【技术实现步骤摘要】
一种短波长X射线衍射测试样品的定位方法
本专利技术涉及X射线衍射检测技术，具体涉及一种短波长X射线衍射测试样品的定位方法。
技术介绍
中子衍射技术、高能同步辐射技术和短波长X射线衍射技术都可以用来检测材料工件内部残余应力、织构和物相等，其中，短波长X射线衍射技术是采用重金属靶X射线管发出的强穿透性特征X射线(如WKα、UKα、WKβ等)，利用入射准直器和接收准直器构成的平行光路(入射线和衍射线的交点为样品测试点的空间位置，即短波长X射线衍射仪圆的圆心)，无损测量衍射仪圆的圆心处物质的衍射强度和衍射谱。CN100485373C公开了一种短波长X射线衍射测量装置，包括X射线管、入射光阑、工作台、接收狭缝、测角仪、探测器、能量分析器，X射线管与探测器位于工作台及其上的被测工件两侧，采用短波长X射线衍射透射法对被测工件进行断层扫描测量；接收狭缝、探测器固定在测角仪上，同步绕以工作台上被测工件被测点为圆心转动，此被测点位于测角仪的转轴上；测角仪固定在一个平台上；工作台或固定在测角仪上，或固定于平台；X射线管或固定于测角仪上，或固定于平台上；入射光阑或固定于测角仪上，或固定于...
【技术保护点】
1.一种短波长X射线衍射测试样品的定位方法，其特征在于步骤如下：步骤1：将测试样品固定安装于短波长X射线衍射装置的样品台上；步骤2：选取测试样品某一测试部位作为基准点；步骤3：采用激光束照射或者采用测试穿透样品基准点的X射线透射强度分布的方法获取测试样品基准点的Y轴坐标YS；步骤4：采用激光束照射或者采用测试穿透样品基准点的X射线透射强度分布的方法获取测试样品基准点的Z轴坐标ZS；步骤5：采用测试穿透样品基准点的短波长X射线衍射强度分布的方法获取测试样品厚度方向基准点的X轴坐标XS；步骤6：根据步骤3、4和5中获取的测试样品基准点坐标XS、YS、ZS和测试样品的尺寸坐标关系...
【技术特征摘要】
2017.12.28 CN 20171146275341.一种短波长X射线衍射测试样品的定位方法，其特征在于步骤如下：步骤1：将测试样品固定安装于短波长X射线衍射装置的样品台上；步骤2：选取测试样品某一测试部位作为基准点；步骤3：采用激光束照射或者采用测试穿透样品基准点的X射线透射强度分布的方法获取测试样品基准点的Y轴坐标YS；步骤4：采用激光束照射或者采用测试穿透样品基准点的X射线透射强度分布的方法获取测试样品基准点的Z轴坐标ZS；步骤5：采用测试穿透样品基准点的短波长X射线衍射强度分布的方法获取测试样品厚度方向基准点的X轴坐标XS；步骤6：根据步骤3、4和5中获取的测试样品基准点坐标XS、YS、ZS和测试样品的尺寸坐标关系，计算确定测试样品其它待测部位的三维坐标，通过将样品台的X、Y、Z轴运动到计算确定的待测部位坐标处，从而将测试样品待测部位定位于短波长X射线衍射仪圆的圆心。2.如权利要求1所述的短波长X射线衍射测试样品的定位方法，其特征在于：采用激光束照射或者X射线透射测试样品获取测试样品基准点的坐标YS、ZS步骤包括：对于单层样品以及空心的同样壁厚样品基准点Y轴、Z轴坐标获取方法为：将样品装夹在样品台上，使被测试部位的表面法线与X射线入射方向平行，采用X轴方向指向衍射仪圆圆心的激光器进行定位，得到基准点的Y轴坐标YS、Z轴坐标ZS；对于壁厚不同的空心样品基准点Y轴、Z轴坐标获取方法为：先在样品台上装夹一块厚度均匀的平板，并使得该平板表面法线与X射线入射方向平行，调整X射线管的电压和电流，保证透射时X射线光子计数远小于探测器的饱和计数，然后在2θ＝0°附近扫描测量透射的X射线计数强度沿2θ分布的曲线，进行曲线拟合，计算确定最大透射强度的2θ角度位置2θ0，并将探测器置于2θ0；再取下平板，在样品台上装夹壁厚不同的空心样品，并使得被测试部位的表面法线与X射线入射方向平行；调整X射线管的电压和电流，Y轴扫描测量透射的X射线光子计数强度沿坐标Y的分布曲线，进行曲线的平滑拟合，根据分布曲线的变化，结合已知的厚度变化特征选取测试样品的基准点，确定测试样品基准点的Y轴坐标YS；将该样品在Y轴运动到YS处，Z轴扫描测量透射的X射线光子计数强度沿坐标Z的分布曲线，进行曲线的平滑拟合，根据分布曲线的变化，结合已知的厚度变化特征选取测试样品的基准点，确定测试样品基准点的Z轴坐标ZS。3.如权利要求2所述的短波长X射线衍射测试样品的定位方法，其特征在于：对于单层样品，采用测试穿透样品基...
【专利技术属性】
技术研发人员：窦世涛，郑林，肖勇，张津，何长光，张伦武，朱蕾，彭正坤，
申请(专利权)人：中国兵器工业第五九研究所，
类型：发明
国别省市：重庆,50
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