时科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44